GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测

利用X射线DR成像技术对盆式绝缘子进行可视化无损检测,在不拆解和破坏GIS(气体绝缘全封闭组合电器)设备的情况下,实现了对盆式绝缘子的透照及缺陷检测;利用正交试验法找出了X射线机透照的最优参数设置,减少了试验次数,提高了试验效率。结果表明,X射线DR成像技术可以识别出盆式绝缘子的裂纹和气泡类缺陷。