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VMJ硅X-RAY探测器件的研究与参数测算
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作者 张治国 《泉州师范学院学报》 2001年第2期15-20,共6页
介绍VMJ器件的结构和结果,并对器件的各种参数进行了详细的测算,同时分析了工艺条件对器件性能的影响.对器件窗口材料的选择也作了讨论.
关键词 X射线 半导体 VMJ x-ray探测器件 无损检测 垂直多重PN结 硅 焊缝检测 参数测算
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