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X-ray Diffraction Line Profile Broadening of Fe_(50)Pd_(50) Alloy Ultrafine Particles
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作者 Jian CHEN Wenduo WEI +2 位作者 Mingchuan YANG Xiukui SUN Wenxiu CHEN and Zhuangqi HU (State Key Lab. of RSA, Institute of Metal Research, Chinese Academy Sciences, Shenyang, 110015, China) 《Journal of Materials Science & Technology》 SCIE EI CAS CSCD 1995年第6期435-439,共5页
The composition distribution in Fe50Pd50 alloy ultrafine particles prepared by inert gas condensation method was investigated in details by means of X-ray diffraction technique through deconvolution of the X-ray diffr... The composition distribution in Fe50Pd50 alloy ultrafine particles prepared by inert gas condensation method was investigated in details by means of X-ray diffraction technique through deconvolution of the X-ray diffraction data. The microscopic composition distribution in the alloy UFP was identified, which is caused by nonuniformity of the melt, fractional distillation during the evaporation process and statistical fluctuation during nucleation and coalescence of the alloy particles. The composition distribution affects the properties of the alloy UFP 展开更多
关键词 PD x-ray diffraction line profile Broadening of Fe Alloy Ultrafine Particles
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X-ray diffraction analysis of cold-worked Cu-Ni-Si and Cu-Ni-Si-Cr alloys by Rietveld method 被引量:3
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作者 A.KHEREDDINE F.HADJ LARBI +3 位作者 L.DJEBALA H.AZZEDDINE B.ALILI D.BRADAI 《Transactions of Nonferrous Metals Society of China》 SCIE EI CAS CSCD 2011年第3期482-487,共6页
Cold worked and annealed supersaturated Cu-2.65Ni-0.6Si and Cu-2.35Ni-0.6Si-0.6Cr alloys were studied. The microstructural parameters evolution, including crystallite size, root mean square strain and dislocation dens... Cold worked and annealed supersaturated Cu-2.65Ni-0.6Si and Cu-2.35Ni-0.6Si-0.6Cr alloys were studied. The microstructural parameters evolution, including crystallite size, root mean square strain and dislocation density was analyzed using Materials Analysis Using Diffraction software (MAUD). The parameters for both alloys have typical values of cold deformed and subsequently annealed copper based alloy. A net change of the crystallite size, root mean square strain and dislocation density values of the alloys aged at 450 °C for 2.5-3 h seems corresponding to the recovery and recrystallization processes. Addition of Cr as quaternary element did not lead to any drastic changes of post deformation or ageing microstructural parameters and hence of recovery-recrystallization kinetics. 展开更多
关键词 Cu-Ni-Si alloy microstructure XRD line profile analysis Materials analysis Using diffraction software
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X-ray peak profile analysis of dislocation type,density and crystallite size distribution in cold deformed Pb-Ca-Sn alloys 被引量:1
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作者 F.ABOUHILOU A.KHEREDDINE +1 位作者 B.ALILI D.BRADAI 《Transactions of Nonferrous Metals Society of China》 SCIE EI CAS CSCD 2012年第3期604-607,共4页
The density,nature of the dislocations and distribution of the domain sizes in cold-deformed Pb-Ca-Sn solid solution were determined by X-ray diffraction profile analysis.The dislocation densities are of the order of ... The density,nature of the dislocations and distribution of the domain sizes in cold-deformed Pb-Ca-Sn solid solution were determined by X-ray diffraction profile analysis.The dislocation densities are of the order of 1010 cm-2.The strain broadening of diffraction profiles was accounted for by dislocation contrast factor.The coherent domain size was determined by the recently developed PM2K software package.Assuming that the domain size distribution is log-normal,the distribution function(median μ and variance σ) was calculated from the size parameters determined from X-ray diffraction profile analysis. 展开更多
关键词 Pb-Ca-Sn alloy cold work x-ray diffraction profile analysis(XRDLPA) PM2K software
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Global optimum of microstructure parameters in the CMWP line-profile-analysis method by combining Marquardt-Levenberg and Monte-Carlo procedures 被引量:2
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作者 Gabor Ribarik Bertalan Joni Tamas Ungar 《Journal of Materials Science & Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2019年第7期1508-1514,共7页
Line profile analysis of X-ray and neutron diffraction patterns is a powerful tool for determining the microstructure of crystalline materials. The Convolutional-Multiple-Whole-Profile (CMWP) procedure is based on phy... Line profile analysis of X-ray and neutron diffraction patterns is a powerful tool for determining the microstructure of crystalline materials. The Convolutional-Multiple-Whole-Profile (CMWP) procedure is based on physical profile functions for dislocations, domain size, stacking faults and twin boundaries. Order dependence, strain anisotropy, hkl dependent broadening of planar defects and peak shape are used to separate the effect of different lattice defect types. The Marquardt-Levenberg (ML) numerical optimiza-tion procedure has been used successfully to determine crystal defect types and densities. However, in more complex cases like hexagonal materials or multiple phases the ML procedure alone reveals uncer-tainties. In a new approach the ML and a Monte-Carlo statistical method are combined in an alternative manner. The new CMWP procedure eliminates uncertainties and provides globally optimized parameters. 展开更多
关键词 x-ray line profile analysis Neutron line profile analysis CMWP Global optimum DISLOCATION DENSITIES GRAIN size Planar defects Monte-Carlo method
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化学镀Ni-P合金镀层相结构与硬度的研究 被引量:21
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作者 李吉学 国秀珍 《表面技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第1期6-9,共4页
借助 X- ray衍射 ,详细讨论了化学镀 Ni- P合金镀层的相结构、硬度与热处理温度之间的关系。应用 X- ray线形分析方法 ,对 Ni- P合金镀层的应力、位错密度、有效晶粒尺寸的大小进行了计算 ,并对其与随热处理温度的变化规律进行了分析。
关键词 化学镀 相结构 x-ray线形分析 镍磷合金 镀层
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多元变质处理对高锰钢微观结构与性能的影响 被引量:6
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作者 吴化 徐珊珊 《铸造》 CAS CSCD 北大核心 2008年第1期66-68,共3页
通过显微组织观察,X射线线形分析和性能测试,研究了多元变质处理对高锰钢微观结构和性能的影响。结果表明,多元变质处理可以显著细化高锰钢奥氏体晶粒和亚晶粒,增大其微观应变和位错密度;由于这几种强化机制的共同作用,致使高锰钢的硬... 通过显微组织观察,X射线线形分析和性能测试,研究了多元变质处理对高锰钢微观结构和性能的影响。结果表明,多元变质处理可以显著细化高锰钢奥氏体晶粒和亚晶粒,增大其微观应变和位错密度;由于这几种强化机制的共同作用,致使高锰钢的硬度、耐磨性及实际使用寿命都得到一定提高。 展开更多
关键词 高锰钢 多元变质 X射线线形分析 微观结构
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TiB_2/6351Al复合材料喷丸层再结晶过程的X射线衍射分析 被引量:2
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作者 栾卫志 姜传海 王浩伟 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2008年第6期671-674,共4页
利用X射线衍射线形分析方法,研究了TiB_2/635lAl和6351Al喷丸形变层的再结晶行为,并得到了两种材料不同温度下等温退火晶块尺寸和显微畸变的变化,通过回归分析,获得了晶块长大激活能和显微畸变松弛激活能,结果表明,两种材料的再结晶激... 利用X射线衍射线形分析方法,研究了TiB_2/635lAl和6351Al喷丸形变层的再结晶行为,并得到了两种材料不同温度下等温退火晶块尺寸和显微畸变的变化,通过回归分析,获得了晶块长大激活能和显微畸变松弛激活能,结果表明,两种材料的再结晶激活能均大于纯Al的自扩散激活能,并且复合材料的再结晶激活能略大于铝合金基体的再结晶激活能,增强体阻碍加热过程中晶界和亚晶界的运动影响了复合材料再结晶激活能的提高。 展开更多
关键词 TiB2/6351Al复合材料 喷丸 等温退火 再结晶激活能 X射线线形分析
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粉状石墨的X射线线形分析
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作者 徐跃 朱涛 郝兆印 《金刚石与磨料磨具工程》 CAS 2004年第2期75-77,共3页
采用X射线线形分析方法对经过两种不同化学方法和石墨化温度 (2 770K)处理的 4个粉状石墨 (1# 至 4# )试样进行了分析计算 ,计算结果显示这 4个粉状石墨试样的晶粒尺寸基本保持不变 ,微观应变增加 ,位错密度减小。对石墨化过程结构的变... 采用X射线线形分析方法对经过两种不同化学方法和石墨化温度 (2 770K)处理的 4个粉状石墨 (1# 至 4# )试样进行了分析计算 ,计算结果显示这 4个粉状石墨试样的晶粒尺寸基本保持不变 ,微观应变增加 ,位错密度减小。对石墨化过程结构的变化机制进行了分析。 展开更多
关键词 粉状石墨 X射线线形分析 微观应变 合成 金刚石
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X射线衍射线形宽化时点阵参数精确测定的解卷积法
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作者 梁志德 田鹏 刘刚 《理化检验(物理分册)》 CAS 2002年第6期249-250,270,共3页
证明了在X射线衍射线形分析中如以标样衍射线形 g(x)的kα1峰位为坐标原点O解卷 ,则解得的宽化函数 f(x)的峰位恰与试样相应衍射线中kα1的位置相同。据此 ,提出一解卷积法。方法是在解卷后将标样的已准确测知kα1峰位的Bragg角 2θg ... 证明了在X射线衍射线形分析中如以标样衍射线形 g(x)的kα1峰位为坐标原点O解卷 ,则解得的宽化函数 f(x)的峰位恰与试样相应衍射线中kα1的位置相同。据此 ,提出一解卷积法。方法是在解卷后将标样的已准确测知kα1峰位的Bragg角 2θg 值加上 f(x)的峰位值即得出试样相应衍射线形中kα1的准确Bragg角 2θh。 展开更多
关键词 线形宽化 精确测定 X射线衍射 线形分析 点阵参数 解卷积法 金属材料 晶体分析
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铜薄膜微结构的X射线衍射线形分析
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作者 龙梦龙 庞娜 陈冷 《理化检验(物理分册)》 CAS 2012年第8期508-511,共4页
首先采用真空蒸镀法制备了不同厚度的铜薄膜,并对薄膜进行了退火处理;然后用X射线衍射仪测定铜薄膜的衍射谱,最后采用线形分析法对衍射谱进行计算,得到了不同厚度铜薄膜退火前后的晶粒尺寸和微应变。结果表明:真空蒸镀铜薄膜晶粒尺寸随... 首先采用真空蒸镀法制备了不同厚度的铜薄膜,并对薄膜进行了退火处理;然后用X射线衍射仪测定铜薄膜的衍射谱,最后采用线形分析法对衍射谱进行计算,得到了不同厚度铜薄膜退火前后的晶粒尺寸和微应变。结果表明:真空蒸镀铜薄膜晶粒尺寸随薄膜厚度的增加而增大,微应变随薄膜厚度的增加而减小;退火处理后薄膜晶粒明显长大,薄膜微应变在退火处理后明显减小。 展开更多
关键词 铜薄膜 X射线衍射线形分析 晶粒尺寸 微应变
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用XRD线形分析法表征TiC粉体中的镶嵌尺寸与晶格畸变 被引量:2
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作者 陈霞 李晨辉 《硬质合金》 CAS 北大核心 2009年第2期106-109,共4页
采用XRD线形分析(双Voigt函数)法对球磨行星96h的TiC粉和纳米TiC粉中的镶嵌尺寸和晶格畸变进行了对比分析和表征,并采用TEM法印证。研究结果表明,球磨粉的平均镶嵌尺寸大约为纳米粉的40%,而球磨粉的平均晶格畸变大约为纳米粉的5倍。TEM... 采用XRD线形分析(双Voigt函数)法对球磨行星96h的TiC粉和纳米TiC粉中的镶嵌尺寸和晶格畸变进行了对比分析和表征,并采用TEM法印证。研究结果表明,球磨粉的平均镶嵌尺寸大约为纳米粉的40%,而球磨粉的平均晶格畸变大约为纳米粉的5倍。TEM的分析结果与XRD表征结果相吻合。 展开更多
关键词 X射线衍射线形分析 镶嵌尺寸 晶格畸变
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