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Intensity correlation properties of x-ray beams split with Laue diffraction
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作者 赵昌哲 司尚禹 +3 位作者 张海鹏 薛莲 李中亮 肖体乔 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2024年第1期379-383,共5页
Beam splitting is one of the main approaches to achieving x-ray ghost imaging, and the intensity correlation between diffraction beam and transmission beam will directly affect the imaging quality. In this paper, we i... Beam splitting is one of the main approaches to achieving x-ray ghost imaging, and the intensity correlation between diffraction beam and transmission beam will directly affect the imaging quality. In this paper, we investigate the intensity correlation between the split x-ray beams by Laue diffraction of stress-free crystal. The analysis based on the dynamical theory of x-ray diffraction indicates that the spatial resolution of diffraction image and transmission image are reduced due to the position shift of the exit beam. In the experimental setup, a stress-free crystal with a thickness of hundredmicrometers-level is used for beam splitting. The crystal is in a non-dispersive configuration equipped with a double-crystal monochromator to ensure that the dimension of the diffraction beam and transmission beam are consistent. A correlation coefficient of 0.92 is achieved experimentally and the high signal-to-noise ratio of the x-ray ghost imaging is anticipated.Results of this paper demonstrate that the developed beam splitter of Laue crystal has the potential in the efficient data acquisition of x-ray ghost imaging. 展开更多
关键词 x-ray ghost imaging beam splitting with Laue diffraction intensity correlation dynamical theory of x-ray diffraction
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MULTI-PEAK MATCH INTENSITY RATIO METHOD OF QUANTI-TATIVE X-RAY DIFFRACTION PHASE ANALYSIS 被引量:5
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作者 G. Chu, Y.F. Cong and H.J. YouResearch Center of Analysis and Test, Liaoning University of Petroleum & Chemical Technology, Fushun 113001, China 《Acta Metallurgica Sinica(English Letters)》 SCIE EI CAS CSCD 2003年第6期489-494,共6页
A new method for quantitative phase analysis is proposed by using X-ray diffraction multi-peak match intensity ratio. This method can obtain the multi-peak match intensity ratio among each phase in the mixture sample ... A new method for quantitative phase analysis is proposed by using X-ray diffraction multi-peak match intensity ratio. This method can obtain the multi-peak match intensity ratio among each phase in the mixture sample by using all diffraction peak data in the mixture sample X-ray diffraction spectrum and combining the relative intensity distribution data of each phase standard peak in JCPDS card to carry on the least square method regression analysis. It is benefit to improve the precision of quantitative phase analysis that the given single line ratio which is usually adopted is taken the place of the multi-peak match intensity ratio and is used in X-ray diffraction quantitative phase analysis of the mixture sample. By analyzing four-group mixture sample, adopting multi-peak match intensity ratio and X-ray diffraction quantitative phase analysis principle of combining the adiabatic and matrix flushing method, it is tested that the experimental results are identical with theory. 展开更多
关键词 x-ray diffraction multi-peak match intensity ratio quantitative phase analysis
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Investigation of Peak Separation for X-ray Diffraction Profiles of Spinodal Decomposition by a Kind of Optimized Voigt Function 被引量:2
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作者 LiudingWANG JunqiangZHOU +1 位作者 QuanxiCAO ZhaoCHEN 《Journal of Materials Science & Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2003年第4期371-373,共3页
The intensity and position of sidebands (satellites) on both sides of main diffraction peak in a great number of X-ray diffraction profiles of alloys always change with progress of aging. The sidebands position is det... The intensity and position of sidebands (satellites) on both sides of main diffraction peak in a great number of X-ray diffraction profiles of alloys always change with progress of aging. The sidebands position is determined by a newly optimized Voigt function in present investigation. Furthermore, for Cu-4 wt pet Ti alloy aged at 400℃ for 720 min and 1080 min, after introducing the weight factor of above two satellites intensity, the relative error between the fitting curves and X-ray diffraction profiles is less than 0.185%, which is more precise than the previously calculating result. 展开更多
关键词 x-ray diffraction diffraction profile peak separation Voigt function
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Microfibril angle variability in Masson Pine (Pinus massoniana Lamb.) using X-ray diffraction 被引量:1
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作者 Zhang Bo Fei Ben-hua +1 位作者 Yu Yan Zhao Rong-jun 《Forestry Studies in China》 CAS 2007年第1期33-38,共6页
The microfibril angle of fiber walls is an ultra-mieroscopic feature affecting the performance of wood products. It is therefore essential to get more definitive information to improve selection and utilization. X-ray... The microfibril angle of fiber walls is an ultra-mieroscopic feature affecting the performance of wood products. It is therefore essential to get more definitive information to improve selection and utilization. X-ray diffraction is a rapid method for measuring microfibril angles. In this paper, the variability of microfibril angle in plantation-grown Masson pine was investigated by peak-fitting method. This method was compared with the traditional hand-drawn method, 40% peak height method and half peak height method. X-ray diffraction measurements indicated that the microfibril angle changed as a function of the position in the tree. The mean microfibril angle decreased more gradually as the distance increased from the pith and reached the same level in mature wood. The microfibril angle also seemed to decrease clearly from the base upward. Differences of angle-intensity curves between heartwood and sapwood were also examined. 展开更多
关键词 x-ray diffraction microfibril angle peak-fitting method half peak height method Masson pine
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A METHOD FOR CORRECTING INTENSITY IN CONTINU-OUS SCANNING X-RAY STRESS MEASUREMENT
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作者 LI Jiabao HANG Zengqiao National Laboratory for Fatigue and Fracture of Materials,Institute of Metal Research,Academia Simca.Shenyang,China HE Jiawen Xi’an Jiaotong University,Xi’an,China 《Acta Metallurgica Sinica(English Letters)》 SCIE EI CAS CSCD 1992年第12期457-461,共5页
A set of absorption curves was priorly prepared on transparent films to fit the background and peak intensities in continuous scanning X-ray stress measurement.It may be better to correct both background and absorptio... A set of absorption curves was priorly prepared on transparent films to fit the background and peak intensities in continuous scanning X-ray stress measurement.It may be better to correct both background and absorption of pure diffraction intensity.Experimental results revealed this to be a reliable correction method. 展开更多
关键词 x-ray diffraction stress measurement intensity correction peak location
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X-ray Comparative Analysis of Rhubarb in Different Production Areas of Qinghai 被引量:1
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作者 王宁芳 拉本 《Agricultural Science & Technology》 CAS 2009年第6期119-120,124,共3页
[Objective] The aim of this study was to provide a basis for distinguishing quality of rhubarb in different production areas. [Method ] X-ray diffraction patterns of rhubarbs in different production areas of Qinghai w... [Objective] The aim of this study was to provide a basis for distinguishing quality of rhubarb in different production areas. [Method ] X-ray diffraction patterns of rhubarbs in different production areas of Qinghai were obtained by X-ray diffraction analysis, and then its similarity analysis was also investigated. [ Result] The content of chemical components in rhubarbs from different production areas had differences, but its diffraction patterns and diffraction peaks had certain fingerprint characteristics. [ Conclusion] X-ray diffraction method is a fast and effective method for identifying rhubarb and other Chinese herbal medicines in different production areas. 展开更多
关键词 RHUBARB x-ray diffraction map diffraction peak Fingerprint characteristics
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X射线衍射多谱峰匹配强度比定量相分析方法 被引量:13
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作者 储刚 翟秀静 +1 位作者 符岩 毕诗文 《分析测试学报》 CAS CSCD 北大核心 2004年第1期48-51,共4页
提出了1种采用X射线衍射多谱峰匹配强度比进行定量相分析的新方法 ;该法是利用混合物样品X射线衍射谱图中的多谱峰数据 ,结合ICDD卡中的各相标准谱峰的相对强度分布数据进行最小二乘法回归分析 ,求得混合物样品中各相间的多谱峰匹配强度... 提出了1种采用X射线衍射多谱峰匹配强度比进行定量相分析的新方法 ;该法是利用混合物样品X射线衍射谱图中的多谱峰数据 ,结合ICDD卡中的各相标准谱峰的相对强度分布数据进行最小二乘法回归分析 ,求得混合物样品中各相间的多谱峰匹配强度比 ;以多谱峰匹配强度比取代通常采用的特定单一谱线强度比 ,用于混合物样品的X射线衍射定量相分析 ,有利于提高定量相分析的精度 ;采用多谱峰匹配强度比结合绝热法和基体清洗法X射线衍射定量相分析原理 ,通过对4组分混合物样品的分析 ,证实实验结果和理论完全一致。 展开更多
关键词 X射线衍射 多谱峰匹配强度比 定量相分析 混合物样品 晶相
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XRD法研究水泥水化反应速度 被引量:17
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作者 杨淑珍 宋汉唐 谢荣 《分析测试学报》 CAS CSCD 1996年第5期73-76,共4页
本实验采用X射线衍射(XRD)的常规物相分析法,以物相的衍射强度与多个主峰峰强和半高宽乘积之和成正比的原理,测定了同种水泥水化反应的速度,并与热导式微热量热法进行比较,证实采用XRD法测定水泥水化反应速度具有简单、快... 本实验采用X射线衍射(XRD)的常规物相分析法,以物相的衍射强度与多个主峰峰强和半高宽乘积之和成正比的原理,测定了同种水泥水化反应的速度,并与热导式微热量热法进行比较,证实采用XRD法测定水泥水化反应速度具有简单、快速和实用的特点。 展开更多
关键词 衍射强度 水化反应速度 X射线衍射 水泥
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填样深度对多晶粉末X射线衍射仪测试结果的影响研究 被引量:6
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作者 程国峰 杨传铮 张健 《分析测试学报》 CAS CSCD 北大核心 2009年第3期342-344,348,共4页
从理论和实验两个角度研究了填样深度对多晶粉末X射线衍射仪中实验结果——峰位、半高宽(FWHM)、衍射强度的影响。结果表明,在对称反射几何情况下,金属及其合金样品填样深度效应可以忽略,填样深度在0.2~0.5mm范围内能满足无穷厚度要求... 从理论和实验两个角度研究了填样深度对多晶粉末X射线衍射仪中实验结果——峰位、半高宽(FWHM)、衍射强度的影响。结果表明,在对称反射几何情况下,金属及其合金样品填样深度效应可以忽略,填样深度在0.2~0.5mm范围内能满足无穷厚度要求;对于绝大多数有机样品填样深度应不小于1.5mm。 展开更多
关键词 填样深度 多晶粉末 X射线衍射仪 峰位 半高宽 衍射强度
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BaO-PbO-Nd_2O_3-Bi_2O_3-TiO_2系物相组成与介电性能关系的研究 被引量:8
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作者 袁廷志 吴霞宛 +1 位作者 李玲霞 王洪儒 《硅酸盐通报》 CAS CSCD 2002年第6期36-40,共5页
以五元系统BaO PbO Nd2 O3 Bi2 O3 TiO2 为研究对象探讨化合物相与介电性能的定量关系。系统的主次晶相分别为BaNd2 Ti5O14 和Bi4 Ti3O12 。对系统进行X射线分析 ,用X射线衍射峰强度计算出系统中各物相的体积分数 ,再运用李赫德涅凯对... 以五元系统BaO PbO Nd2 O3 Bi2 O3 TiO2 为研究对象探讨化合物相与介电性能的定量关系。系统的主次晶相分别为BaNd2 Ti5O14 和Bi4 Ti3O12 。对系统进行X射线分析 ,用X射线衍射峰强度计算出系统中各物相的体积分数 ,再运用李赫德涅凯对数混合定则进行定量计算 ,得出的系统的介电性能与用仪器实测的系统参数相符。在本研究系统中 ,X衍射射线分析可以测定和定量表征烧结介质瓷中化合物含量 ,经过对系统中各化合物成分的介电性能测定 ,可计算出所研究系统的介电性能 ,从而可以作为一种介质的设计方法。本系统主要是BaO PbO Nd2 O3 Bi2 O3 TiO2 系。Nd和Bi对Ba的取代是异价取代 ,故能准确定量测出和算出其化合物的含量。Pb和Ba是等价取代 ,其化合物的含量可用X射线衍射等方法测出 ,在本系统中因其加入量小 。 展开更多
关键词 X射线衍射峰强度 陶瓷系统 BaO-PbO-Nd2O3-Bi2O3-TiO2系 物相 组成 介电性能 研究
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高频介质系统介电性能与相组成的定量关系分析 被引量:1
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作者 李玲霞 吴霞宛 +2 位作者 王洪儒 张志萍 余昊明 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2004年第4期396-399,共4页
采用普通电子陶瓷工艺制备两种高频介质系统ZnO-B2O3-SiO2三元系和Bao-Pbo-Nd2O3-Bi2O3-TiO2五元系,通过XRD分析确定各系统的主晶相,运用衍射峰强度计算法准确测定出各组分的体积百分含量,并代入Lichnetecker对数混合定则,计算出系统的... 采用普通电子陶瓷工艺制备两种高频介质系统ZnO-B2O3-SiO2三元系和Bao-Pbo-Nd2O3-Bi2O3-TiO2五元系,通过XRD分析确定各系统的主晶相,运用衍射峰强度计算法准确测定出各组分的体积百分含量,并代入Lichnetecker对数混合定则,计算出系统的介电性能,获得了分析介质系统介电性能与物相含量之间定量关系的新方法. 展开更多
关键词 高频介质系统 介电性能 相组成 定量关系 衍射峰强度 陶瓷材料
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ZnO-B2O_3-SiO_2系统的相结构与介电性能的研究
12
作者 吴霞宛 李玲霞 +2 位作者 王洪儒 张志萍 郝建民 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2001年第3期206-208,共3页
对 Zn O- B2 O3- Si O2 三元系统进行了 XRD和介电性能定量关系的研究。系统的主、次晶相为 Si O2 、Zn2 Si O4相。调整各组分 ,获得了超低介电常数的介质陶瓷 ,其介电常数ε为 5 ,介电损耗 tanδ≤ 5× 10 - 4 ,容量温度系参数αc... 对 Zn O- B2 O3- Si O2 三元系统进行了 XRD和介电性能定量关系的研究。系统的主、次晶相为 Si O2 、Zn2 Si O4相。调整各组分 ,获得了超低介电常数的介质陶瓷 ,其介电常数ε为 5 ,介电损耗 tanδ≤ 5× 10 - 4 ,容量温度系参数αc≤ (0± 30 )× 10 - 6 /°C、绝缘电阻 IR≥ 10 1 2 Ω ,烧结温度为 1140°C。并对系统进行了 X-射线分析 ,探讨了用X-射线衍射峰强度计算各物相含量的方法。 展开更多
关键词 ZnO-B2O3-SiO2系统 相结构 介电性能 表面组装技术 集成电路
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一种连续扫描X射线应力测定的强度校正方法
13
作者 李家宝 康增桥 何家文 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1992年第5期B219-B224,共6页
在常规法X射线应力测定中,对衍射线的强度校正,不论在背底部分,还是在纯衍射线部分,吸收校正是最本质的校正。在许多工程测量中,只进行吸收校正,就可以达到足够的准确度,以此为根据,本文提出一种可在连续扫描测量中进行强度校正的方法:... 在常规法X射线应力测定中,对衍射线的强度校正,不论在背底部分,还是在纯衍射线部分,吸收校正是最本质的校正。在许多工程测量中,只进行吸收校正,就可以达到足够的准确度,以此为根据,本文提出一种可在连续扫描测量中进行强度校正的方法:利用在透明胶片上预先绘制的吸收曲线来拟合背底,同时进行定峰,采用这种方法可以较好地进行背底扣除,也对纯衍射线的强度做了吸收校正。试验结果说明这种方法是可靠的。 展开更多
关键词 X射线衍射 应力测定 强度校正
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一种设计无机介质材料介电性能的新方法
14
作者 李玲霞 吴霞宛 +1 位作者 张志萍 王洪儒 《硅酸盐通报》 CAS CSCD 2001年第6期18-20,17,共4页
选用低介电常数的无机介质材料ZnO -B2 O3-SiO2 三元系统 ,进行了XRD和介电性能定量关系的研究 ,系统的主、次晶相为SiO2 、Zn2 SiO4 相。调整各组分 ,获得了超低介电常数的介质陶瓷 ,其介电性能为 :ε≈ 5 ,tgδ≤ 5× 10 -4 ,αc... 选用低介电常数的无机介质材料ZnO -B2 O3-SiO2 三元系统 ,进行了XRD和介电性能定量关系的研究 ,系统的主、次晶相为SiO2 、Zn2 SiO4 相。调整各组分 ,获得了超低介电常数的介质陶瓷 ,其介电性能为 :ε≈ 5 ,tgδ≤ 5× 10 -4 ,αc≤ 0± 30ppm/℃ ,IR≥ 10 12 Ω ,烧结温度为 1140℃。通过对系统所进行的X 射线衍射分析 ,探讨了用X 射线衍射峰强度计算各物相含量的方法 ,并代入李赫德涅凯对数混合定则 ,计算出系统的介电性能 。 展开更多
关键词 ZnO-B2O3-SiO2系统 超低介电常数 X-射线衍射分析 衍射峰强度 介电性能 功能陶瓷 无机介质材料
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一种电子陶瓷的分析方法
15
作者 李小图 孙济洲 +1 位作者 吴霞宛 王洪儒 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2004年第4期549-553,共5页
对五元系统BaO PbO Nd2 O3 Bi2 O3 TiO2 进行X 射线粉末衍射分析确定系统的主次晶相分别为BaNd2 TiO14 和Bi4Ti3 O12 。用X射线衍射峰强度计算出系统中各物相的体积百分数 ,代入李赫德涅凯对数混合定则 ,定量计算出的系统介电性能与... 对五元系统BaO PbO Nd2 O3 Bi2 O3 TiO2 进行X 射线粉末衍射分析确定系统的主次晶相分别为BaNd2 TiO14 和Bi4Ti3 O12 。用X射线衍射峰强度计算出系统中各物相的体积百分数 ,代入李赫德涅凯对数混合定则 ,定量计算出的系统介电性能与用仪器实测的相符。结果表明对于X射线衍射强度可以定量表征系统介电性能的材料 ,可以根据所需的性能指标利用李氏定则确定系统成分配比 ,从而可以作为电子陶瓷材料设计改进的依据。 展开更多
关键词 BaO-PbO-Nd203-Bi203-Ti02系统 X-射线衍射强度 李赫德涅凯对数混合定则
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钡铝钕铋钛系相结构与电性能的定量关系
16
作者 吴霞宛 李小图 +3 位作者 李玲霞 郝建民 王希忠 王崇峰 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2001年第4期302-305,共4页
以 Ba O- Pb O- Nd2 O3- Bi2 O3- Ti O2 五元系的烧结介质瓷为研究对象探讨化合物相与介电性能的定量关系。系统的主次晶相分别为 Ba Nd2 Ti5O1 4和 Bi4 Ti3O1 2 。对系统进行 X-射线分析 ,用 X-射线衍射峰强度计算出系统中各物相的体... 以 Ba O- Pb O- Nd2 O3- Bi2 O3- Ti O2 五元系的烧结介质瓷为研究对象探讨化合物相与介电性能的定量关系。系统的主次晶相分别为 Ba Nd2 Ti5O1 4和 Bi4 Ti3O1 2 。对系统进行 X-射线分析 ,用 X-射线衍射峰强度计算出系统中各物相的体积分数 ,再运用李赫德涅凯对数混合定则进行定量计算 ,得出系统的介电性能与用仪器实测的系统参数相符。在本研究系统中 ,X-衍射射线分析可以测定和定量表征烧结介质瓷中化合物相含量 ,经过对系统中各化合物的介电性能测定 ,可计算出所研究系统的介电性能 ,从而可作为一种介质的设计方法。 展开更多
关键词 陶瓷 钡铝钕铋系 相结构 电性能
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后退火时间对磁控溅射制备β-Ga_(2)O_(3)薄膜材料的影响 被引量:2
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作者 杨赉 高灿灿 +1 位作者 杨发顺 马奎 《原子与分子物理学报》 CAS 北大核心 2022年第5期113-118,共6页
第三代半导体β-Ga_(2)O_(3)因其优异的性质在近年来备受国内外的关注,而获得质量较好的β-Ga_(2)O_(3)薄膜也就成了其广泛应用的关键.本文采用射频磁控溅射方法,以C面蓝宝石(Al_(2)O_(3))为衬底制备β-Ga_(2)O_(3)薄膜,并研究后退火工... 第三代半导体β-Ga_(2)O_(3)因其优异的性质在近年来备受国内外的关注,而获得质量较好的β-Ga_(2)O_(3)薄膜也就成了其广泛应用的关键.本文采用射频磁控溅射方法,以C面蓝宝石(Al_(2)O_(3))为衬底制备β-Ga_(2)O_(3)薄膜,并研究后退火工艺中退火时间对制得的β-Ga_(2)O_(3)薄膜材料的影响.XRD和AFM表征结果表明,随着退火时间的增加,薄膜的衍射峰强度表现为先增大后减小再增大的特性,半峰宽为先增大后减小,而晶粒尺寸与半峰宽相反;薄膜表面粗糙程度呈现先下降后上升的趋势.另外,利用积分球式分光光度计测试了薄膜的光学特性,结果表明薄膜的吸收光谱存在两个吸收峰值,分别位于250 nm和300 nm附近处,在深紫外区域有较好的吸收特性. 展开更多
关键词 β-Ga_(2)O_(3)薄膜 射频磁控溅射 退火时间 衍射峰强度 光学特性
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A New Method for Clay Mineral Analysis and Its Application in Geology 被引量:3
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作者 王河锦 鲁安怀 陈涛 《Acta Geologica Sinica(English Edition)》 SCIE CAS CSCD 2002年第4期429-436,共8页
X-ray diffraction (XRD) peaks in a low-angle diffraction section of clayminerals, especially those of authigenic origin, have broadening and tailing features in shape.Using the five basic parameters, peak position, pe... X-ray diffraction (XRD) peaks in a low-angle diffraction section of clayminerals, especially those of authigenic origin, have broadening and tailing features in shape.Using the five basic parameters, peak position, peak height, width, shape coefficient and asymmetry,to describe an XRD peak is more accurate, comprehensive and integrated than using only 3 of them,position, height and width. Following the concept of the five basic parameters of an XRD peak, theprogram Decoform proposed in this study provides more information in mineralogical analyses byfitting actual XRD profiles. In combination with the HW-IR plot, Decoform can he systematically andaccurately used in the comprehensive analyses of crystallinity, domain size, lattice strain andquantitative phase. It is also of value for the geological investigations of diagenesis,metamorphism, basin maturity, structural stress field and so on. 展开更多
关键词 clay minerals x-ray diffraction analysis XRD peak fitting CRYSTALLINITY domain size lattice strain quantitative analysis application in geology
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X—射线法测定合成L—沸石的结晶度 被引量:1
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作者 陈宜俍 郭士岭 +2 位作者 程爱珠 张循良 张润吉 《郑州工学院学报》 1993年第1期70-76,共7页
本文介绍利用X-射线粉末衍射法所建立的一套快速.简便.准确测定L-沸石结晶度的方法.将无定型强度卡法与八强峰法结合起来,从而用较简便的相对结晶度的方法,而达到测定结晶度的目的。
关键词 X-射线衍射 L-沸石 结晶度 分子筛
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Gaussian peaks decomposing of simple liquids' RDF 被引量:2
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作者 王伟民 边秀房 +2 位作者 秦敬玉 张林 叶以富 《Science China(Technological Sciences)》 SCIE EI CAS 1999年第6期631-636,共6页
According to feasibility of Gaussian peaks decomposing distribution function (DF) 4πrρ(r), radial distribution function (RDF) 4πr 2ρ(r) of simple liquids also is possibly decomposed into Gaussian peaks withr in th... According to feasibility of Gaussian peaks decomposing distribution function (DF) 4πrρ(r), radial distribution function (RDF) 4πr 2ρ(r) of simple liquids also is possibly decomposed into Gaussian peaks withr in the size of several atoms. Experimental structure parameters of pure liquid Al and Si were obtained by θ-θ X-ray diffraction measurements and following data processing. Based on Gaussian decomposing liquid aluminum’s DF 4πrρ(r), liquid aluminum and silicon’s radial distribution function (RDF) 4πr 2ρ(r), it is shown that RDF of simple liquids is able to be decomposed in Gaussian function, compared with decomposing of DF, supplying more physical meaning and better indicating the short range order of liquids, which draws a clearer structure picture of simple liquids. 展开更多
关键词 SIMPLE liquids RDF x-ray diffraction GAUSSIAN peakS decomposing.
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