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精确测定低对称晶系多晶材料点阵常数的X射线衍射方法
被引量:
5
1
作者
郭常霖
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1996年第4期597-605,共9页
点阵常数是多晶材料的重要物理参数之一.陶瓷材料多数属非立方晶系化合物.研究低对称晶系点阵常数的测定方法和提高精度的途径对材料研究有重要的意义.本文提出了联立方程法、联立方程外推法、最小二乘法、最小二乘外推法、线对法、...
点阵常数是多晶材料的重要物理参数之一.陶瓷材料多数属非立方晶系化合物.研究低对称晶系点阵常数的测定方法和提高精度的途径对材料研究有重要的意义.本文提出了联立方程法、联立方程外推法、最小二乘法、最小二乘外推法、线对法、线对最小二乘法等六种测定方法和稳定性判别法、抛弃平均法、最小二乘判别法等三种数据处理方法及其适用条件.用本文的测定低对称晶系多晶材料点阵常数的方法可以得到较精确可靠的结果.
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关键词
X射线衍射
点阵常数
低对称晶系
晶态材料
下载PDF
职称材料
题名
精确测定低对称晶系多晶材料点阵常数的X射线衍射方法
被引量:
5
1
作者
郭常霖
机构
中国科学院上海硅酸盐研究所
出处
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1996年第4期597-605,共9页
基金
国家自然科学基金
文摘
点阵常数是多晶材料的重要物理参数之一.陶瓷材料多数属非立方晶系化合物.研究低对称晶系点阵常数的测定方法和提高精度的途径对材料研究有重要的意义.本文提出了联立方程法、联立方程外推法、最小二乘法、最小二乘外推法、线对法、线对最小二乘法等六种测定方法和稳定性判别法、抛弃平均法、最小二乘判别法等三种数据处理方法及其适用条件.用本文的测定低对称晶系多晶材料点阵常数的方法可以得到较精确可靠的结果.
关键词
X射线衍射
点阵常数
低对称晶系
晶态材料
Keywords
x-ray diffraction
,
measurement of lattice constants
,
low-symmetry crystal system
分类号
O712 [理学—晶体学]
TQ174.1 [化学工程—陶瓷工业]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
精确测定低对称晶系多晶材料点阵常数的X射线衍射方法
郭常霖
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1996
5
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职称材料
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