期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
X射线荧光光谱分析用的玻璃熔片与保存时间 被引量:4
1
作者 茅祖兴 《岩矿测试》 CAS CSCD 北大核心 1995年第1期66-68,共3页
X射线荧光分析用的Li_2B_4O_7玻璃熔片经长期放置后,Mg、Si和Al等元素的x射线强度发生了很大变化,尤其是Mg的强度增大很多,以至无法进行准确分析。对于长期放置的熔片,可以用重新熔融的方法进行处理。
关键词 X射线荧光光谱 玻璃熔片 保存时间
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部