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XRF方法在白合金成分分析中的应用 被引量:1
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作者 黄慎文 庹先国 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 1991年第3期172-175,共4页
本文报道了利用便携式同位素源X射线荧光(XRF)仪进行炉前快速分析白合金的成分。侧重介绍了克服偏析现象的方法,并运用校正基体效应的方法对白合金中各主要成分的分析进行了研究,建立了数学模型。经实践验证,用便携式X射线萤光仪代替或... 本文报道了利用便携式同位素源X射线荧光(XRF)仪进行炉前快速分析白合金的成分。侧重介绍了克服偏析现象的方法,并运用校正基体效应的方法对白合金中各主要成分的分析进行了研究,建立了数学模型。经实践验证,用便携式X射线萤光仪代替或部分代替白合金化学分析不仅快速,而且可靠。 展开更多
关键词 XRF方法 白合金 X射线荧光仪 偏析
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