期刊文献+
共找到16篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
RLVIP技术制备Ge1-xCx薄膜的X射线光电子能谱 被引量:3
1
作者 王彤彤 高劲松 +4 位作者 宋琦 王笑夷 陈红 郑宣鸣 申振峰 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第4期565-569,共5页
应用低压反应离子镀(RLVIP)技术在Ge基底上沉积了Ge1-xCx巴薄膜。制备过程中,低压等离子源作为辅助等离子源,Ge作为蒸发材料,CH4作为反应气体,在相同的沉积条件下以不同的沉积速率制备了c含量(x)从0.23到0.78的Ge1-xCx薄膜。... 应用低压反应离子镀(RLVIP)技术在Ge基底上沉积了Ge1-xCx巴薄膜。制备过程中,低压等离子源作为辅助等离子源,Ge作为蒸发材料,CH4作为反应气体,在相同的沉积条件下以不同的沉积速率制备了c含量(x)从0.23到0.78的Ge1-xCx薄膜。X射线衍射测试表明制备的Ge1-xCx薄膜为无定形结构。用X射线光电子能谱研究了不同C含量下Ge1-xCx薄膜中C的化学键合变化。研究结果表明:当x〉0.78时,成键为c-H键;当x为0.53~0.62时,成键为c-c键;当x〈0.47时,成键为Ge-C键。 展开更多
关键词 Ge1-xcx薄膜 低压反应离子镀 X射线光电子能谱 离子辅助沉积
下载PDF
ZD5040XCX型采血车的设计与开发 被引量:1
2
作者 毕秀华 马淑博 《汽车研究与开发》 1997年第6期20-23,共4页
ZD5030XCX型采血车,是中国人民解放军第6455工厂1997年设计开发的新产品。它模拟固定血站的采血程序,合理地布置空间,高标准法装修内部,并配备了先进的采血专用设备和辅助设备,人机组合便组成完备的采血系统,集... ZD5030XCX型采血车,是中国人民解放军第6455工厂1997年设计开发的新产品。它模拟固定血站的采血程序,合理地布置空间,高标准法装修内部,并配备了先进的采血专用设备和辅助设备,人机组合便组成完备的采血系统,集验血、采血、消毒、密封、贮存于一体,变成了一个可流动作业的小型血站。它的问世填补了国内空白,极大地满足和方便了人们随时随地我偿献血和义务献血的需要,不但具有很同的经济效益和社会效益。 展开更多
关键词 专用汽车 汽车 设计 采血车 ZD5040xcx
下载PDF
ZK5130XCX型采血车空调系统的布置与设计 被引量:1
3
作者 武圆 张团营 张涛 《客车技术与研究》 2003年第4期19-20,共2页
简要介绍采血车使用两套空调系统的设计思路与布置方法。
关键词 ZK5130xcx型采血车 空调系统 设计 布置方法
下载PDF
越来越野 2019 Triumph Tiger 800 XCX
4
作者 马文龙 《摩托车》 2019年第10期44-47,共4页
自2010年问世以来,凯旋中量级探险车Tiger 800迄今已在市面上流行9年,树立了不俗的口碑。第一代Tiger 800,以个性独特的并列三缸发动机、充裕的动力、灵活的身手和公路、越野通吃的适用性,备受探险旅行爱好者的青睐。2015年,凯旋推出了... 自2010年问世以来,凯旋中量级探险车Tiger 800迄今已在市面上流行9年,树立了不俗的口碑。第一代Tiger 800,以个性独特的并列三缸发动机、充裕的动力、灵活的身手和公路、越野通吃的适用性,备受探险旅行爱好者的青睐。2015年,凯旋推出了第二代Tiger 800,在原来的基础上更进一步,比如采用了电子油门,把油耗降低17%;配上牵引力控制系统,提升了应对复杂路况的综合能力等。现在,第三代Tiger 800火爆上市,能给我们带来怎样的惊喜? 展开更多
关键词 牵引力控制系统 三缸发动机 TRIUMPH TIGER 800 xcx 制动系统 最大扭矩 动力输出 低转速 双活塞 第三代 电子燃油喷射系统 驾驶模式 悬挂系统 最大功率
下载PDF
SiO_2/TiO_(2-x)C_x/C的制备、表征及其吸附和可见光催化性能 被引量:3
5
作者 高善民 刘新 +3 位作者 徐慧 刘训恿 黄柏标 戴瑛 《无机化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2013年第3期557-564,共8页
以SiO2为成核中心,钛酸四丁酯为钛源,分别以多羟基化合物乙二醇、丙三醇、葡萄糖和聚乙烯醇为联接剂,采用水解沉淀法制备了碳掺杂和包覆的多孔SiO2/TiO2-xCx/C可见光响应型光催化剂。采用X-射线衍射(XRD)、透射电子显微镜(TEM)、X-射线... 以SiO2为成核中心,钛酸四丁酯为钛源,分别以多羟基化合物乙二醇、丙三醇、葡萄糖和聚乙烯醇为联接剂,采用水解沉淀法制备了碳掺杂和包覆的多孔SiO2/TiO2-xCx/C可见光响应型光催化剂。采用X-射线衍射(XRD)、透射电子显微镜(TEM)、X-射线光电子能谱(XPS)、傅里叶变换-红外光谱(FTIR)、比表面积(BET)和紫外-可见(UV-Vis)漫反射光谱对样品进行表征。对不同结构样品的形成机理进行了分析。以次甲基蓝(MB)溶液为模拟废水,对样品的吸附性能和可见光催化性能进行了评价。结果表明,多羟基化合物对材料的结构和性能有重要影响。碳的掺杂和包覆使材料的吸收光谱包含了整个可见光区,而多孔结构使材料的吸附性能得到提高。以聚乙烯醇为原料所得样品吸附性能最好,30 min内吸附率达到70%;而以丙三醇为原料所得样品具有最好的可见光催化性能,40 min内次甲基蓝的降解率达到95%。 展开更多
关键词 SIO2 TiO2-xcx 多孔 复合 吸附 光催化
下载PDF
用低压反应离子镀的方法制备Ge_(1-x)C_x单层非均匀增透膜的研究 被引量:3
6
作者 王彤彤 高劲松 +5 位作者 王笑夷 宋琦 陈红 郑宣明 申振峰 单兆会 《光学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第2期302-304,共3页
用低压反应离子镀(RLVIP)的方法在Ge基底上制备了Ge1-xCx单层非均匀增透薄膜。随着沉积速率在0.05-0.4nm/s之间的变化,其折射率在2.31~3.42之间可变。实验结果表明,镀制的Ge1-xCx单层非均匀增透保护薄膜均为无定形结构,并实... 用低压反应离子镀(RLVIP)的方法在Ge基底上制备了Ge1-xCx单层非均匀增透薄膜。随着沉积速率在0.05-0.4nm/s之间的变化,其折射率在2.31~3.42之间可变。实验结果表明,镀制的Ge1-xCx单层非均匀增透保护薄膜均为无定形结构,并实现了从2000-8000nm的宽波段增透。当沉积速率为0.1nm/s时,单面平均透过率从68.6%提高到了80.9%,比单面未镀膜时提高了17.9%。通过对薄膜的稳定性和牢固度进行测试表明,制备的Ge1-xCx单层非均匀增透薄膜具有良好的性能。 展开更多
关键词 Ge1-xcx 低压反应离子镀(RLVIP) 增透膜 非均匀膜
下载PDF
离子源辅助电子枪蒸发制备Ge_(1-x)C_x薄膜 被引量:4
7
作者 王彤彤 高劲松 +5 位作者 王笑夷 宋琦 郑宣明 徐颖 陈红 申振峰 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第4期715-718,共4页
应用电子枪蒸发纯Ge,考夫曼离子源辅助的方法在Ge基底上沉积了Ge1-xCx薄膜.制备过程中,Ge作为蒸发材料,CH4作为反应气体.通过改变CH4/(CH4+Ar)的气体流量比(G),制备了G从40%到85%的Ge1-xCx薄膜.应用X射线衍射仪(XRD)测量了Ge1-xC... 应用电子枪蒸发纯Ge,考夫曼离子源辅助的方法在Ge基底上沉积了Ge1-xCx薄膜.制备过程中,Ge作为蒸发材料,CH4作为反应气体.通过改变CH4/(CH4+Ar)的气体流量比(G),制备了G从40%到85%的Ge1-xCx薄膜.应用X射线衍射仪(XRD)测量了Ge1-xCx薄膜的晶体结构,使用傅里叶红外光谱仪(FTIR)测量了2~22 μm的光学透过率,X射线光电子能谱测试(XPS)计算得到C的含量随G的变化关系,用纳米压痕硬度测试计测量了Ge1-xCx薄膜的硬度,原子力显微镜(AFM)测量了G为60%,85%时Ge1-xCx薄膜的表面粗糙度.测试结果表明:制备的Ge1-xCx薄膜在不同的G值下均为无定形结构.折射率随着G值的增加而减小,在3.14~3.89之间可变,并具有良好的均匀性以及极高的硬度. 展开更多
关键词 Ge1-xcx薄膜 电子枪蒸发 离子辅助沉积(IAD) 考夫曼离子源
下载PDF
C掺杂Mg(B_(1-x)C_x)_2的电子结构和弹性性质的第一性原理研究 被引量:4
8
作者 夏庆林 易健宏 +2 位作者 彭元东 王红忠 周承商 《粉末冶金材料科学与工程》 EI 2011年第1期7-12,共6页
利用基于密度泛函理论(Density functional theory,DFT)的广义梯度近似(Generalized gradient approximation,GGA)研究C掺杂Mg(B1-xCx)2晶体的电子结构和弹性性质。计算所得晶格参数和平衡态体积与实验结果符合较好。能带结构和态密度... 利用基于密度泛函理论(Density functional theory,DFT)的广义梯度近似(Generalized gradient approximation,GGA)研究C掺杂Mg(B1-xCx)2晶体的电子结构和弹性性质。计算所得晶格参数和平衡态体积与实验结果符合较好。能带结构和态密度的研究结果表明,随着C掺杂量增加,费米能级附近Γ点、A点的能量EΓ(σ)、EA(σ)和费米能级处的态密度N(EF)减小,这与超导转变温度TC随C掺杂量增加而减小的实验结果一致。由Voigt、Reuss和Hill’s(VRH)近似计算得到的单晶弹性常数推导出多晶的弹性常数,结果表明随C掺杂量增加,Mg(B1-xCx)2晶体的体弹性模量单调地增加(可压缩系数单调地减小);泊松比ν和体积弹性模量/剪切弹性模量(BH/GH)的值先是较大幅度减小,而后略有增加;Mg(B1-xCx)2的泊松比远小于1/3,BH/GH的值小于材料的脆性和延展性的临界判据参数1.75,表明Mg(B1-xCx)2晶体是脆性化合物。 展开更多
关键词 Mg(B1-xcx)2 第一性原理 电子结构 弹性性质
下载PDF
Ge_(1-x)C_x薄膜的制备及红外特性的研究 被引量:1
9
作者 吴小文 张维佳 +1 位作者 钟立志 黄浩 《材料工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第1期53-57,共5页
利用等离子体化学气相沉积(PECVD)法制备出Ge1-xCx薄膜,并系统地研究了工艺参数对薄膜成分的影响,以及不同组分Ge1-xCx薄膜的红外光学特性.结果表明,薄膜中的C含量随着CH4/GeH4气体流量比的增大而增大;薄膜的红外折射率随组分的不同在2... 利用等离子体化学气相沉积(PECVD)法制备出Ge1-xCx薄膜,并系统地研究了工艺参数对薄膜成分的影响,以及不同组分Ge1-xCx薄膜的红外光学特性.结果表明,薄膜中的C含量随着CH4/GeH4气体流量比的增大而增大;薄膜的红外折射率随组分的不同在2~4范围内变化;薄膜的沉积速率随射频功率增大而增大,但当功率达到60 W以后其变化不明显;沉积速率随温度的增加而减少;该薄膜具有透长波红外的性能. 展开更多
关键词 Ge1-xcx薄膜 PECVD 红外特性 沉积速率
下载PDF
低压反应离子镀制备Ge_(1-x)C_x薄膜的硬度研究 被引量:1
10
作者 王彤彤 高劲松 +6 位作者 王笑夷 宋琦 陈红 郑宣明 申振峰 单兆会 凌伟 《光学仪器》 2006年第4期79-82,共4页
应用低压反应离子镀的薄膜制备方法在G e基底上沉积了G e1-xCx薄膜,随着沉积速度在0.1nm/s^0.9nm/s之间变化,G e1-xCx薄膜的硬度在2.12 GPa^11.066 GPa之间可变,当沉积速率为0.9nm/s时,G e1-xCx薄膜最大硬度为11.066 GPa。XRD测试结果表... 应用低压反应离子镀的薄膜制备方法在G e基底上沉积了G e1-xCx薄膜,随着沉积速度在0.1nm/s^0.9nm/s之间变化,G e1-xCx薄膜的硬度在2.12 GPa^11.066 GPa之间可变,当沉积速率为0.9nm/s时,G e1-xCx薄膜最大硬度为11.066 GPa。XRD测试结果表明,沉积的G e1-xCx薄膜均为无定形结构。对薄膜稳定性和牢固度的测试表明,制备的G e1-xCx薄膜在具有较高的硬度的同时,也有良好的性能。 展开更多
关键词 Ge1-xcx 硬度 低压反应离子镀(RLVIP)
下载PDF
无定形C掺杂对MgB_2微结构和超导电性的影响
11
作者 孙昱艳 张平祥 +1 位作者 白质明 陈思华 《东北大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第8期1153-1156,共4页
采用原位法粉末装管工艺制备了MgB2-xCx/Nb/Cu单芯线材.通过X射线衍射(XRD)、扫描电镜(EMS)和物性测试仪(PPMS)等手段研究了无定形C掺杂对线材微观结构及超导电性的影响.结果显示,随着C掺杂量的增加,进入MgB2晶格的C含量增加,MgB2层间... 采用原位法粉末装管工艺制备了MgB2-xCx/Nb/Cu单芯线材.通过X射线衍射(XRD)、扫描电镜(EMS)和物性测试仪(PPMS)等手段研究了无定形C掺杂对线材微观结构及超导电性的影响.结果显示,随着C掺杂量的增加,进入MgB2晶格的C含量增加,MgB2层间结构不变.样品性能达到实用化超导磁体要求,在温度30 K外场0.2 T条件下,C掺杂量x=0,0.05,0.10,0.15的样品临界电流密度分别达8.1×104,1.7×105,1.6×105和1.0×105A/cm2.实验表明最佳C掺杂量x在0.05与0.10之间. 展开更多
关键词 MgB2-xcx/Nb/Cu单芯线材 化学掺杂 微观结构 超导电性 原位法粉末装管工艺
下载PDF
等离子体增强磁控溅射沉积碳化硅薄膜的化学结构与成膜机理 被引量:5
12
作者 孙文立 徐军 陆文琪 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2010年第8期2311-2316,共6页
以CH4和Ar为工作气体,单晶硅为溅射靶,通过微波电子回旋共振(MW-ECR)等离子体增强非平衡磁控溅射方法在不同的CH4流量和沉积温度下制备了a-Si1-xCx∶H薄膜.利用傅里叶变换红外(FT-IR)光谱,X光电子能谱(XPS)和纳米硬度仪等表征方法研究... 以CH4和Ar为工作气体,单晶硅为溅射靶,通过微波电子回旋共振(MW-ECR)等离子体增强非平衡磁控溅射方法在不同的CH4流量和沉积温度下制备了a-Si1-xCx∶H薄膜.利用傅里叶变换红外(FT-IR)光谱,X光电子能谱(XPS)和纳米硬度仪等表征方法研究不同沉积参数下薄膜的化学结构、化学配比和硬度的变化.结果表明:室温(25℃)下随CH4流量由5cm·3min-1增加到45cm3·min-1(标准状态)时,薄膜中Si—CH2键,C—H键含量逐渐增加,Si—H键变化不明显;膜中C原子百分比由28%增至76%,Si原子百分比由62%降至19%.当CH4流量为15cm3·min-1时,随沉积温度的升高,薄膜中Si和C原子百分比含量分别为52%和43%,且基本保持不变;膜中Si—H键和C—H键转化为Si—C键,薄膜的显微硬度显著提高,在沉积温度为600℃时达到29.7GPa.根据分析结果,提出了室温和高温下a-Si1-xCx:H薄膜生长模型. 展开更多
关键词 等离子体增强磁控溅射 a-Si1-xcx∶H薄膜 FT-IR 化学结构 硬度 成膜机理
下载PDF
Fabrication and characterization of iron and iron carbide thin films by plasma enhanced pulsed chemical vapor deposition 被引量:1
13
作者 Yulian HU Xu TIAN +4 位作者 Qipeng FAN Zhengduo WANG Bowen LIU Lizhen YANG Zhongwei LIU 《Plasma Science and Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2019年第10期54-60,共7页
A new pulsed chemical vapor deposition(PCVD) process has been developed to fabricate iron(Fe) and iron carbide(Fe1-xCx) thin films at low temperature range from 150 ℃ to 230 ℃.The process employs bis(1,4-di-ter... A new pulsed chemical vapor deposition(PCVD) process has been developed to fabricate iron(Fe) and iron carbide(Fe1-xCx) thin films at low temperature range from 150 ℃ to 230 ℃.The process employs bis(1,4-di-tert-butyl-1,3-diazabutadienyl)iron(Ⅱ) as iron source and hydrogen gas or hydrogen plasma as the coreactant.The films deposited with hydrogen gas are demonstrated polycrystalline with body-centered cubic Fe.However,for the films deposited with hydrogen plasma,the amorphous phase of iron carbide is obtained.The influence of the deposition temperature on iron and iron carbide characteristics have been investigated. 展开更多
关键词 Fe and Fe1-xcx FILMS H2 plasma PULSED chemical vapor DEPOSITION
下载PDF
热丝CVD法制备a-Si_(1-x)C_x薄膜的光电性能研究
14
作者 程彬 沈鸿烈 +3 位作者 吴天如 丁滔 肖少文 陆婷 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第4期882-886,共5页
本文以硅烷、乙炔和氢气为气源,采用热丝CVD法制备了非晶碳化硅薄膜。通过FITR、紫外-可见光分光光度计、四探针仪、台阶仪和霍尔效应测试仪对薄膜的光学和电学性能进行了系统的研究。结果表明,随着乙炔气体流量的增加,薄膜中碳含量和... 本文以硅烷、乙炔和氢气为气源,采用热丝CVD法制备了非晶碳化硅薄膜。通过FITR、紫外-可见光分光光度计、四探针仪、台阶仪和霍尔效应测试仪对薄膜的光学和电学性能进行了系统的研究。结果表明,随着乙炔气体流量的增加,薄膜中碳含量和薄膜光学带隙呈现逐渐递增的趋势,其中光学带隙由1.7 eV上升到2.1 eV。同时还发现B掺杂薄膜的空穴浓度随着B2H6与硅烷流量比的增大而显著增大,而霍尔迁移率的变化趋势则与空穴浓度的变化趋势相反,与二者对应的总体效果是薄膜的电阻率首先显著下降,然后缓慢下降至最小值1.94Ω.cm,此后电阻率略有上升。 展开更多
关键词 热丝CVD 非晶碳化硅 光电性能
下载PDF
预注入对Si_(1-x)C_x合金形成的影响 被引量:1
15
作者 王引书 李晋闽 +3 位作者 王衍斌 王玉田 孙国胜 林兰英 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2001年第7期1329-1333,共5页
室温下在单晶Si中注入 (0 6— 1 5 )at%的C原子 ,部分样品在C离子注入之前在其中注入2 9Si+ 离子产生损伤 ,然后在相同条件下利用高温退火固相外延了Si1 -xCx 合金 ,研究了预注入对Si1 -xCx 合金形成的影响 .如果注入C离子的剂量小于引... 室温下在单晶Si中注入 (0 6— 1 5 )at%的C原子 ,部分样品在C离子注入之前在其中注入2 9Si+ 离子产生损伤 ,然后在相同条件下利用高温退火固相外延了Si1 -xCx 合金 ,研究了预注入对Si1 -xCx 合金形成的影响 .如果注入C离子的剂量小于引起Si非晶化的剂量 ,在 95 0℃退火过程中注入产生的损伤缺陷容易与C原子结合形成缺陷团簇 ,难于形成Si1 -xCx 合金 ,预注入形成的损伤有利于合金的形成 .随着C离子剂量的增大 ,注入产生的损伤增强 ,预注入反而不利于Si1 -xCx 合金的形成 ,但当注入C原子的浓度超过固相外延的溶解度时 ,预注入的影响可以忽略 .退火温度升高到 10 5 0℃ ,无论预注入还是未预注入样品 ,C含量低的合金相仍然保留 ,而C含量高的合金相大部分消失 . 展开更多
关键词 离子注入 固相外延 Si1-xcx合金 损伤 形成机理
原文传递
The formation and stability of Si_(1-x)C_x alloys in Si implanted with carbon ions
16
作者 WANG Yinshu, LI Jinmin, JIN Yunfan, WANG Yutian, SUN Guosheng & LIN Lanying1. Department of Physics, Beijing Normal University, Beijing 100875, China 2. Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China 3. Institute of Modern Physics, Chinese Academy of Sciences, Lanzhou 730000, China 《Chinese Science Bulletin》 SCIE EI CAS 2001年第3期200-204,共5页
Si1-xCx alloys of carbon (C) concentration between 0.6%-1.0% were grown in Si by ion implantation and high temperature annealing. The formation of Si1-xCx alloys under different ion doses and their stability during an... Si1-xCx alloys of carbon (C) concentration between 0.6%-1.0% were grown in Si by ion implantation and high temperature annealing. The formation of Si1-xCx alloys under different ion doses and their stability during annealing were studied. If the implanted dose was less than that for amorphizing Si crystals, the implanted C atoms would like to combine with defects produced during implantation and it was difficult to form Si1-xCx alloys after being annealed at 850℃. With the increment of implanted C ion doses, the lattice damage increased and it was easier to form Si1-xCx alloys. But the lattice strain would become saturate and only part of implanted carbon atoms would occupy the substitutional positions to form Si1-xCx alloys as the implanted carbon dose increased to a certain degree. Once Si1-xCx alloys were formed, they were stable at 950℃, but part of their strain would release as the annealing temperature increased to 1 000℃. Stability of the alloys became worse with the increment of carbon 展开更多
关键词 ion implantation Si1-xcx ALLOYS STABILITY of Si1-xcx alloys.
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部