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用XPS对CdTe(111)面进行化学特性分析
被引量:
4
1
作者
刘朝旺
宋炳文
《红外技术》
CSCD
1994年第5期6-10,共5页
用XPS化学位移和定量分析方法,研究了露于室温空气中的CdTe(111)面的化学特征。首次报道了经机械抛光表面上形成的表面化合物为TeO2(Te3d5/2575.8eV,O1s530.1eV)和Cd(OH)2(Cd3...
用XPS化学位移和定量分析方法,研究了露于室温空气中的CdTe(111)面的化学特征。首次报道了经机械抛光表面上形成的表面化合物为TeO2(Te3d5/2575.8eV,O1s530.1eV)和Cd(OH)2(Cd3d5/24051eV.O1s531.4eV)。并与基体里的CdTe共存;经2%Br-乙醇溶液化学抛光,表面上形成的化合物为CdTeO4(Cd3d5/2405.3eV,Te3d5/25765eV,O1s531.2eV)和TeOx(x<1)(Te3d5/2574~575eV,O1s5281eV),并且XPS谱中没有基体里的CdTe的特征,其中TeOX为Te氧化物的过渡态。结果表明,在相同氧化环境中,表面上形成的化合物强烈依赖表面状况。
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关键词
外延生长
CdTe(111)晶片
xps
化学特性
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职称材料
题名
用XPS对CdTe(111)面进行化学特性分析
被引量:
4
1
作者
刘朝旺
宋炳文
机构
昆明物理研究所
出处
《红外技术》
CSCD
1994年第5期6-10,共5页
文摘
用XPS化学位移和定量分析方法,研究了露于室温空气中的CdTe(111)面的化学特征。首次报道了经机械抛光表面上形成的表面化合物为TeO2(Te3d5/2575.8eV,O1s530.1eV)和Cd(OH)2(Cd3d5/24051eV.O1s531.4eV)。并与基体里的CdTe共存;经2%Br-乙醇溶液化学抛光,表面上形成的化合物为CdTeO4(Cd3d5/2405.3eV,Te3d5/25765eV,O1s531.2eV)和TeOx(x<1)(Te3d5/2574~575eV,O1s5281eV),并且XPS谱中没有基体里的CdTe的特征,其中TeOX为Te氧化物的过渡态。结果表明,在相同氧化环境中,表面上形成的化合物强烈依赖表面状况。
关键词
外延生长
CdTe(111)晶片
xps
化学特性
Keywords
xps chemical shift surface compound xps quantitative analysis
分类号
TN304.054 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
用XPS对CdTe(111)面进行化学特性分析
刘朝旺
宋炳文
《红外技术》
CSCD
1994
4
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职称材料
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参考文献
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