煤系高岭岩的XRD曲线特征——对高岭石—地开石混层矿物XRD曲线特征的一点看法

根据高岭石基面衍射是否加强以及加强的程度 ,将我国煤系高岭岩的XRD曲线分为 3种基本形态类型。介绍了 3种XRD曲线的形态特征 ,并分析了造成高岭石XRD曲线差异的原因 ,同时否定了将基面衍射加强的高岭石看作高岭石—地开石混层矿物。

材料XRD测试曲线的计算机模拟及计算

通过坐标变换和对非连续平滑曲线的离散化 ,对材料的X光衍射测试曲线进行计算机模拟。同时对曲线进行了各种图像变换处理 (缩放、平移、节点拖拉及曲线随动响应、点间标定等 ) ,在此基础上对实际的X光衍射曲线各强度峰进行曲线积分面积的计算 。

XRD测定熟料中玻璃体含量

通过对熟料中的中间相进行再烧结,并通过急冷的方式得到玻璃体,将玻璃体与熟料按不同的比例混合,测定其XRD结果,计算XRD衍射峰面积与背底的面积的比值,得出标准曲线,运用标准曲线就可以计算出其它熟料中玻璃体的含量。用过采用水淬矿渣来代替中间相玻璃体,作出标准曲线,来验证此方法的可行性。结果表明,XRD衍射峰的背底面积与玻璃体的掺入量呈线性关系,同时衍射峰面积与背底的面积的比值即峰背比也与玻璃体的含量呈线性关系。

PLD方法制备ZnO薄膜的特征温度研究

用PLD方法在S i(1 1 1)衬底上制备了ZnO薄膜.在薄膜的沉积过程中,用安装在激光脉冲沉积设备上的反射高能电子衍射仪(RHEED)对薄膜的生长进行了原位监测.结合薄膜的X射线衍射(XRD)分析和荧光光谱(PL)分析,发现达到或者超过650°C时生长的薄膜,结构和光学特性得到了显著的改善.

CdGeAs_2晶体的表面XPS表征及表面损伤层测定（英文）

采用改进的布里奇曼法生长出尺寸为Φ15 mm×45 mm,外观完整无开裂的Cd Ge As2单晶体。为了提高器件的使用性能,需要对晶体进行表面处理,主要对Cd Ge As2晶片表面的抛光技术进行了研究。通过对解理面切割分析得到(101)晶面,机械抛光后进行了XPS分析。对该晶面采用溴甲醇溶液进行腐蚀抛光,采用XRD回摆及光学显微镜对不同抛光时间的试样进行观测。结果表明,CGA晶体的(101)晶面在常温下采用溴甲醇溶液腐蚀50 s后,晶片表面光滑无划痕,并且具有半峰宽较小的回摆曲线,同时计算得到Cd Ge As2晶体的表面损伤层厚度。