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X射线荧光光谱法测定高纯石墨中的硫 被引量:5
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作者 盛向军 曹冬梅 陈新 《光谱实验室》 CAS CSCD 2002年第2期250-252,共3页
采用 X射线荧光光谱法测定出口高纯石墨中的硫 ,代替传统的化学分析方法。原样品粉末直接压片 ,标准样品采用国标焦炭样品和淀粉按比例混匀经研磨后压片 ,采用散射线背景校正法校正基体的影响 ,效果良好 ,简便易行。
关键词 X射线荧光光谱 背景校正 高纯石墨 测定 杂质
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