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X射线荧光光谱法测定高纯石墨中的硫
被引量:
5
1
作者
盛向军
曹冬梅
陈新
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2002年第2期250-252,共3页
采用 X射线荧光光谱法测定出口高纯石墨中的硫 ,代替传统的化学分析方法。原样品粉末直接压片 ,标准样品采用国标焦炭样品和淀粉按比例混匀经研磨后压片 ,采用散射线背景校正法校正基体的影响 ,效果良好 ,简便易行。
关键词
X射线荧光光谱
背景校正
高纯石墨
硫
测定
杂质
下载PDF
职称材料
题名
X射线荧光光谱法测定高纯石墨中的硫
被引量:
5
1
作者
盛向军
曹冬梅
陈新
机构
辽宁出入境检验检疫局技术中心
出处
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2002年第2期250-252,共3页
文摘
采用 X射线荧光光谱法测定出口高纯石墨中的硫 ,代替传统的化学分析方法。原样品粉末直接压片 ,标准样品采用国标焦炭样品和淀粉按比例混匀经研磨后压片 ,采用散射线背景校正法校正基体的影响 ,效果良好 ,简便易行。
关键词
X射线荧光光谱
背景校正
高纯石墨
硫
测定
杂质
Keywords
xrf
,
graphite electrode powder
,
background correction.
分类号
TQ127.11 [化学工程—无机化工]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
X射线荧光光谱法测定高纯石墨中的硫
盛向军
曹冬梅
陈新
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2002
5
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