硫氰酸盐吸光光度法与XRF光谱分析法钼矿石品位检测的对比分析

本文根据河南省三道庄钼矿实际情况,通过对硫氰酸盐吸光光度法检测钼元素品位进行介绍和美国热电公司(Thermo Fisher)生产的Quant’X型XRF荧光能谱仪为例对XRF光谱法检测钼元素品位进行介绍,根据生产实例加以比较分析,为矿山生产化验提供快速、可靠的技术依据。

合金钢的X射线荧光光谱分析

本文介绍结构钢、工具钢、弹簧钢、不锈钢、高速钢、轴承钢和高温合金钢等我厂冶炼的800多种合金钢(包括碳素结构铜和碳素工具钢)的XRF光谱分析方法,讨论了标准试样的选择与文件设计、基体元素间干扰以及基体效应的校正等问题,并提出消除粒度效应的方法,提高了测量精确度。

光卤石和钡熔剂X-射线荧光光谱分析方法

介绍用溶液滤纸片（ＳＦＰ）制样，以Ｘ—射线荧光（ＸＲＦ）光谱快速测定光卤石、钡熔剂样品中氯化物组分和结晶水等。采用外部通道输入法，使结晶水和水不溶物参与氯化物测定结果共同作归一化（１００％）计算。根据归一化因子（ＮＦ）接近１．００为依据，从而判断测量结果可信与否。本方法简便、快速。

南海一号出水景德镇窑与龙泉窑青瓷特征的无损分析研究

古代陶瓷产地研究是陶瓷考古的重要内容,也是科技考古工作者研究的重点。目前国内古代陶瓷产地研究主要依赖化学成分分析技术,对陶瓷釉层结构特征的无损分析研究却相对缺乏,难以对古代陶瓷进行全方位的认知。该研究首次将光学相干层析(OCT)与X射线荧光(XRF)光谱分析技术相结合,对南海一号沉船出水的南宋初期景德镇窑和龙泉窑青瓷瓷釉的断层结构特征和化学成分特征进行综合无损分析研究。首先采用扫频OCT成像系统对两个窑址青瓷瓷釉断层结构及装饰工艺特征进行了研究,分析了青瓷瓷釉类型、釉层厚度、釉层内气泡、包裹体、表面裂纹等特征及分布状况,对比了两窑址青瓷瓷釉断层结构特征,确定了可能采用的装饰工艺。其次,利用X射线荧光(XRF)光谱分析获得了两窑址青瓷胎釉的化学成分,对比研究了两个窑址青瓷胎釉化学成分差异,进而探讨了瓷釉断层OCT图像特征与釉层化学成分之间存在的联系。实验结果表明,景德镇青瓷和龙泉青瓷样品在釉层厚度、气泡、裂纹、包裹体等瓷釉断层结构特征上差异明显,在胎釉化学成分方面,两类青瓷在胎釉着色相关元素、釉层碱性氧化物等成分含量上也存在差异。同时,瓷釉断面结构特征差异与釉层化学成分差异存在紧密联系。实验证明,将OCT与XRF相结合是一种有效的辨别瓷器窑口的科学技术方法。

机械加工伴生粉尘爆炸危险性分析

为客观认识打磨、抛光、切削等不同机加过程中粉尘爆炸危险性,开发一种既使用哈特曼管也使用20L球形爆炸测试装置改进的粉尘爆炸筛分测试方法。用此法对常见机加过程产生的85种铝及铝合金粉尘样品展开测试。分析不同加工方法对粉尘爆炸性的影响,使用X射线荧光法(XRF)分析粉尘在不同铝和铁含量下的爆炸性差异。利用热重分析-差示扫描量热法(TG-DSC)研究铝粉尘氧化程度和粉尘爆炸性的关系。研究表明:用所改进的方法,可将粉尘分为易爆、可爆、未爆等3类;抛光、打磨等机加过程粉尘爆炸危险性较高;各工业粉尘样品中易爆粉尘大多有40%以上铝含量或70%以上铁含量,可爆粉尘大多有40%以上铁含量;铝粉尘的爆炸危险与其氧化程度负相关,当单质含量小于5.0%时铝粉尘已不再具有爆炸危险性。

基于XRF的紫金山铜矿床硫地质特征

福建紫金山铜矿床属高硫浅成中低温热液矿床,矿石中主要含铜矿物为蓝辉铜矿、铜蓝和硫砷铜矿等,且铜矿物与黄铁矿密切共生。由于铜矿石中硫含量较高,导致铜精矿中硫含量超标,w(S)/w(Cu)比值为2.0~2.1,远高于冶炼要求的1.15~1.20,影响其经济价值。使用X射线荧光(XRF)光谱分析对紫金山铜矿中S元素的分布进行数字化研究,查明硫的空间分布规律和赋存状态,划分铜矿石类型,为紫金山铜矿今后的采选工作提供参考。

真空烤盘炉研制及石墨盘清洁效果检测方法

在金属有机化学气相沉积(MOCVD)外延生长过程中作为衬底片承载器的石墨盘表面不可避免地会附着GaN、AlN等残留沉积物,其会导致外延生长异常甚至失败,因此石墨盘表面清洁十分重要。介绍了所研制真空烤盘炉的结构、功能以及烤盘工艺,并提出一种利用X射线荧光(XRF)光谱分析法量化盘面清洁效果的方法。以单片6英寸(1英寸≈2.54 cm)衬底片的石墨盘为例,利用XRF光谱分析方法对石墨盘清洁前后的盘面元素组成进行测试,结果显示XRF光谱分析法可准确且稳定地表征石墨盘清洁效果,并且该真空烤盘炉可几乎完全清除石墨盘表面Ga的化合物,为石墨烤盘工艺和行业制定石墨盘清洁的合格标准提供参考。