粉末压片-X射线荧光光谱法测定富硅土壤和沉积物样品中的5种重金属元素

X射线荧光光谱法测定土壤和沉积物中的重金属具有简便、快速、准确等优点,但现有的环境行业标准方法不适用于SiO 2含量大于80%的土壤和沉积物的测定。为提高X射线荧光光谱法测定土壤和沉积物中的重金属在环境监测领域中的适用性,建立基于粉末压片-X射线荧光光谱法测定富硅土壤和沉积物中重金属的分析方法。通过选取富硅的土壤和沉积物标准物质提高校准曲线的测量范围以及优化各元素的测量条件,探讨基体效应和谱线重叠干扰、研究压片制样的最佳压力等途径,测定富硅土壤和沉积物中的Pb、Cr、Cu、Ni、Zn。结果表明,在已优化的测定条件下,通过延长校准曲线的测量上限,保证待测元素含量在校准曲线范围内,同时采用经验系数法和康普顿散射内标法校正基体效应,可进一步提高方法的准确度和精密度。方法比对结果显示,X射线荧光光谱法的测定结果与原子吸收光谱法的测定结果无显著性差异。选用2种不同的富硅标准物质进一步验证方法的精密度和准确度,Pb、Cr、Cu、Ni、Zn的测定结果与标准物质认定值的对数误差为0.002~0.08,相对标准偏差为1.0%~4.6%。方法的精密度和正确度满足土壤和水系沉积物环境监测分析的技术要求,具有良好的应用前景。

地质样品中痕量氯溴和硫的X射线荧光光谱法测定

报道了粉末压样 -X射线荧光光谱法测定地质样品中痕量Cl、Br、S的分析方法。采用水系沉积物、岩石和土壤等国家一级标准物质进行校准。实验表明 ,对于不同岩性样品中Br的分析 ,特别是当Br的含量低于 2 μg/g时 ,采用谱峰强度 (未扣除背景 )与背景强度的比进行校准所得到的结果 ,明显优于铑靶线的Compton散射线内标法 ,分析精度 (RSD ,n =6 )为 2 .4%～1 5 .3 % ,大多数优于 1 0 % ;平均值的相对误差低于 2 4 %。对于Cl的分析 ,只需对Ca的影响加以校正即可得到非常好的结果 ;不同样品中Cl的分析精度 (RSD ,n =6 )为 2 .1 %～ 1 3 .6 % ,大多数优于 5 % ;平均值的相对误差不大于 2 5 % ,多数优于 1 0 %。S的校准曲线的离散性较大 ,矿物学效应是影响S分析准确度的主要因素 ,其分析精度 (RSD ,n =6 )为 0 .87%～ 5 .6 % ,除个别样品外 ,平均值的相对误差优于 3 6 %。Cl和S均存在分析结果随测量时间 (次数 )的增加而增高的现象 ,必须在制样后立即测量。方法的检出限 (μg/g)Br、Cl、S分别为 0 .43、5 .8和 2 .2。

粉末压片-X射线荧光光谱法测定地质样品中痕量硫的矿物效应佐证实验及其应用

矿物效应是影响X射线荧光光谱（XRF）分析硅酸盐地质样品中S元素准确度的主要因素之一。本文在前人研究基础上，采用XRF仪器，运用粉末压片技术制备样品，从压力实验、S的灵敏度实验和质量吸收系数对比实验等方面对S的矿物效应进行了佐证；在此基础上，提出分类校准方案，建立了同一类型土壤和水系沉积物系列S的分析方法。方法检出限为1．36μg／g，相对标准偏差为0．97％～3．2％（RSD，n=10），校准曲线准确度为0．0058％，测量值与认定值比较吻合。该研究有助于进行硅酸盐地质样品中痕量S的XRF分析测试时结果的分析。

X射线荧光光谱法测定化探样品中主、次和痕量组分

采用粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对化探样品中氯、溴、硫、氧化钠、氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、磷、氧化钾、氧化钙、钛、锰、三氧化二铁、钴、铌、锆、钇、锶、铷、铅、钍、锌、铜、镍、钒、铬、钡、镧、铈、钕、钪、镓、砷、铪等34个组分进行测定。讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正及氯测定的问题。使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质检验,分析结果与标样值吻合,用GBW07308国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除砷、钒、镍、铜<6.0%,溴、硫、铈、铪、钕、钪、氧化钠、镧、铬、钴和钍<14.0%以外,其余各组分均小于3.0%。

直接粉末制样-小型偏振激发能量色散X射线荧光光谱法分析地质样品中多元素

采用小型偏振激发能量色散X射线荧光光谱仪,直接粉末制样法,分析了硅酸盐类岩石、土壤、沉积物样品。实验结果表明,主量元素的总分析精度优于2%RSD,主要受制样精度控制。不同含量的痕量元素的总分析精度一般优于5%RSD,含量低时可达约20%RSD。制样精度(方差)在分析总精度(方差)中所占的比例一般大于50%,且元素原子序数越小、含量越高(计数统计涨落小),所占的比例越大。实验还表明,对于大多数元素,在样品量大于1 g后,分析结果变化不显著;但Ba等重元素在样品量小于5 g时结果受样品量影响显著;实际分析中可以不必称量样品,但应保证所使用的样品量大于5 g。通过作为未知样品分析的标准参考物的分析结果和参校标准物质的回算结果的综合考察,并参照中国地质调查局多目标地球化学调查规范(1∶25万),该方法在常规情况下可定量分析K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、N i、Cu、Zn、Ga、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Ba、Pb、Th等20个元素,过渡金属元素的测定限在10 mg/kg左右。由于制样方法简单,无需制样设备,该方法适合于车载野外现场快速分析。

X射线荧光光谱技术在铬铁矿石分析中的应用文献评介

当今X射线荧光光谱(XRF)已成为铬铁矿石分析最重要的方法之一。作者收集了1998-2018年间我国X射线荧光技术分析铬铁矿石的期刊文献共计18篇,其中13篇采用熔融制样方法,5篇采用粉末压片制样方法。文章介绍了我国铬铁矿分析概况,用列表方式对18篇期刊文献简介了方法要点,对其中较典型、有代表性的文献按制样方法进行了重点评介,最后讨论了XRF分析地质材料时的制样方法选取、样品粒度和矿物效应的影响、铬铁矿X射线荧光光谱分析方法的未来发展趋势等问题。全篇共引文60篇。

X射线荧光光谱技术在铁矿石分析中的应用文献评介

系统汇集了20世纪70年代以来我国使用X射线荧光光谱(XRF)分析技术进行铁矿石分析的文献共计101篇,其中熔融制样法文献78篇,粉末压片法文献11篇,能量色散仪器分析及野外现场应用文献12篇。首先介绍了铁矿石分析的基础条件:包括专著、标准物质、标准方法和综合性评述论文;然后采用表格方式对文献要点进行了介绍,按熔融法、粉末压片法、能量色散多元素分析方法进行了重点评介;最后讨论了铁矿石分析中常遇到的粒度、矿物效应,制样方法选择和内标的应用等实际问题。对XRF在铁矿石分析中的某些重要问题进行了探讨,并对XRF分析铁矿石的应用前景作了展望。文献表明:XRF技术已经成为铁矿石主、次量元素分析最重要的分析方法之一。全篇引文151篇。

X射线荧光光谱在岩石分析中的应用评介

X射线荧光光谱(XRF)在岩石分析中的应用是其在地质材料领域分析应用的基础。文章以硼酸盐熔融制样、高精密度全自动化现代XRF仪器及软件和基体效应数学校正等为主的现代XRF理论与技术方法的引入、消化、研发及应用,多种标准物质系列的形成与实际应用研究工作,直接压片法岩石多元素精确分析的研究与应用和用能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)进行岩石主次组分准确分析的探索等方面较全面地评介了XRF分析技术在我国岩石分析中应用的历史发展和已取得的重要成果。最后评介了这些成果的历史和现实意义:XRF作为一种快速、准确、高自动化的现代仪器分析方法已基本“替代”了传统的化学方法中主、次、痕量元素的分析,而成为当今地质材料多元素分析的主导方法。文章特别强调了在超细标准物质研制与超细样品制备方面的研究工作以及该项研究的意义和可能的深远影响,美国国家标准与技术研究院(NIST)在这方面的研究工作标志着这将是地质分析技术研究的一个新的研究方向。引文161篇。

X射线荧光光谱在铜矿石分析中的应用文献评介

作者收集了我国用X射线荧光光谱(XRF)分析技术进行铜矿石(含铜精矿)分析的文献共计51篇,其中野外现场分析文献21篇,实验室内分析文献30篇。实验室内方法文献包括熔融制样法12篇,粉末压片制样的15篇,其他方法3篇。文章用列表方式对文献要点进行了介绍,对其中的多元素分析方法文献进行了重点评介,也特别讨论了X射线荧光光谱分析的技术条件、制样方法选取、标准物质与标准方法等问题。文献表明:XRF已成为铜矿石主次痕量分析最强有力的技术方法之一,并随着社会对环境需求的增长,直接粉末压片制样的XRF方法必将具有更广阔的发展前景。全篇引文89篇。

X射线荧光光谱分析法同时测定化探样品中多组分的含量

采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2O3、Al2O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定。采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应。用国家标准物质做检验,测量结果与标样认定值吻合,用国家一级标准物质GBW 07401做精密度试验,统计结果RSD(n=10)除Br、Ce、Co、Ge、La、Mo、U、Sn、Sc和Nd小于10%,其余均小于5%。

X荧光光谱法测定烧结矿中SiO_2等7个成分的含量

本文采用粉末压片法制样 ,X荧光光谱法分析烧结矿中的 TFe、Si O2 、Ca O、S、Mg O、Al2 O3、P,建立的校准曲线线性较好 。

压片制样-X射线荧光光谱法测定不锈钢渣中10种组分

由于不锈钢标渣在市场上很难购买，且熔融制样X射线荧光光谱（XRF）无法满足炉前不锈钢渣样的快速分析要求，实验利用转炉渣、高炉渣、平炉渣等标准样品和文献方法定值的不锈钢渣生产样品，建立熔融制样X射线荧光光谱的校准曲线，并用于不锈钢渣样的定值分析，将此定值分析结果用于压片制样X射线荧光光谱校准曲线的绘制，从而实现不锈钢渣中CaO、SiO2、Al203、MnO、MgO、TFe、P2O6、TiO2、Cr2O3和NiO的炉前快速分析。对熔融制样的条件及方法的精密度和准确度均进行了考察，保证了绘制校准曲线用不锈钢渣测定结果的准确性。通过试验确定压片制样X射线荧光光谱的分析条件为：研磨时间50 s；40g试样中添加5粒粘合剂；100kN压力，保压时间15S进行压片。各组分校准曲线的相关系数均大于0．999。对同一不锈钢渣进行压片制样XRF的精密度考察，各组分测定结果的相对标准偏差为0．43％～4．6％；准确度验证结果表明，压片制样的测定结果同熔融制样的测定结果一致，但压片制样XRF满足炉前不锈钢渣分析量大、分析速度快的要求。

X射线荧光光谱法测定碳酸锶产品中锶钡钙镁组分含量

采用人工配制系列标准样,硼酸镶边垫底粉末压片方法制样,建立X射线荧光光谱法测定SrCO3产品中锶钙钡镁含量的定量分析曲线。由于SrCO3产品中锶含量极高,按照仪器给定的测量条件进行测量会产生谱峰饱和现象,造成计数率溢出,分析结果误差较大;文章对锶的分析条件进行了研究,提出降低锶的测定功率来降低计数率,以达到测量目的。同时还对自成特性很差的SrCO3产品的压片条件进行了讨论。使用α经验系数法校正基体效应,通过对实际样进行检验,测量值与化学分析值结果吻合。方法的检出限和准确度均满足分析要求。方法的RSD分别为Sr0.029%,Ba0.17%,Ca0.89%,Mg0.20%。

粉末压片-X射线荧光光谱法测定地质样品中镧铈镨钕钐

快速准确测定地质样品中La、Ce、Pr、Nd、Sm,能够为寻找稀土矿物提供基础依据。实验在对样品粒度、样品的磨制方法优化的基础上,选取与待测样品粒度一致、基体相似、各元素含量有梯度且含量范围足够宽的岩石、土壤、水系沉积物、稀土和部分多金属系列标准物质作为校准样品,用综合数学校正公式校正谱线重叠干扰,实现了粉末压片-X射线荧光光谱法(XRF)对地质样品中轻稀土元素La、Ce、Pr、Nd、Sm的测定。实验表明,当样品粒度不小于160目(0.097 mm)时,测定结果与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)最相符;对60~80 g样品用粉碎机磨制4 min,过160目筛的过筛率为96.7%~98.5%,过筛率能满足地质标准(DZ/T 0130.2-2006)过筛率大于95%要求,筛上团聚颗粒轻磨后100%过160目筛。各元素的检出限如下所示:La 2.93μg/g、Ce 3.86μg/g、Pr 2.84μg/g、Nd 2.97μg/g、Sm 4.18μg/g。选择地质实际样品,按照实验方法分别重复制备7个样片,La、Ce、Pr、Nd、Sm测定结果的相对标准偏差(RSD,n=7)为0.81%~1.4%。选取4个地质样品,分别按照选定的方法对La、Ce、Pr、Nd、Sm进行测定,测得结果与参考值(电感耦合等离子体质谱法多次测量的平均值)吻合。取未参与校准由线回归的稀土、土壤、水系沉积物、岩石标准物质各一个,按照实验方法分别进行5次平行测定,计算各轻稀土元素的测定平均值,结果表明,测定值均在标准值误差允许范围内。

X射线荧光光谱法快速测定地质样品中的钼

报道了粉末压片-X射线荧光光谱法快速测定地质样品中的钼,采用经验系数法校正了锶、铀等元素对钼的干扰,分段处理校准曲线使测定结果更准确,同时探讨了制样对测定结果的影响.方法精密度好(RSD为7.91%,n=11),检出限可达到0.48μg/g.测定过程简单、快速,测定结果与化学值吻合,非常适合地质样品的批量化测定.

粉末压片-X射线荧光光谱法测定烧结矿中K_2O、Na_2O、Pb、Zn、Cu方法研究

首先用X射线熔融法对自制内控标样进行定值,然后采用粉末直接压片法-X射线荧光光谱法测定烧结矿中K2O、Na2O、Pb、Zn、Cu等微量化学成分,通过基体校正等手段,获得准确的结果,该方法快速准确、成本低。

X射线荧光光谱法测定氧化锌粉中锌铁硫铜铅

以粉末压片方法自制样品,采用荷兰帕纳科Axios-PW4400型波长色散X射线荧光光谱仪一次测定氧化锌粉中的锌、铁、硫、铜、铅5种元素含量。试验测定结果与常规化学分析方法测定结果一致。分析结果准确、快速,成本低,适合湿法炼锌工艺系统中连续生产需要。

粉末压片—WDXRF测定化探样品中主次痕量元素

采用粉末压片法制取试样、X射线荧光光谱法测定化探样品中33种主、次、痕量元素（Al、As、Ba、Br、Ca、Ce、Co、Cr、Cu、Fe、Ga、Hf、K、Mg、Mn、Na、Nb、Nd、Ni、P、Pb、Rb、Sc、Si、Sr、Th、Ti、U、V、Y、Yb、Zn、Zr）。对各元素的测定条件、仪器参数进行了设置调整,选取了与试样基体相匹配的定值样品建立工作曲线,对曲线拟合进行了研究,用经验系数法和Compton散射线内标法相结合校正基体效应,提高了分析精度。经对标准物质的验证,分析结果与标定值吻合,方法的检出限和精度均满足分析要求,相对标准偏差（RSD,n=11）为0.1～10%,满足多目标地球化学调查样品分析的质量要求,可用于化探样品的常规分析。

粉末压片-波长色散X射线荧光光谱法测定金矿型构造叠加晕样品中18种次量元素

金矿床型构造叠加晕样品中的砷锑铋银锡钨等金属元素含量对金矿多期次多阶段成矿具有指示意义。此类样品采集于金矿中,样品各元素含量范围大,从克吨级至百分之几,分布也不均匀。采用常规的检测方法分析时,存在元素间干扰不易消除、记忆效应严重等问题。本文建立了粉末压片-波长色散X射线荧光光谱法测定金矿型构造叠加晕样品中砷锑铋等18种次量元素的定量分析方法。通过研究角度扫描图,选择了干扰少、强度高的分析线;充分混匀样品,消除了偏析效应;选用与样品基体类似的国家标准样品建立工作曲线,通过数学校正和内标法校正了谱线重叠干扰和基体效应。方法检出限为0. 14～2. 23μg/g,精密度(RSD,n=12)小于4%。本方法可快速、准确地测定金矿床型构造叠加晕样品中各元素的含量。

高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪特性研究及地质样品中主微量元素分析

高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪由于其高能特性为包括重金属和稀土元素在内的原子序数较大的重元素分析带来了新的契机。本文应用高能偏振X射线荧光光谱仪(HE-P-EDXRF)建立了土壤、岩石和水系沉积物中主微量元素分析方法,对分析线的选择、谱线重叠干扰校正及基体校正模式等进行了探讨,并用不确定度对方法进行了评估。研究表明:①原子序数较大的微量元素选取Kα线作为分析线,谱线重叠干扰较少,有利于获得谱峰净强度,甚至La、Ce和Nd等稀土元素也能够准确测定;②合适的基体校正方法能够改善标准曲线拟合效果;③微量元素Ba和稀土元素La、Ce等,HE-P-EDXRF方法检出限具有明显优势,而对于轻元素WDXRF方法检出限更低;④检验样本除Na2O、MgO、P和Sm外平均相对误差均在15%以下,微量元素相对平均误差在2.40%~16.3%之间,除Cu和Yb外其余微量元素准确度结果显著优于WDXRF;⑤根据欧盟和国际上不确定度的评估方法,除V和Th外,其他微量元素与有证标准物质的认定值间不存在显著性差异。综合来看,本方法更适用于分析岩石、土壤和沉积物等常规地质样品中的微量和稀土元素,解决了此类样品中微量元素对ICP-MS等需复杂化学前处理的分析方法的依赖。