YIG调谐器件漏磁特性仿真分析

YIG调谐器件在现代电子对抗系统中应用广泛,但针对YIG调谐器件的漏磁特性缺乏定量分析。通过对YIG调谐器件的漏磁特性建模及仿真,特别是针对测试样品射频连接器区域磁场仿真和漏磁测量,得到其漏磁分布曲线,实现了YIG调谐器件的漏磁定量分析,为YIG调谐器件工程应用中抗漏磁干扰设计提供了依据。此外,该研究对于有效降低YIG调谐器件的漏磁干扰,提高整机系统技术指标和改善工作性能有着一定的指导意义。

提高YIG调谐器件温度稳定性的有效方法

一、前言 YIG调谐器件是具有综合优良性能的高级微波器件。由于仪器、设备、原材料及智力的投入密度都很高,所以这类器件的价格也很高,以致于只有重要军事工程与高档微波仪器才用得起。近年来国外YIG调谐器件全门类大幅度发展,给军事上的应用开辟了更新的前景,给不同国度的同行间技术竞争带来新的势态。电子计算机技术的应用,缓解了对这类器件某些性能指标的严苛要求。