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Preparation of ZAO film by low-temperature hydrothermal approach and its electrical property 被引量:1
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作者 薛峰 刘江伟 +1 位作者 刘建华 于美 《Journal of Harbin Institute of Technology(New Series)》 EI CAS 2010年第1期47-50,共4页
Al-doped ZnO (ZAO) films were successfully deposited on the surface of common glasses by using low-temperature hydrothermal approach. In the reaction solution, the molar ratio of Al3+ to Zn2+ was 1∶100, the annealing... Al-doped ZnO (ZAO) films were successfully deposited on the surface of common glasses by using low-temperature hydrothermal approach. In the reaction solution, the molar ratio of Al3+ to Zn2+ was 1∶100, the annealing temperature and time were 200 ℃ and 2-6 h, respectively. The structure of the thin films was identified by X-ray diffraction (XRD), the surface morphology and thickness of the thin films were observed by scanning electron microscopy (SEM), and the electrical performance of the thin films was measured by four-point probes. It was shown that the films with an average particle size of 27.53 nm had a preferential orientation along (002), Al3+ had replaced the position of Zn2+ in the lattice without forming the Al2O3 phase and its thickness was 20-25 μm. With the increased annealing time, the intensity of diffraction peaks was decreased, the film exhibited irregular surface morphology gradually, and the resistivity of ZAO films was increased. The lowest resistivity obtained in this study was 3.45×10-5Ω·cm. 展开更多
关键词 薄膜制备 电性能 低温 水热法 扫描电子显微镜 X射线衍射仪 表面形貌 退火时间
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Analysis on the process of ZAO films by DC magnetron reactive sputtering 被引量:4
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作者 LU Feng XU ChengHai WEN LiShi 《Science China(Technological Sciences)》 SCIE EI CAS 2011年第1期28-32,共5页
The ZAO (ZnO:Al) thin films were prepared by DC reactive magnetron sputtering technique. The relationship between the process parameters and the organizational structure,optical and electrical properties was studied. ... The ZAO (ZnO:Al) thin films were prepared by DC reactive magnetron sputtering technique. The relationship between the process parameters and the organizational structure,optical and electrical properties was studied. Through optimizing the process parameters,an optimal preparation parameter can be obtained. Using the optimal parameters to prepare the ZAO thin films,the resistivity of the ZAO film is as low as 4.5×10-4 Ω·cm and the average transmissivity in the visible region is around 80%,the optical and electrical properties meet the application requirements. 展开更多
关键词 zao薄膜 直流磁控反应溅射 优化工艺参数 磁控溅射技术 电学性能 直流反应 组织结构 最佳参数
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Research progress of transparent conducting ZnO:Al (ZAO) films
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作者 黄佳木 Dong +1 位作者 Jianhua 《Journal of Chongqing University》 CAS 2002年第2期62-66,共5页
Owing to both of its high carrier concentration and large band gap, ZnO:Al (ZAO) films which is an n-type degenerate semiconductor, exhibits low resistance and high transmittance in the visible range. This work studie... Owing to both of its high carrier concentration and large band gap, ZnO:Al (ZAO) films which is an n-type degenerate semiconductor, exhibits low resistance and high transmittance in the visible range. This work studies the crystal structure, optical and electrical properties and preparation methods of ZAO films, and discusses the existing problems and application prospective of ZAO films. 展开更多
关键词 氧化锌 铝薄膜 zao薄膜 薄膜结构 光学性能 电学性能 透明导电性
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ZnO:Al(ZAO)薄膜的制备与特性研究 被引量:20
4
作者 裴志亮 张小波 +3 位作者 王铁钢 宫骏 孙超 闻立时 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2005年第1期84-88,共5页
采用磁控溅射技术制备了ZnO:Al(ZAO)薄膜.研究了不同的工艺参数对薄膜的组织结构和光电特性的影响.实验结果表明,多晶ZAO薄膜具有(001)择优取向且呈柱状生长,能量机制决定其微观生长状态.讨论了薄膜的内应力,高的沉积温度和低的溅射功... 采用磁控溅射技术制备了ZnO:Al(ZAO)薄膜.研究了不同的工艺参数对薄膜的组织结构和光电特性的影响.实验结果表明,多晶ZAO薄膜具有(001)择优取向且呈柱状生长,能量机制决定其微观生长状态.讨论了薄膜的内应力,高的沉积温度和低的溅射功率可有效减小薄膜的内应力.优化的ZAO薄膜电阻率和在可见光区的平均透射率可分别达到3×10-4-4×10-4Ω·cm和80%以上. 展开更多
关键词 直流反应磁控溅射 zao薄膜 生长机制 光电特性
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透明导电ZnO∶Al(ZAO)纳米薄膜的性能分析 被引量:9
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作者 陆峰 徐成海 +3 位作者 曹洪涛 裴志亮 孙超 闻立时 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 2003年第1期9-11,15,共4页
用直流反应磁控溅射法制备ZAO纳米薄膜 ,对这种薄膜进行了XRD分析 ,并对其光、电性能作了详细的研究。结果表明 :ZAO薄膜的结构为标准的ZnO纤锌矿相 ,没有Al2 O3 相出现 ;其最低电阻率为 4 5× 10 -4Ω·cm、可见光透射率在 8... 用直流反应磁控溅射法制备ZAO纳米薄膜 ,对这种薄膜进行了XRD分析 ,并对其光、电性能作了详细的研究。结果表明 :ZAO薄膜的结构为标准的ZnO纤锌矿相 ,没有Al2 O3 相出现 ;其最低电阻率为 4 5× 10 -4Ω·cm、可见光透射率在 80 %以上 ,红外波段的反射率达 70 %以上 。 展开更多
关键词 纳米薄膜 直流反应磁控溅射法 结构 电阻率 透射率 反射率 半导体 氧化锌 氧化铝
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ZAO透明导电纳米薄膜中Al元素分布对其性能的影响 被引量:5
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作者 陆峰 徐成海 +1 位作者 孙超 闻立时 《东北大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第1期54-57,共4页
主要对直流反应磁控溅射法制备ZAO纳米薄膜中Al元素的相对含量进行了分析,对其作了EDS,XRD测试,并研究了Al质量分数与ZAO薄膜的光、电性能的关系·得出ZAO薄膜中成分是均匀的,具有ZnO晶体结构;Al元素的掺杂没有形成新的化合物(Al2O3... 主要对直流反应磁控溅射法制备ZAO纳米薄膜中Al元素的相对含量进行了分析,对其作了EDS,XRD测试,并研究了Al质量分数与ZAO薄膜的光、电性能的关系·得出ZAO薄膜中成分是均匀的,具有ZnO晶体结构;Al元素的掺杂没有形成新的化合物(Al2O3),Al对Zn的掺杂替换是提高ZAO薄膜导电性能的关键因素,对薄膜在可见光区的透射性影响不大·制备的薄膜最低电阻率为4 5×10-4Ω·cm,可见光透射率达到80%以上· 展开更多
关键词 透明导电纳米薄膜 AL元素 zao薄膜 Al质量分数 EDS XRD 电阻率 透射率 氧化锌薄膜 光性能 电性能 铝元素
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透明导电膜ZnO:Al(ZAO)的组织结构与特性  被引量:28
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作者 孙超 陈猛 +3 位作者 裴志亮 曹鸿涛 黄荣芳 闻立时 《材料研究学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第2期113-120,共8页
ZnO:Al(ZAO)是一种简并半导体氧化物薄膜材料,具有高的载流子浓度和大的光学禁带宽 度,因而具有优异的电学和光学性能,极具应用价值.对于其能级高度简并的ZAO半导体薄膜材料,在 较低的温度下,离化杂质散射占主导地... ZnO:Al(ZAO)是一种简并半导体氧化物薄膜材料,具有高的载流子浓度和大的光学禁带宽 度,因而具有优异的电学和光学性能,极具应用价值.对于其能级高度简并的ZAO半导体薄膜材料,在 较低的温度下,离化杂质散射占主导地位;在较高的温度下,晶格振动散射将成为主要的散射机制;晶界散 射仅当晶粒尺寸较小(与电子的平均自由程相当)时才起作用, 本文介绍了ZAO薄膜的制备方法、晶体 结构特性。 展开更多
关键词 组织结构 透明导电氧化物 简并半导体 zao薄膜 散射机制 光学性质 氧化锌 氧化铝 电学性质
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工作气压对磁控溅射ZAO薄膜性能的影响 被引量:21
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作者 付恩刚 庄大明 +2 位作者 张弓 杨伟方 赵明 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第5期543-545,共3页
 工作气压在ZnO∶Al(ZAO)薄膜制备过程中是一个重要的工艺参数,直接决定着薄膜的性能。本文利用中频交流磁控溅射方法,采用氧化锌铝(ZnO与Al2O3的质量比为98∶2)陶瓷靶材,在基体温度为250℃,工作气压范围为0.2~8.0Pa条件下,制备了ZAO...  工作气压在ZnO∶Al(ZAO)薄膜制备过程中是一个重要的工艺参数,直接决定着薄膜的性能。本文利用中频交流磁控溅射方法,采用氧化锌铝(ZnO与Al2O3的质量比为98∶2)陶瓷靶材,在基体温度为250℃,工作气压范围为0.2~8.0Pa条件下,制备了ZAO薄膜。利用X射线衍射仪和原子力显微镜对薄膜的结构和形貌进行了分析和观察,利用分光光度计和霍尔测试仪测量了薄膜的光学和电学性能,研究了制备薄膜时不同的工作气压(氩气压力PAr)对薄膜的结构、形貌、光学性能和电学性能的影响。结果表明:随着工作气压的增加,薄膜的电阻率先略有下降然后上升,相应地,载流子浓度和迁移率先略有上升然后下降,而可见光谱平均透过率保持在80%以上。当基体温度为250℃,氩气压力为0.8Pa时,薄膜的电阻率最低,为4.6×10-4Ω·cm,方块电阻为32Ω时,在范围为490~600nm的可见光谱内的平均透过率可达90.0%。 展开更多
关键词 zao薄膜 性能 磁控溅射 工作气压 工艺参数 电阻率 透过率
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ZAO薄膜的溶胶-凝胶法制备及性能研究 被引量:9
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作者 任明放 徐模辉 +1 位作者 王华 许积文 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第2期80-82,90,共4页
以普通玻璃载玻片为衬底,采用溶胶-凝胶工艺成功地制备出沿(002)晶面择优取向生长的ZAO薄膜。用XRD、SEM、紫外-可见光分光光度计和四探针电阻测试仪进行了结构和性能分析,研究了掺Al3+浓度、镀膜层数和退火温度对ZAO薄膜的晶体结构、... 以普通玻璃载玻片为衬底,采用溶胶-凝胶工艺成功地制备出沿(002)晶面择优取向生长的ZAO薄膜。用XRD、SEM、紫外-可见光分光光度计和四探针电阻测试仪进行了结构和性能分析,研究了掺Al3+浓度、镀膜层数和退火温度对ZAO薄膜的晶体结构、形貌及光电性能的影响。当掺杂浓度为1%(原子分数)、镀膜层数为12层、在氩气气氛下经过600℃退火时,得到电阻率为1.37×10-2Ω.cm、可见光范围内平均透射率超过90%的ZAO薄膜。 展开更多
关键词 溶胶-凝胶法 zao薄膜 光电性能 微观结构
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ZnO:Al(ZAO)透明导电薄膜的制备及其特性 被引量:30
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作者 黄佳木 董建华 张新元 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2002年第11期7-10,13,共5页
笔者采用射频磁控溅射工艺、以氧化锌铝陶瓷靶为靶材制备透明导电ZAO薄膜,系统研究了各工艺参数,如氧流量、工作气压、温度、射频功率和退火条件等对其结构和光电特性的影响。实验结果表明:在纯氩气中且衬底温度为300℃时制备的ZAO薄膜... 笔者采用射频磁控溅射工艺、以氧化锌铝陶瓷靶为靶材制备透明导电ZAO薄膜,系统研究了各工艺参数,如氧流量、工作气压、温度、射频功率和退火条件等对其结构和光电特性的影响。实验结果表明:在纯氩气中且衬底温度为300℃时制备的ZAO薄膜经热处理后电阻率降至8.7104 W·cm,可见光透过率在85%以上。X射线衍射谱表明ZAO晶粒具有六角纤锌矿结构且呈c轴择优取向,晶粒垂直于衬底方向柱状生长。 展开更多
关键词 导电薄膜 制备 射频磁控溅射 光电特性 锌氧铝薄膜 氧化铎 氧化锌铝陶瓷
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电子束蒸发沉积ZAO薄膜正交试验 被引量:9
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作者 郭爱云 薛亦渝 +2 位作者 夏志林 朱选敏 葛春桥 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第7期56-59,共4页
采用电子束真空蒸发沉积薄膜的方法(EBED)制备了ZnO:A1(ZAO)透明导电薄膜。用正交试验法设计试验,并分析了制备ZAO薄膜的主要影响因素(沉积厚度、沉积速率、基片温度)对薄膜性能(透射率、电阻率)的作用。试验结果表明:采用EBED法沉积制... 采用电子束真空蒸发沉积薄膜的方法(EBED)制备了ZnO:A1(ZAO)透明导电薄膜。用正交试验法设计试验,并分析了制备ZAO薄膜的主要影响因素(沉积厚度、沉积速率、基片温度)对薄膜性能(透射率、电阻率)的作用。试验结果表明:采用EBED法沉积制备ZAO薄膜时,沉积速率控制为1nm/s、沉积厚度为800nm、基片温度为250℃,镀膜系统工作稳定,沉积薄膜的性能较好。 展开更多
关键词 zao薄膜 电子束蒸发沉积 正交试验
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基体温度对磁控溅射沉积ZAO薄膜性能的影响 被引量:9
12
作者 付恩刚 庄大明 +4 位作者 张弓 方玲 梁展鸿 吴敏生 杨伟方 《真空科学与技术》 EI CSCD 北大核心 2003年第1期12-15,共4页
利用中频交流磁控溅射方法 ,采用氧化锌铝陶瓷靶材 [w(ZnO) =98%、w(Al2 O3 ) =2 % ]制备了ZAO(ZnO∶Al)薄膜 ,观察了基体温度对ZAO薄膜的晶体结构、电学和光学性能的影响 ,采用X射线衍射仪对薄膜的结构进行了分析 ,采用光学分度计和电... 利用中频交流磁控溅射方法 ,采用氧化锌铝陶瓷靶材 [w(ZnO) =98%、w(Al2 O3 ) =2 % ]制备了ZAO(ZnO∶Al)薄膜 ,观察了基体温度对ZAO薄膜的晶体结构、电学和光学性能的影响 ,采用X射线衍射仪对薄膜的结构进行了分析 ,采用光学分度计和电阻测试仪测量了薄膜的光学、电学特性 ,采用霍尔测试仪测量了薄膜的载流子浓度和霍尔迁移率。结果表明 :沉积薄膜时的基体温度对薄膜的结构、结晶状况、可见光透射率以及导电性有较大的影响。当基体温度为 2 5 0℃ ,Ar分压为 0 8Pa时 ,薄膜的最低电阻率为 4 6× 10 -4Ω·cm ,方块电阻为 35Ω时 ,可见光 (λ =5 5 0nm)透射率高达 92 0 %。 展开更多
关键词 基体温度 磁控溅射沉积 ZA0薄膜 氧化锌 氧化铝 电阻率 透射率 半导体
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衬底温度对射频溅射沉积ZAO透明导电薄膜性能的影响 被引量:22
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作者 孙奉娄 惠述伟 《中南民族大学学报(自然科学版)》 CAS 2009年第2期10-13,共4页
利用射频磁控溅射法制备了ZAO透明导电薄膜,通过XRD、SEM等手段对薄膜特性进行测试分析,研究了衬底温度对薄膜结构、表面形貌及其光电性能的影响.结果表明:衬底温度从300℃增加到400℃时,薄膜晶粒增大,晶粒结构分布规则,电阻率快速下降... 利用射频磁控溅射法制备了ZAO透明导电薄膜,通过XRD、SEM等手段对薄膜特性进行测试分析,研究了衬底温度对薄膜结构、表面形貌及其光电性能的影响.结果表明:衬底温度从300℃增加到400℃时,薄膜晶粒增大,晶粒结构分布规则,电阻率快速下降,可见光平均透过率明显提高.当衬底温度为400℃时ZAO薄膜的电阻率为2×10-3Ω.cm、透过率为84%,但是当衬底温度进一步升高时,薄膜性质将呈现下降趋势. 展开更多
关键词 zao薄膜 衬底温度 电阻率 透过率
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溶胶-凝胶法制备ZAO薄膜研究 被引量:9
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作者 陈黄鹂 罗发 +2 位作者 周万城 朱冬梅 吴红焕 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2007年第A01期889-891,共3页
研究了用溶胶-凝胶法制备ZAO薄膜的工艺、掺杂及其显微结构。用六水合氯化铝在溶胶中引入Al2O3。掺杂Al的含量为1%,3%,6%和9%。用浸涂法在石英玻璃基片上浸涂ZnAO薄膜,研究了热处理、掺杂对ZAO薄膜相组成和显微结构的影响。X射线衍射结... 研究了用溶胶-凝胶法制备ZAO薄膜的工艺、掺杂及其显微结构。用六水合氯化铝在溶胶中引入Al2O3。掺杂Al的含量为1%,3%,6%和9%。用浸涂法在石英玻璃基片上浸涂ZnAO薄膜,研究了热处理、掺杂对ZAO薄膜相组成和显微结构的影响。X射线衍射结果表明,衍射图谱中无Al2O3的衍射峰。随着掺杂量的变化,ZnO主要衍射峰的位置、晶面间距均发生了有规律的变化,说明Al掺杂进了ZnO晶格中。研究结果表明,溶胶浓度、Al掺杂量、热处理温度都影响薄膜的显微结构。当薄膜厚度较大时,热处理过程中ZnO晶粒呈现明显的择优生长现象。 展开更多
关键词 溶胶-凝胶 Al^3+掺杂 zao薄膜
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中频交流磁控溅射制备氧化锌铝(ZAO)薄膜的研究 被引量:4
15
作者 刘江 庄大明 +2 位作者 张弓 李春雷 段宇波 《中国表面工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第1期15-18,23,共5页
利用两种中频交流磁控溅射电源,溅射Al2O3含量为2%的两块氧化锌铝陶瓷靶材,在不同衬底温度的条件下制备得到了ZAO薄膜。研究了不同衬底温度条件下不同靶材和溅射电源对ZAO薄膜结构、电学和光学性能的影响。结果表明,制备得到的ZAO薄膜... 利用两种中频交流磁控溅射电源,溅射Al2O3含量为2%的两块氧化锌铝陶瓷靶材,在不同衬底温度的条件下制备得到了ZAO薄膜。研究了不同衬底温度条件下不同靶材和溅射电源对ZAO薄膜结构、电学和光学性能的影响。结果表明,制备得到的ZAO薄膜均具有c轴择优取向生长的晶体结构,在衬底温度为240℃时,得到的ZAO薄膜的电阻率低至1.4×10-3Ω·cm,可见光平均透过率在82%以上。 展开更多
关键词 zao薄膜 磁控溅射 电阻率 透过率
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透明导电ZnO:Al(ZAO)薄膜的结构及光电特性研究 被引量:14
16
作者 黄佳木 董建华 张新元 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第6期845-850,共6页
ZAO薄膜是一种n型氧化物半导体材料,由于其大的载流子浓度和光学禁带宽度而表现出优良的光电特性。本实验采用射频磁控溅射工艺在无机玻璃衬底上制备ZAO薄膜,靶材为ZAO(3wt%Al2O3)陶瓷靶。系统研究了各工艺参数,如工作气压、射频功率、... ZAO薄膜是一种n型氧化物半导体材料,由于其大的载流子浓度和光学禁带宽度而表现出优良的光电特性。本实验采用射频磁控溅射工艺在无机玻璃衬底上制备ZAO薄膜,靶材为ZAO(3wt%Al2O3)陶瓷靶。系统研究了各工艺参数,如工作气压、射频功率、衬底温度和热处理条件对其结构和光电特性的影响。X射线衍射谱表明ZAO薄膜的(002)衍射峰的位置与纯ZnO晶体相比向低角度方向移动,薄膜中各晶粒具有六角纤锌矿晶体结构且呈c轴择优取向。原位制备的ZAO薄膜经热处理后电阻率降至7 5×10-4Ω·cm,可见光透过率在85%以上。 展开更多
关键词 射频磁控溅射 zao薄膜 结构 光电特性
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基于磁控溅射技术的ZAO透明导电薄膜及靶材的研究 被引量:12
17
作者 肖华 王华 任鸣放 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2006年第2期158-164,共7页
阐述用磁控溅射技术制备综合性能优良的ZAO透明导电薄膜及其靶材的发展现状和趋势。介绍了透明导电薄膜的基本性能及其存在的问题,进而重点阐述了ZAO薄膜的组织结构、导电机制和透光特性。由于其优良的光电特性(用掺杂Al2O3质量分数达3... 阐述用磁控溅射技术制备综合性能优良的ZAO透明导电薄膜及其靶材的发展现状和趋势。介绍了透明导电薄膜的基本性能及其存在的问题,进而重点阐述了ZAO薄膜的组织结构、导电机制和透光特性。由于其优良的光电特性(用掺杂Al2O3质量分数达3%的溅射靶材可制备电阻率达4.7×10-4Ω·cm、透射率超过90%的ZAO薄膜)而具有广泛的应用前景。并针对靶材的制备和利用磁控溅射技术制备ZAO透明导电薄膜过程中存在的问题及发展方向进行了分析讨论。 展开更多
关键词 磁控溅射 zao透明导电薄膜 溅射靶材 光电特性
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ZAO薄膜的光电特性与应用前景 被引量:10
18
作者 杨伟方 付恩刚 +1 位作者 庄大明 张弓 《真空》 CAS 北大核心 2007年第5期36-38,共3页
综述了ZAO透明导电薄膜的光电特性及其导电机理、制备技术与研究现状,认为ZAO薄膜在平板显示、太阳能电池和低辐射器件领域具有广泛的应用前景,要达到工业应用还需对一些关键问题进行系统的研究。
关键词 zao薄膜 磁控溅射 电阻率 透过率
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ZAO薄膜的研究现状及发展趋势 被引量:29
19
作者 陆峰 徐成海 闻立时 《真空与低温》 2001年第3期125-129,共5页
针对目前ITO膜In、Sn等材料自然储量少、制备工艺复杂、有毒、稳定性差的缺点 ,提出了代替ITO膜的ZAO薄膜。从该膜的基本性能入手介绍了它的优点 。
关键词 zao薄膜 氧化锌 掺杂 透明导电氧化物薄膜 磁控溅射 性质 导电性能 应用 制备
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ZAO导电膜的制备与性能分析 被引量:2
20
作者 刘德雄 唐金龙 +1 位作者 温才 胡思福 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第S4期688-690,共3页
采用ZnO、Al2O3(2.5%(质量分数))靶材,真空腔温度保持在40℃左右,运用电子束蒸发法制得系列的ZnO∶Al(ZAO)薄膜。通过X射线衍射(XRD)、光学显微镜、紫外-可见近红外光谱仪、四探针测试仪等仪器对薄膜进行了测定。薄膜呈c轴择优取向的六... 采用ZnO、Al2O3(2.5%(质量分数))靶材,真空腔温度保持在40℃左右,运用电子束蒸发法制得系列的ZnO∶Al(ZAO)薄膜。通过X射线衍射(XRD)、光学显微镜、紫外-可见近红外光谱仪、四探针测试仪等仪器对薄膜进行了测定。薄膜呈c轴择优取向的六角纤锌矿结构;具有致密平滑的表面形貌;最佳工艺下样品在702nm波长处透过率达90%;最低电阻率为1.7×10-3Ω.cm。 展开更多
关键词 zao薄膜 电子束蒸发 X射线衍射 透射率 电阻率
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