期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
3
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
Zeiss声称英飞凌关注纳米印刷光刻技术
1
《集成电路应用》
2004年第6期33-33,共1页
关键词
zeiss公司
英飞凌
公司
纳米印刷光刻
市场
下载PDF
职称材料
Zeiss声称英飞凌关注纳米印刷光刻技术
2
《电子工业专用设备》
2004年第5期44-45,共2页
关键词
zeiss公司
英飞凌
公司
纳米印刷光刻
光阻层
下载PDF
职称材料
TIC厚度测试仪
3
作者
李雨
戴福来
《现代橡塑》
2004年第9期22-22,共1页
关键词
Carl
zeiss公司
TIC厚度测试仪
圆偏振光
偏振干涉仪
粗糙度
原文传递
题名
Zeiss声称英飞凌关注纳米印刷光刻技术
1
出处
《集成电路应用》
2004年第6期33-33,共1页
关键词
zeiss公司
英飞凌
公司
纳米印刷光刻
市场
分类号
F407.63 [经济管理—产业经济]
下载PDF
职称材料
题名
Zeiss声称英飞凌关注纳米印刷光刻技术
2
出处
《电子工业专用设备》
2004年第5期44-45,共2页
关键词
zeiss公司
英飞凌
公司
纳米印刷光刻
光阻层
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
TIC厚度测试仪
3
作者
李雨
戴福来
出处
《现代橡塑》
2004年第9期22-22,共1页
关键词
Carl
zeiss公司
TIC厚度测试仪
圆偏振光
偏振干涉仪
粗糙度
分类号
TQ056.1 [化学工程]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Zeiss声称英飞凌关注纳米印刷光刻技术
《集成电路应用》
2004
0
下载PDF
职称材料
2
Zeiss声称英飞凌关注纳米印刷光刻技术
《电子工业专用设备》
2004
0
下载PDF
职称材料
3
TIC厚度测试仪
李雨
戴福来
《现代橡塑》
2004
0
原文传递
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
