多普勒电泳光散射Zeta电位分析新技术

概括介绍了胶体Zeta电位测试的基本原理与测试仪器的发展,重点介绍了基于多普勒电泳光散射原理的新型Zeta电位分析仪。以Zetasizer Nano电位分析仪为例,阐述了其测试原理,分析了电渗运动、交叉污染、展宽、信噪比等影响其测试精度的主要因素,并详细阐述了该电位仪所采用的专利测试新技术———M3-PLAS技术和折叠式毛细管样品池技术,最后展望了Zeta电位分析仪的应用前景。

纳米激光粒度仪在硅溶胶粒度测试中的应用研究

使用Zetasizer Nano ZS型纳米激光粒度仪分别对GRJ10030和GRJ10050(氧化硅质量分数30%、50%,粒径约100nm)的两种硅溶胶进行了粒度检测。结果发现:原液中存在多重散射及粒子间的相互作用。随稀释倍数增加,多重散射及粒子间相互作用被削弱,氧化硅质量分数低于10%时,两种硅溶胶的平均粒径(Z-Ave)值、多分散系数(PDI)值、粒度分布等均分别趋于一致。GRJ10030型硅溶胶5倍稀释液,GRJ10050型硅溶胶20倍稀释液,有相对集中、稳定的粒度分布,且测试重现性良好。