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范德堡方法在ZnO薄膜测试中的应用 被引量:6
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作者 朱俊杰 刘磁辉 +2 位作者 林碧霞 谢家纯 傅竹西 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第3期317-319,共3页
近年来 ,随着对宽禁带半导体材料 ,氧化锌薄膜研究的快速发展 ,对其电学性质的研究也显得尤为重要。主要介绍范德堡方法在ZnO薄膜电学性质测量中的应用 。
关键词 范德堡方法 zno膜薄 欧姆接触 霍尔效应
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