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Impact of Arsenic Related Defects on Electronic Performance of ZrO2/GaAs:Density Functional Theory Calculations
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作者 王宇鹏 王永萍 史力斌 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2015年第1期104-107,共4页
Arsenic can diffuse into high-κ dielectrics during OaAs-based metal oxide semiconductor transistor process, which causes the degradation of gate dielectrics. To explore the origins of the degradation, we employ nonlo... Arsenic can diffuse into high-κ dielectrics during OaAs-based metal oxide semiconductor transistor process, which causes the degradation of gate dielectrics. To explore the origins of the degradation, we employ nonlocal B3LYP hybrid functional to study arsenic related defects in ZrO2. Via band alignments between the OaAs and ZrO2, we are able to determine the defect formation energy in the GaAs relative to the ZrO2 band gap and assess how they will affect the device performance. Arsenic at the interstitial site serves as a source of positive fixed charge while at the oxygen or zirconium substitutional site changes its charge state within the band gap of GaAs. Moreover, it is found that arsenic related defects produce conduction band offset reduction and gap states, which will increase the gate leakage current. 展开更多
关键词 Zr Impact of Arsenic Related Defects on Electronic Performance of zro2/gaas:density Functional Theory Calculations
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CH_3OH在Ga-rich GaAs(001)-(4×2)表面上的吸附与解离:团簇模型的密度泛函计算
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作者 刘华成 张建生 于锋 《原子与分子物理学报》 CAS CSCD 北大核心 2015年第4期591-596,共6页
采用简单团簇模型结合密度泛函理论研究了CH3OH在Ga-rich Ga As(001)-(4×2)表面上的吸附与解离过程.计算结果表明,CH3OH在Ga-rich Ga As(001)-(4×2)表面上首先会形成两种化学吸附状态,然后CH3OH经解离生成CH3O自由基和H原子... 采用简单团簇模型结合密度泛函理论研究了CH3OH在Ga-rich Ga As(001)-(4×2)表面上的吸附与解离过程.计算结果表明,CH3OH在Ga-rich Ga As(001)-(4×2)表面上首先会形成两种化学吸附状态,然后CH3OH经解离生成CH3O自由基和H原子吸附在表面不同位置上.通过比较各个吸附解离路径,发现解离后的H原子相对更容易吸附在位于表面第二层紧邻的As原子上. 展开更多
关键词 Ga—rich gaas(001)-(4×2)表面 CH OH 吸附 团簇模型 密度泛函理论
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共沉淀-超临界流体干燥法合成CaO-ZrO_2复合氧化物超微粉体及其烧结性能研究(Ⅱ)粉体的烧结性能 被引量:4
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作者 梁丽萍 高荫本 +1 位作者 章斌 陈诵英 《硅酸盐通报》 CAS CSCD 1998年第4期4-8,14,共6页
用共沉淀-超临界流体干燥法合成CaO-ZrO2(15mol.%CaO)复合氧化物超微粉末,并对粉末的烧结性能进行了研究。实验表明,该法合成的粉末具有很高的烧结活性,能在较低的温度及较短的时间内完成致密化过程。400℃... 用共沉淀-超临界流体干燥法合成CaO-ZrO2(15mol.%CaO)复合氧化物超微粉末,并对粉末的烧结性能进行了研究。实验表明,该法合成的粉末具有很高的烧结活性,能在较低的温度及较短的时间内完成致密化过程。400℃,2h煅烧的粉体加压成型后于1100℃下保温0.5h,其体积密度可达理论值的98.2%,开口气孔仅为0.0008cm3/g。 展开更多
关键词 氧化铝 复合陶瓷 烧结性 陶瓷粉末 干燥 共沉淀
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ZrO_2/Fe_3Al复合材料的界面电子结构计算及材料制备 被引量:4
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作者 李嘉 尹衍升 +1 位作者 谭训彦 范润华 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第3期204-209,共6页
采用热压烧结制备了ZrO2 (3Y) /Fe3 Al复合材料 ,材料的室温抗弯强度、断裂韧性、HRA硬度分别为 132 1MPa、39MPa·m1/ 2 、86 .7,临界热震温差 (ΔT)由单相ZrO2 (3Y)的 2 5 0℃提高至 5 0 0℃。在此基础上 ,用EET理论 (经验电子理... 采用热压烧结制备了ZrO2 (3Y) /Fe3 Al复合材料 ,材料的室温抗弯强度、断裂韧性、HRA硬度分别为 132 1MPa、39MPa·m1/ 2 、86 .7,临界热震温差 (ΔT)由单相ZrO2 (3Y)的 2 5 0℃提高至 5 0 0℃。在此基础上 ,用EET理论 (经验电子理论 )计算了ZrO2 与Fe3 Al的价电子结构及其部分晶面的电子密度 ,并对两相的晶体学取向进行了预测。 展开更多
关键词 zro2/Fe3Al复合材料 界面 电子结构 计算 电子密度 增韧 抗热震性能 氧化锆陶瓷
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CaO稳定化ZrO_2纳米粉体的制备及其烧结性能研究 被引量:2
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作者 梁丽萍 李艺星 《太原重型机械学院学报》 2002年第1期43-47,共5页
本文采用胶体———超临界流体干燥法合成CaO稳定化ZrO2 纳米粉体 ,并对粉体的烧结性能进行研究。研究表明 ,该法合成的粉体具有粒度小、粒度分布范围窄、比表面积高等特点 ;将粉体作为ZrO2 基陶瓷起始粉料 ,具有很高的烧结活性 ,可以... 本文采用胶体———超临界流体干燥法合成CaO稳定化ZrO2 纳米粉体 ,并对粉体的烧结性能进行研究。研究表明 ,该法合成的粉体具有粒度小、粒度分布范围窄、比表面积高等特点 ;将粉体作为ZrO2 基陶瓷起始粉料 ,具有很高的烧结活性 ,可以有效地降低烧结温度 ,缩短烧结时间 ;此外 ,粉体中稳定剂的含量会很大程度上影响其性能。 展开更多
关键词 超微粒子 超临界流体干燥 体积密度 烧结性能 氧化钙稳定化 二氧化锆 纳米粘体 纳米陶瓷
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慢正电子技术研究ZrO_2(Y_2O_3)薄膜的温度效应
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作者 邹柳娟 夏风 +1 位作者 翁惠民 邹道文 《华中理工大学学报》 CSCD 北大核心 2000年第3期99-101,共3页
用慢正电子技术研究了在溅射时不加偏压 ,纯 Ar气氛 ,基片分别为加热 3 0 0℃和不加热的情况下制备的 No.2系列和 No.7系列的用 Y2 O3稳定的 Zr O2 薄膜 (简称 YSZ膜 ) .研究发现 :YSZ膜心部区 S参数随退火温度升高而降低 ;YSZ膜的过渡... 用慢正电子技术研究了在溅射时不加偏压 ,纯 Ar气氛 ,基片分别为加热 3 0 0℃和不加热的情况下制备的 No.2系列和 No.7系列的用 Y2 O3稳定的 Zr O2 薄膜 (简称 YSZ膜 ) .研究发现 :YSZ膜心部区 S参数随退火温度升高而降低 ;YSZ膜的过渡区宽度随退火温度升高而变窄 ;基片加热 ,有助于获得稳定、均匀。 展开更多
关键词 慢正电子技术 氧化锆薄膜 YSZ膜 温度效应
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纳米晶CaO稳定化ZrO_2粉体的制备及其烧结
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作者 梁丽萍 党淑娥 《材料科学与工程》 CSCD 北大核心 2002年第3期414-417,共4页
本文采用胶体 超临界流体干燥法合成CaO稳定化ZrO2 纳米粉体 ,并对粉体的烧结性能进行研究。研究结果表明 ,该法合成的粉体具有粒径小、粒径分布范围窄、比表面积大等特点 ;将粉体作为ZrO2 基陶瓷起始粉料 ,具有很高的烧结活性 ,可以有... 本文采用胶体 超临界流体干燥法合成CaO稳定化ZrO2 纳米粉体 ,并对粉体的烧结性能进行研究。研究结果表明 ,该法合成的粉体具有粒径小、粒径分布范围窄、比表面积大等特点 ;将粉体作为ZrO2 基陶瓷起始粉料 ,具有很高的烧结活性 ,可以有效地降低烧结温度 ,缩短烧结时间。此外 ,粉体中稳定剂的含量会很大程度上影响其性能。 展开更多
关键词 纳米晶 CaO稳定化zro 烧结 超微粒子 超临界流体干燥 体积密度 纳米粉体 氧化钙 二氧化锆 陶瓷
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ZrO_2基陶瓷的t—m马氏体相变异相界面电子结构
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作者 尹衍升 谭训彦 李嘉 《中国有色金属学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第1期111-115,共5页
分析了ZrO2 的两种晶体结构 (正方与单斜 )中的共价键络 ,并根据“固体与分子经验电子理论” ,在一级近似下计算出了ZrO2 陶瓷中t—m马氏体相变后存在位相关系 (10 0 ) m∥ (110 ) t 界面的价电子密度。计算结果表明 ,t ZrO2 中 (110 )... 分析了ZrO2 的两种晶体结构 (正方与单斜 )中的共价键络 ,并根据“固体与分子经验电子理论” ,在一级近似下计算出了ZrO2 陶瓷中t—m马氏体相变后存在位相关系 (10 0 ) m∥ (110 ) t 界面的价电子密度。计算结果表明 ,t ZrO2 中 (110 ) t 晶面上的平均价电子密度为 0 .0 0 372 0nm-2 ,m ZrO2 中 (10 0 ) m 晶面上的平均价电子密度为0 .0 0 36 17nm-2 ,两者相差仅 2 .77% ,可见ZrO2 的马氏体相变后m ZrO2 与t ZrO2 的相界面上的平均价电子密度是连续的 。 展开更多
关键词 zro2基陶瓷 马氏体相变 电子密度 相界面 电子结构
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Stability, Infrared Spectra and Electronic Structures of (ZrO2)n (n=3---6) Clusters: DFT Study
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作者 Jin, Rui Zhang, Yonghong +2 位作者 Huang, Shiping Wang, Peng Tian, Pinghu 《Chinese Journal of Chemistry》 SCIE CAS CSCD 2011年第1期13-20,共8页
The stability, infrared spectra and electronic structures of (ZrO2)n (n= 3--6) clusters have been investigated by using density-functional theory (DFT) at B3LYP/6-31 G* level. The lowest-energy structures have ... The stability, infrared spectra and electronic structures of (ZrO2)n (n= 3--6) clusters have been investigated by using density-functional theory (DFT) at B3LYP/6-31 G* level. The lowest-energy structures have been recognized by considering a number of structural isomers for each cluster size. It is found that the lowest-energy (ZrO2)5 cluster is the most stable among the (ZrO2)n (n=3--6) clusters. The vibration spectra of Zr-O stretching motion from terminal oxygen atom locate between 900 and 1000 cm 1, and the vibrational band of Zr---O--Zr--O four member ring is obtained at 600~700 cm ^-1, which are in good agreement with the experimental results. Mulliken populations and NBO charges of (ZrO2)n clusters indicate that the charge transfers occur between 4d orbital of Zr atoms and 2p orbital of O atoms. HOMO-LUMO gaps illustrate that chemical stabilities of the lowest-energy (ZrO2),, (n = 3--6) clusters display an even-odd alternating pattern with increasing cluster size. 展开更多
关键词 density functional calculations charge transfer zro2 CLUSTER IR spectra
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