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Direct-PECVD a-SiOx:H/a-SiNx:H叠层系统对多晶硅电池的钝化研究 被引量:2
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作者 王振交 季静佳 +1 位作者 施正荣 李果华 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第2期387-391,共5页
本文中应用全部PECVD工艺沉积a-SiOx:H、a-SiNx:H,和a-SiOx:H/a-SiNx:H叠层系统,比较了不同钝化膜对多晶硅太阳能电池发射极和背面钝化效果,应用FGA、RTP等热处理方法对钝化膜进行处理,重点讨论了FGA(Forming gas annealing)温度和时间... 本文中应用全部PECVD工艺沉积a-SiOx:H、a-SiNx:H,和a-SiOx:H/a-SiNx:H叠层系统,比较了不同钝化膜对多晶硅太阳能电池发射极和背面钝化效果,应用FGA、RTP等热处理方法对钝化膜进行处理,重点讨论了FGA(Forming gas annealing)温度和时间的长短对钝化的影响。结果表明:低温FGA对只有单面钝化膜的硅片钝化效果不明显,而在800℃下FGA有明显作用,而且钝化效果随着时间的增加呈现出先增大后减小然后再增大的现象;退火后降温环境中是否有H和降温时间对钝化效果有很大的影响,但是对于双面膜无论FGA温度高低对钝化都有帮助,文中对上述现象做了合理的解释。最后利用双面叠层钝化膜经过FGA处理后得到的多晶硅片的少子寿命达到14.2μs,比镀膜之前的3.0μs提高了11.2μs,使多晶硅太阳能电池暗电压Voc达到630mV。 展开更多
关键词 PECVD a-siox:h/a-SiNx:h 少子寿命 FGA 多晶硅
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HWCVD法掺氧氢化非晶硅(a-SiO_x:H)钝化n-Cz-Si研究 被引量:1
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作者 何玉平 袁贤 +2 位作者 刘宇 刘宁 黄海宾 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第6期519-523,共5页
HIT电池高效率核心技术之一为本征非晶硅薄膜钝化硅片。本文采用热丝化学气相沉积(HWCVD)法制备a-SiOx:H,采用SintonWCT-120少子寿命测试仪、光谱型椭偏仪及傅里叶红外光谱测试仪分析样品性能,以期获得高质量a-SiOx:H的工艺参数并分析... HIT电池高效率核心技术之一为本征非晶硅薄膜钝化硅片。本文采用热丝化学气相沉积(HWCVD)法制备a-SiOx:H,采用SintonWCT-120少子寿命测试仪、光谱型椭偏仪及傅里叶红外光谱测试仪分析样品性能,以期获得高质量a-SiOx:H的工艺参数并分析微观机理。结果表明:①随热丝电流增加,沉积a-SiO:H膜的样品少子寿命先增加后减小,22.5 A时钝化效果最好,少子寿命高达2530μs,表面复合速率降至3.6 cm/s;②本实验结果中,a-SiOx:H钝化效果明显优于a-Si:H,少子寿命最高分别为2530和547μs;③a-SiOx:H薄膜中SiH、SiH2相对含量与薄膜钝化性能无直接关联。 展开更多
关键词 a-siox:h 热丝化学气相沉积 少子寿命 Sih Sih2键
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注铒a-SiO_x∶H中Er^(3+)发光与薄膜微观结构的关系
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作者 陈长勇 陈维德 +3 位作者 王永谦 宋淑芳 许振嘉 郭少令 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第9期930-934,共5页
采用光致发光 (PL )谱和傅里叶变换红外 (FTIR)谱研究了掺铒 a- Si Ox∶ H(a- Si Ox∶ H〈 Er〉)薄膜在不同退火温度下光学性质和微观结构的变化 .PL 谱的测量结果表明 :薄膜在 1.5 4 μm的 Er3+发光和 75 0 nm处的可见发光随退火温度... 采用光致发光 (PL )谱和傅里叶变换红外 (FTIR)谱研究了掺铒 a- Si Ox∶ H(a- Si Ox∶ H〈 Er〉)薄膜在不同退火温度下光学性质和微观结构的变化 .PL 谱的测量结果表明 :薄膜在 1.5 4 μm的 Er3+发光和 75 0 nm处的可见发光随退火温度有相同的变化趋势 ,这种变化和薄膜在退火过程中微观结构的变化有着密切关系 .FTIR谱的分析表明 :a- Si Ox∶ H薄膜是一种两相结构 ,富硅相镶嵌在富氧相中 .两者的成分可近似用 a- Si Ox≈ 0 .3∶ H和 a- Si Ox≈ 1 .5∶ H表示 ,前者性质接近于氢化非晶硅 (a- Si∶ H ) ,后者性质接近于 a- Si O2 .富硅相在退火中的变化对 Er3+ 的发光强度有重要影响 . 展开更多
关键词 注铒a-siox:h ER^3+ 微观结构 光致发光 光学性质
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硅基异质结太阳电池钝化层的研究 被引量:3
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作者 杨苗 郁操 +2 位作者 张悦 张津岩 徐希翔 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第11期2983-2987,共5页
研究硅基异质结太阳电池的表面钝化层对电池性能的影响,主要工作包括:1)对比非晶硅本征层a-Si:H(i)与非晶硅氧本征层a-Si Ox:H(i)对c-Si界面的钝化效果的作用,及其对电池性能的影响;2)研究不同a-Si:H(i)厚度对电池性能的影响;3)不同沉... 研究硅基异质结太阳电池的表面钝化层对电池性能的影响,主要工作包括:1)对比非晶硅本征层a-Si:H(i)与非晶硅氧本征层a-Si Ox:H(i)对c-Si界面的钝化效果的作用,及其对电池性能的影响;2)研究不同a-Si:H(i)厚度对电池性能的影响;3)不同沉积速率a-Si:H(i)对c-Si界面的钝化效果和电池性能的影响,并对不同沉积速率的a-Si:H(i)膜层做了H原子含量等分析。通过该征钝化层工艺的优化,最终在156 mm×156 mm厚度200μm的n型硅片上获得效率为20.90%的硅基异质结太阳电池,和在100μm厚度的硅片上得到转化效率为20.44%的可弯曲电池。 展开更多
关键词 表面钝化层 a-siox:h(i) 沉积速率 R结构因子
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nc-Si/a-SiO_x:H复合薄膜的结构及光吸收特性
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作者 郭震宁 郭亨群 +2 位作者 王加贤 张文珍 李世忱 《功能材料与器件学报》 CAS CSCD 2001年第2期179-182,共4页
采用 PECVD技术制备的 a- SiO_x:H (0 SiO_x:H基质的量子点复合膜( nc- Si/a- SiO_x:H)。利用 TEM技术, Raman散射谱和光吸收谱等 ,较系统地研究了该复合膜的膜结构和光吸收特性。实验结果表明:纳米硅嵌埋颗粒呈多晶结构,颗粒... 采用 PECVD技术制备的 a- SiO_x:H (0 SiO_x:H基质的量子点复合膜( nc- Si/a- SiO_x:H)。利用 TEM技术, Raman散射谱和光吸收谱等 ,较系统地研究了该复合膜的膜结构和光吸收特性。实验结果表明:纳米硅嵌埋颗粒呈多晶结构,颗粒大小随退火温度升高而增大。复合膜光吸收边随纳米硅颗粒尺寸的减小发生了蓝移,表现出明显的量子限域效应。 展开更多
关键词 nc-Si/a-siox:h复合膜 RECVD 热退火 光吸收 半导体薄膜
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氢化非晶硅氧薄膜微结构 被引量:2
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作者 王永谦 廖显伯 +7 位作者 刁宏伟 陈长勇 张世斌 徐艳月 陈维德 孔光临 程文超 李国华 《中国科学(A辑)》 CSCD 北大核心 2002年第6期531-537,共7页
以Raman散射、X射线电子能谱和红外吸收光谱细致研究了PECVD法250℃衬底温度下制备的氢化非晶硅氧(a-SiOx:H)薄膜的微结构及键构型.研究表明,在0.525≤x≤1.58的氧含量范围内,a-SiOx:H薄膜成分和结构不是均一的,依赖于局域键构型氧化... 以Raman散射、X射线电子能谱和红外吸收光谱细致研究了PECVD法250℃衬底温度下制备的氢化非晶硅氧(a-SiOx:H)薄膜的微结构及键构型.研究表明,在0.525≤x≤1.58的氧含量范围内,a-SiOx:H薄膜成分和结构不是均一的,依赖于局域键构型氧化程度的不同,大致存在着5种在一定程度上相互分离的结构组分,即Si,SiO(:H),SiO(:H),SiO2(:H)和SiO2.其中的Si相以非氢化的非晶硅(a-Si)颗粒形式存在,随氧含量x的增加其尺度持续减小但始终存在.提出一种多壳层模型来描述a-SiOx:H薄膜的结构,认为a-SiOx:H薄膜中a-Si颗粒依次为Si2O(:H),SiO(:H),Si2O3(:H)和SiO2壳层所包围.随薄膜氧含量x的增加,各壳层厚度相应变化但各自的化学构成基本保持不变. 展开更多
关键词 氢化非晶硅氧薄膜 a-siox:h 微结构 键构型 PECVD法 发光机制 薄膜结构
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