X射线数字成像系统传递函数模型

基于非晶硅面阵探测器的工业X射线数字成像系统是目前最先进的射线检测技术,其系统传递函数PSF(Point Spread-Function)由非点源形成的系统几何弥散、闪烁体膜层弥散、探测器像元孔径采样3部分组成.通过分析各环节射线透照场强的分布特性,以高斯函数近似各环节相应PSF的数学表达式,建立了整个数字成像系统的PSF及其MTF(Modulation Transfer Function)理论模型,并由系统PSF的半波宽得到系统的近似有效带宽.以PaxScan2520面阵探测器组成的X射线数字成像系统为例,通过实验验证了该模型的合理性,利用此模型可快速估计数字成像系统可分辨被检试件的最小细节,为工业射线检测提供理论基础.

2种平板探测器在床旁摄影的临床应用对比研究

目的 :探讨数字化X线摄影(digital radiographpy,DR)无线平板探测器在床旁检查中的临床应用价值。方法 :回顾性对比分析由无线平板探测器和有线平板探测器分别采集的175张床旁胸部正位片,依照X线的照片评分标准利用双盲法对X线照片进行质量分类,并统计其各自所占的比例。结果:2种探测器分别采集的175张床旁胸部正位片中,使用无线平板探测器采集的图像甲级片率为93.1%,乙级片率为6.9%,无丙级片及废片;使用有线平板探测器采集的图像甲级片率为81.1%,乙级片率为15.4%,丙级片率为3.5%,无废片。结论:DR无线平板探测器所采集的图像能提供更加优质的影像资料,而且操作更加方便,更有利于提高床旁检查的图像质量。

碘化铯非晶硅平板探测器的原理及应用

通过介绍碘化铯非晶硅平板探测器的材料特性、工作原理和临床应用等特点,表明了该项技术的优缺点、发展方向及在数字化摄影系统中的重要地位。

新一代X射线检测器在射线实时成像检测中的应用

介绍非晶硅(a-Si)平板检测器的技术特性,及其取代常用的图像增强器在工业射线实时成像检测中的应用——焊缝和铸件检验。实验结果证明:选用适当型号的a-Si平板检测器,可获得优于图像增强器的像质计(IQI)灵敏度和空阃分辨力。这是工业数字射线照相技术实用化的又一新突破。

射波刀VSI系统非晶硅平板数字探测器的影像质量研究

目的:基于QCkV-1模体结合PIPSpro软件评估分析射波刀VSI系统非晶硅平板数字探测器记录的影像质量。方法:将QCkV-1模体配合专用定位架按照预先制定的计划重复放置于射波刀成像子系统的影像中心位置,X射线管拍片后获取由非晶硅平板数字探测器(成像仪A和B)记录的两组影像,导入PIPSpro软件分析,指标包括空间分辨率(f30、f40、f50)和对比度噪声比。结果:在临床治疗的kV值范围内(100~125 kV),成像仪A的f30、f40、f50最大偏差为0.94%、1.67%、0.29%,成像仪B分别为0.81%、1.31%和1.42%。对于对比度噪声比,当小于115 kV时两成像仪随kV值变化平缓,大于115 kV时展现出明显分化。结论:QCkV-1模体结合PIPSpro软件能够便捷开展射波刀VSI系统非晶硅平板数字探测器成像质量的检测分析工作。