数模混合电路互连测试矢量自动生成的实现

测试矢量的自动生成研究一直都是板级边界扫描互连测试中的重点,针对数模混合被测电路的不同结构类型,特别是多扇出类型结点相连的复杂情况,建立了具有代表性的互连结构测试模型；在此模型的基础上提出可进行完备性测试矢量的自动生成算法并用软件加以实现；利用该算法,对实际DEMO板上的芯片进行了互连测试,测试结果表明该算法满足板级边界扫描互连测试的矢量自动生成要求。

基于边界扫描的数字电路自动测试系统设计

以新型武器装备数字电路维修保障为背景,提出了"MERGE(组合)"边界扫描测试模型的建立方法,基于此方法,设计并构建了完善的数字电路自动测试系统,解决了ICT(In-Circuit)测试、功能测试及传统边界扫描测试TPS(Test Program Set)开发成本高,技术难度大,故障覆盖率低的缺陷。该测试系统现已成功担负新型武器装备数字电路的维修保障任务,应用表明,系统具有设计合理,性能稳定、可靠,故障隔离准确等优点,具有较高的实用性。

基于SQLite的边界扫描互连测试矢量生成设计

互连测试是边界扫描技术的主要内容之一,在分析IEEE1149.1的基础上,给出一种基于嵌入式开源数据库SQLite的边界扫描测试系统中互连测试矢量生成的设计;利用SQLite数据库中存储的被测电路的扫描链路信息和器件等信息,得到扫描粗链并进一步形成扫描细链;利用可测网络信息结合测试算法产生测试矢量;最终将测试矢量在扫描细链上对扫描单元赋值即得到扫描链的互连测试矢量集;测试结果表明,该设计可快速生成测试矢量而缩短测试时间,具有较好的应用前景。

基于SQLite和SVF的边界扫描测试生成设计

针对边界扫描中的测试生成问题,研究了一种SVF文件解析器;通过解析SVF文件,生成符合JTAG时序的测试信号,包括TCK、TMS、TDI以及预期的TDO值,这些测试信号可直接与被测系统相连,控制边界扫描测试过程;为方便查找与参数信息共享,将编译信息分类存入嵌入式开源SQLite数据库中;最后利用CY7C68013通过并口方式验证SVF解析器产生的测试信号;验证结果表明,所设计的SVF解析器可正确解析SVF文件,产生符合JTAG时序的测试信号,符合边界扫描测试生成要求。

一种提高含边界扫描器件电路板在线测试速度的新方法

在包含有边界扫描器件的电路板在线测试 (In Circuit Test,ICT)中 ,采用边界扫描技术可以简化高密度集成电路的测试矢量生成。但如何在 ICT中减少边界扫描测试矢量从而提高测试速度 ,是 1个重要问题。本文结合 1个实例 ,讨论在 ICT中 ,采用伪穷举法与 Delta Scan法相结合 ,在保证原错误覆盖率不变的情况下减少测试矢量数 ,增加测试速度的方法。

边界扫描测试在数字电路自动测试系统中的研究与应用

边界扫描测试是当前数字电路模块故障隔离的主要手段,但测试能力受到模块可测试性设计限制,其它方面作用也被忽略。文中对数字电路自动测试系统设计提出了边界扫描测试应用技术,包括系统自检测试,模块功能测试和模块故障隔离;在系统自检测试中应用边界扫描,提高了设备自检故障隔离精度;而对于模块功能测试,边界扫描测试技术提供了一种新的选择;在故障隔离中扩展和延伸应用边界扫描技术,突破了模块自身测试性的限制,提高了边界扫描测试的故障覆盖率和故障隔离精度;通过实际测试验证表明,该设计方法稳定可靠,同时提升了测试系统自身和模块的测试能力和隔离精度。

支持SVF的边界扫描测试系统的设计与实现

边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上器件的功能、互连等进行测试的新途径。本设计实现了一种能够自动生成SVF测试图形的边界扫描测试系统,然后利用该系统进行了PCB板级的扫描链完整性测试和芯片互连测试,测试结果分析表明系统可以检测出被测对象的故障类型。

混合信号电子产品的自动测试技术

电子产品微型化使自动测试成为必然,而边界扫描技术则使自动测试成为可能。文章分析了1149.4和1149.1标准的测试访问端口,以及测试逻辑结构和测试协议的异同,提出了模拟边界扫描单元ABM和数字边界扫描单元DBM的行为模型;在此基础上,详细阐述了两个标准在混合信号电子产品自动测试中的综合应用方法;最后,以典型的混合信号电路D/A转换器为例,对两个标准的综合应用进行了仿真验证。

基于混合总线的地面情报雷达自动测试设备设计

随着科学技术的不断发展,军事电子产品的生产和测试对自动测试技术提出了越来越高的要求。工作方式灵活、功能齐全的自动测试设备成为了军事电子产品生产和科研的必需设备。本文重点讨论了基于混合总线的自动测试设备架构设计,并叙述了关键技术的设计与实现。

基于电子设计交换格式的网表文件编译器的研究与实现

基于电子设计交换格式(Electronic Design Interchange Format)的网表文件编译器是边界扫描测试系统中自动测试矢量生成的基础,但目前该类编译器的开发报道很少,而且通用性和完备性方面存在不足;针对这些问题,设计了一款基于EDIF标准的网表文件编译器,该编译器能正确分析EDIF网表文件的词法,并能准确分析其语法结构,并进行适当的冲突处理和错误处理,能快速准确地提取被测电路的网络器件名、物理器件名、对应封装、属性、网络连接情况等,为自动测试矢量生成提供相应信息;该设计针对EDIF标准利用flex和bison工具开发词法分析器和语法分析器,并将结果集成到VS2008开发环境中,与传统的基于C++设计的编译器相比,该方法具有工作量小、设计精巧、功能强大的特点,且更易于修改和扩充。

基于仿真的功能级边界扫描测试码自动生成

分析了用边界扫描测试结构实现芯片功能级测试的方法 ,提出了一种基于逻辑电路的仿真波形生成电路功能级边界扫描测试代码的方法 .利用该方法生成的边界扫描测试矢量可以完备地描述逻辑芯片的功能 ,从而对数字逻辑电路实现完备。

改进的等权值抗混淆算法

针对等权值算法的不足,将电路板结构信息应用到等权值算法中,提出了一种基于有限制短路故障关系的改进算法;通过测试相似组的概念对测试向量进行分组,将不发生混淆的测试向量分在一组;利用电路板结构信息建立网络间的有限制短路故障关系图,利用启发式分组算法将容易发生短路的网络分在同一组内;将不发生混淆的测试向量组分配给发生短路概率大的网络组,最后对测试向量集的完备性和紧凑性指标进行折中增加补偿向量;结果表明:改进的算法能够减小算法发生征兆混淆的概率,提高了算法的测试能力。

一种边界扫描测试矢量的生成方法

本文主要介绍了单输出无扇出电路运用穷举法生成边界扫描测试的测试矢量的理论,并以XILINK公司的XC5210-TQ144为例介绍了边界扫描测试矢量的生成过程。

基于FPGA的电路板自动测试技术研究

军用电子装备中含FPGA器件的电路板的测试诊断一般采用边界扫描技术、VI曲线测试技术以及边界扫描和外部输入矢量相结合的方法;边界扫描技术无法进行外围器件的测试;VI曲线测试技术由于不能测试器件的逻辑功能及内部节点,故障覆盖率相对不高;边界扫描和外部输入矢量相结合的方法无法判断FPGA器件工作是否正常,因而不能完成整板功能的测试;综合应用ATE技术、VITAL标准和LASAR仿真技术,提出一种含FPGA器件电路板的自动测试思路,解决含FPGA器件电路板的自动测试问题。

边界扫描测试生成与故障诊断的研究与实现

随着电子技术的日益发展,电子电路系统的集成度和复杂性越来越高,边界扫描技术应用越来越广泛。在研究边界扫描基本结构和测试原理的基础上,给出互连测试矢量生成与故障诊断算法,对互连测试矢量生成和故障诊断进行研究与实现。使用VS2008软件作为平台开发边界扫描测试系统,采用走步1算法和改良计数算法进行矢量的生成,并根据W步自适应算法进行故障诊断。结果表明,系统自动生成的测试矢量测试时间短,效果好,故障诊断能力强,诊断部分能够消除征兆混淆和征兆误判现象,对设置的故障能够精确地定位和隔离。

基于边界扫描的板级测试向量自动生成

针对现有测试向量存在的不足,提出一种可施加到电路板扫描链上的测试向量自动生成方法,该方法利用被测电路的网络表文件和边界扫描描述语言文件,获取器件互连关系、边界扫描信息及扫描链路结构,结合测试算法生成板级测试向量,根据扫描链数目及连接关系将其扩展并生成可施加到扫描链上的链路级测试向量。实验结果表明,该方法能检测被测电路中多条扫描链的固定0、固定1、短路和开路故障,为测试系统提供了实用高效的测试向量。

基于VXI总线的多功能边界扫描控制器的研制

根据系统级边界扫描测试技术的需求,研制了基于VXI总线的多功能边界扫描测试控制器,具备三种操作模式:IEEE1149.1 TAP模式、IEEE1149.5主控制器模式和从控制器模式;由上位机控制模件组态到期望的模式,模件上的TAP口控制器产生1149.1测试信号,提供给JTAG口用于通过TDO/TDI扫描链对被测目标板进行边界扫描测试;IEEE1149.5主控制器可完成和从控制器间的通讯以便对机箱或子系统级中可测试性模件进行边界扫描测试,兼容于BSDL和EDIF文件格式的自动测试向量生成软件可实现多种扫描测试功能。

边界扫描测试算法的分析与优化

伴随着电子技术和边界扫描测试技术的飞速发展,新的边界扫描测试算法也在不断涌现;而边界扫描测试的算法,一般都是指在互联模型的基础上,边界扫描测试向量的生成算法;生成合理的测试向量集可以以最短的测试时间来覆盖尽可能多的故障;从对一些常用的边界扫描测试算法进行了粗略的分析,到后来对等权值算法和二进制计数算法进行了详细的分析,通过引入和分析边界扫描测试算法的定理、公式以及推论等,分别提出了等权值优化算法和权值递加算法;与优化前的算法作为比较,等权值优化算法降低了征兆混淆出现的概率,而权值递加算法同时降低了征兆误判率和征兆混淆率;综合分析,新的算法更好的权衡了测试向量集的完备性指标和紧凑型指标。

基于边界扫描的测试技术

鉴于工程实践中对边界扫描技术的忽视，分析了它在实际使用中存在的误区，介绍了边界扫描接口的定义及其具体硬件结构，阐述了边界扫描的工作原理。并分析总结了其用于实际测试中的作用与优点，提出了对边界扫描测试进行优化时需要注意的方面．以利于更好地普及应用。

一种基于边界扫描的系统化SiP测试方法

随着集成电路技术快速发展,芯片的集成度和密度越来越大,体积和功耗越来越小,IC领域提出了一种新型的超摩尔定律的芯片设计思路——系统级封装(System in Package,SiP)。要在有限的芯片管脚下完成对整个SiP电路系统的测试变得极具挑战,急需寻求一种新的测试方法。为此,文中提出了一种基于边界扫描测试方法,在严格遵循紧凑性和完备性的指标下,通过对现有自适应算法中快速生成测试矩阵算法的优化,完成SiP芯片的互连测试。对比分析优化前后各算法的混淆率和紧凑性指标,验证了使用低权值的等权值算法能有效地提高测试的性能。测试的仿真结果表明,基于边界扫描测试的低权值的等权值算法可以满足SiP的测试需求。