大鼠脑二次损伤凋亡相关基因的表达

目的探讨大鼠脑二次损伤（SBI）c-los、bcl-2、bcl—xL基因表达和细胞凋亡关系。方法40只大鼠随机分为正常对照组10只、脑缺血组10只、颅脑损伤组10只和SBI组10只，以免疫组织化学方法，检测脑神经细胞中c-fos、bcl-2、bcl-xL的表达水平；以原位细胞凋亡（TUNEL）法检测神经细胞凋亡水平。结果颅脑损伤组、SBI组皮层区c-fos基因表达（23．6±9．4）、（37．1±5．5）阳性细胞数／个／H均明显高于脑缺血组（5．6±1．4）阳性细胞数／个／H（t=3．458，t=3．648，均P〈0．01）；颅脑损伤组、SBI组皮层区bcl-2基因表达（18．2±4．6）、（15．6±3．7）阳性细胞数／个／H低于脑缺血组（23．6±4．3）阳性细胞数／个／H（t=2．345，t=2．447，均P〈0．05）；脑缺血组、颅脑损伤组和SBI组bcl-xL基因表达变化不大；SBI组皮层区细胞凋亡（36．6±5．3）个细胞／0．1mm^2高于颅脑损伤组（21．6±4．4）个细胞／0．1mm^2（t=2．378，P〈0．05）；细胞凋亡水平与bcl-2表达均呈负相关（r=-0．857，P〈0．01）。结论脑二次损伤c-fos、bcl-2、bcl-xL基因表达增加并与神经细胞凋亡水平密切相关。