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基于DS2172和DS21554的误码测试仪设计
被引量:
3
1
作者
杨海涛
纪海林
《自动化仪表》
CAS
2007年第10期18-20,共3页
介绍了一种采用误码专用测试芯片DS2172和E1接口芯片DS21554的误码测试仪的设计方案。该误码测试仪可以完成2048 kbps速率及一些较低速率的误码测试,提供E1接口及TTL接口两种模式,同时提供伪随机码和人工码两种测试码型,详细介绍了具体...
介绍了一种采用误码专用测试芯片DS2172和E1接口芯片DS21554的误码测试仪的设计方案。该误码测试仪可以完成2048 kbps速率及一些较低速率的误码测试,提供E1接口及TTL接口两种模式,同时提供伪随机码和人工码两种测试码型,详细介绍了具体的硬件电路设计和具体的软件设计。设计结果表明该误码仪可以完成误码测试、误码统计及误码率的计算,能够满足数字传输系统常见故障的检测需求。
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关键词
误码测试仪
E1接口
随机间隔
芯片
图形化
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职称材料
基于DS2172的误码测试仪的设计
被引量:
2
2
作者
龙海南
王苗苗
赵建忠
《国外电子元器件》
2007年第10期13-16,共4页
在数字通信工程中,误码率是检验数据传输设备及其信道工作质量的一个主要指标,给出了采用AT89C51单片机结合误码测试器DS2172实现简单误码测试仪的设计。
关键词
比特误码率
DS2172
比特误码率测试仪
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职称材料
基于Windows CE的2M综合数字测试仪的设计与实现
被引量:
1
3
作者
张杰
黄俊
《电脑知识与技术》
2009年第3X期2273-2274,共2页
基于ARM内核和Windows CE操作系统的2M综合数字测试仪可以对2M传输线路完成50b/s到2048kb/s速率的误码测试,可进行在线监测、离线监测、2M信号眼图测试,对数据进行详细分析,解决了误码统计和误码测试,以及误码率的计算等关键问题。这是...
基于ARM内核和Windows CE操作系统的2M综合数字测试仪可以对2M传输线路完成50b/s到2048kb/s速率的误码测试,可进行在线监测、离线监测、2M信号眼图测试,对数据进行详细分析,解决了误码统计和误码测试,以及误码率的计算等关键问题。这是一款体积小、重量轻、成本低、性能稳定的低速率误码测试仪。
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关键词
比特误码率
比特误码率测试仪(
bert
)
低功耗
Windows
CE
ARM
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职称材料
一种基于FPGA的高速误码测试仪的设计
被引量:
2
4
作者
王骐
王青萍
《电子设计工程》
2011年第9期129-133,共5页
误码测试仪是检测通信系统可靠性的重要设备。传统的误码测试仪基于CPLD和CPU协同工作,不仅结构复杂,价格昂贵,而且不方便携带。基于FPGA的高速误码测试仪,采用FPGA来完成控制和测试模块的一体化设计,提高了系统功能扩展性和系统的集成...
误码测试仪是检测通信系统可靠性的重要设备。传统的误码测试仪基于CPLD和CPU协同工作,不仅结构复杂,价格昂贵,而且不方便携带。基于FPGA的高速误码测试仪,采用FPGA来完成控制和测试模块的一体化设计,提高了系统功能扩展性和系统的集成度,使得各个功能模块在不改动硬件电路的情况下可以相应变化。在发送端发送m序列作为测试数据,其测试速率最高可达到155 Mb/s。由于将物理层上的各协议层的功能集中到FPGA内部实现,减少了硬件和软件的设计复杂度,并且缩短了系统的开发的周期,具有可升级的特点。
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关键词
高速误码测试仪
现场可编程门阵列
VERILOG硬件描述语言
模块图元
仿真
M序列码
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职称材料
基于FPGA的E3误码仪的设计与应用
5
作者
胡辽林
刘雪峰
《光通信技术》
CSCD
北大核心
2013年第1期51-52,共2页
设计了基于FPGA的E3速率等级的误码仪(E3-BER),由伪随机码产生模块、两路信号比较模块、计数模块和显示模块4部分构成,分别用E3-BER和SDH分析仪(ANT-5)测试了基于FPGA的SDH E3复用/解复用系统,在相同的测量时间内(1星期),误码均为0。测...
设计了基于FPGA的E3速率等级的误码仪(E3-BER),由伪随机码产生模块、两路信号比较模块、计数模块和显示模块4部分构成,分别用E3-BER和SDH分析仪(ANT-5)测试了基于FPGA的SDH E3复用/解复用系统,在相同的测量时间内(1星期),误码均为0。测试结果间接验证了设计的正确性。
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关键词
现场可编程门阵列
同步数字系列
E3
误码仪
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职称材料
基于STM32高速误码测试仪设计与实现
被引量:
5
6
作者
吴柏昆
贾涵阳
+2 位作者
余文志
吴锋
钱银博
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
2015年第9期31-34,共4页
针对目前市场上主流的国外误码仪价格昂贵,操作复杂的现象,设计了一种基于STM32的高速误码测试仪。该仪器具有4个测试信道,每个信道能涵盖9.9~11.3 Gbps间的标准协议测试速率,支持多种伪随机码输出及误码率同步显示,具有良好触摸屏控制...
针对目前市场上主流的国外误码仪价格昂贵,操作复杂的现象,设计了一种基于STM32的高速误码测试仪。该仪器具有4个测试信道,每个信道能涵盖9.9~11.3 Gbps间的标准协议测试速率,支持多种伪随机码输出及误码率同步显示,具有良好触摸屏控制的人机界面。本文对该测试仪的硬件和软件进行了具体阐述。测试结果证明,该测试仪满足误码测试的需求,具有可靠性高,操作简单,价格较低的特点。
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关键词
STM32
高速误码测试仪
眼图
误码率
人机交互
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职称材料
可编程误码仪的设计与实现
被引量:
2
7
作者
胡吉铭
张晓林
冯文全
《电子测量技术》
2006年第5期112-114,共3页
误码仪(biterrorratetester,BERT)是数字通信系统性能测试的重要仪器。本文设计的可编程误码仪主要由发端设备和收端设备两部分构成:发端设备主要完成序列产生和时钟产生;收端设备主要完成序列同步和序列比对。误码仪选用了单片机和FPG...
误码仪(biterrorratetester,BERT)是数字通信系统性能测试的重要仪器。本文设计的可编程误码仪主要由发端设备和收端设备两部分构成:发端设备主要完成序列产生和时钟产生;收端设备主要完成序列同步和序列比对。误码仪选用了单片机和FPGA作为核心器件,提高它的再升级和可移植能力。本文设计的可编程误码仪具有使用简单、测试内容丰富、误码测试结果显示直观、准确等特点。
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关键词
误码率
误码仪
码速率
发端设备
收端设备
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职称材料
一种便携式误码测试仪的设计
被引量:
2
8
作者
李宏
齐林
杨亮
《现代电子技术》
2008年第13期122-124,共3页
误码仪是数字通信系统性能测试的重要仪器。设计采用国外专用集成误码测试芯片DS2172、E1接口芯片DS21554和单片机芯片AT89C52联合设计,全部采用高效低功耗芯片,并使用单电源工作,它是一款体积小、重量轻、成本低、便携式的低速率误码...
误码仪是数字通信系统性能测试的重要仪器。设计采用国外专用集成误码测试芯片DS2172、E1接口芯片DS21554和单片机芯片AT89C52联合设计,全部采用高效低功耗芯片,并使用单电源工作,它是一款体积小、重量轻、成本低、便携式的低速率误码测试仪。
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关键词
DS2172
便携式误码仪
网络测试
AT89C52
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职称材料
基于DS2172误码测试设备的软硬件设计
9
作者
韩建波
《无线电工程》
2008年第8期61-64,共4页
误码测试设备采用工控计算机作为设计平台,WINDOWS 2000作为操作系统进行软硬件设计。采用专用误码测试芯片发送/接收测试码,使用大规模集成电路及可编程门阵列FPGA,接口电路包括专用接口和通用接口,其通用数据接口采用多协议接口芯片,...
误码测试设备采用工控计算机作为设计平台,WINDOWS 2000作为操作系统进行软硬件设计。采用专用误码测试芯片发送/接收测试码,使用大规模集成电路及可编程门阵列FPGA,接口电路包括专用接口和通用接口,其通用数据接口采用多协议接口芯片,能够支持RS422/RS232/V.35等V系列建议接口。采用友好的WINDOWS操作界面,有几十种测试码型,接口类型丰富,不仅能实时显示误码数、误码率和告警等测试结果,还可自动生成测试日志,方便用户对测试结果的输出及分析。
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关键词
误码测试设备
ISA总线
多协议接口
驱动
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职称材料
基于FPGA的高速误码率测试仪的硬件设计
被引量:
1
10
作者
徐孟祥
《电子工程师》
2007年第11期9-11,共3页
结合FPGA(现场可编程门阵列)应用的实践及对高速误码率测试仪应用的研究,重点介绍了Xilinx公司Virtex-Ⅱ Pro系列FPGA的硬件设计,并叙述了高速误码率测试仪的组成原理,特别对高速误码率测试仪的实际硬件组成方案及PCB(印制电路板)设计...
结合FPGA(现场可编程门阵列)应用的实践及对高速误码率测试仪应用的研究,重点介绍了Xilinx公司Virtex-Ⅱ Pro系列FPGA的硬件设计,并叙述了高速误码率测试仪的组成原理,特别对高速误码率测试仪的实际硬件组成方案及PCB(印制电路板)设计时的考虑作了较详细的阐述。对利用FPGA进行高速PCB板设计有一定的指导意义。
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关键词
FPGA
误码率测试仪
PCB设计
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职称材料
基于SDH中E1信号映射解映射误码测试系统的研究
11
作者
刘雪峰
张希
《数学的实践与认识》
北大核心
2019年第1期129-133,共5页
误码仪在通讯中起着至关重要的作用,是衡量一个通讯系统优劣的工具,传统的误码仪价格昂贵,操作复杂,不便于携带.以FPGA及其外围电路为硬件部分,在Quartus软件平台上,推出了基于测量SDH中E1信号映射解映射的误码仪,并根据实验的验证,符...
误码仪在通讯中起着至关重要的作用,是衡量一个通讯系统优劣的工具,传统的误码仪价格昂贵,操作复杂,不便于携带.以FPGA及其外围电路为硬件部分,在Quartus软件平台上,推出了基于测量SDH中E1信号映射解映射的误码仪,并根据实验的验证,符合工业化测量的需要.
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关键词
误码仪
E1
可编程逻辑器件
原文传递
题名
基于DS2172和DS21554的误码测试仪设计
被引量:
3
1
作者
杨海涛
纪海林
机构
总参谋部第
出处
《自动化仪表》
CAS
2007年第10期18-20,共3页
文摘
介绍了一种采用误码专用测试芯片DS2172和E1接口芯片DS21554的误码测试仪的设计方案。该误码测试仪可以完成2048 kbps速率及一些较低速率的误码测试,提供E1接口及TTL接口两种模式,同时提供伪随机码和人工码两种测试码型,详细介绍了具体的硬件电路设计和具体的软件设计。设计结果表明该误码仪可以完成误码测试、误码统计及误码率的计算,能够满足数字传输系统常见故障的检测需求。
关键词
误码测试仪
E1接口
随机间隔
芯片
图形化
Keywords
bit
-
error
-
rate
tester
(
bert)
E1 interface Random interval Chip Graphics
分类号
TP216 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
下载PDF
职称材料
题名
基于DS2172的误码测试仪的设计
被引量:
2
2
作者
龙海南
王苗苗
赵建忠
机构
河北大学电子信息工程学院
出处
《国外电子元器件》
2007年第10期13-16,共4页
文摘
在数字通信工程中,误码率是检验数据传输设备及其信道工作质量的一个主要指标,给出了采用AT89C51单片机结合误码测试器DS2172实现简单误码测试仪的设计。
关键词
比特误码率
DS2172
比特误码率测试仪
Keywords
bit
error
rate
DS2172
bit error rate tester (bert)
分类号
TN914.3 [电子电信—通信与信息系统]
下载PDF
职称材料
题名
基于Windows CE的2M综合数字测试仪的设计与实现
被引量:
1
3
作者
张杰
黄俊
机构
重庆邮电大学通信网与测试技术重点实验室
出处
《电脑知识与技术》
2009年第3X期2273-2274,共2页
文摘
基于ARM内核和Windows CE操作系统的2M综合数字测试仪可以对2M传输线路完成50b/s到2048kb/s速率的误码测试,可进行在线监测、离线监测、2M信号眼图测试,对数据进行详细分析,解决了误码统计和误码测试,以及误码率的计算等关键问题。这是一款体积小、重量轻、成本低、性能稳定的低速率误码测试仪。
关键词
比特误码率
比特误码率测试仪(
bert
)
低功耗
Windows
CE
ARM
Keywords
bit
error
rate
bit
error
rate
tester
(
bert
)
Low Power
Windows CE
ARM
分类号
TP274.4 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
一种基于FPGA的高速误码测试仪的设计
被引量:
2
4
作者
王骐
王青萍
机构
湖北第二师范学院物理与电子信息学院
出处
《电子设计工程》
2011年第9期129-133,共5页
文摘
误码测试仪是检测通信系统可靠性的重要设备。传统的误码测试仪基于CPLD和CPU协同工作,不仅结构复杂,价格昂贵,而且不方便携带。基于FPGA的高速误码测试仪,采用FPGA来完成控制和测试模块的一体化设计,提高了系统功能扩展性和系统的集成度,使得各个功能模块在不改动硬件电路的情况下可以相应变化。在发送端发送m序列作为测试数据,其测试速率最高可达到155 Mb/s。由于将物理层上的各协议层的功能集中到FPGA内部实现,减少了硬件和软件的设计复杂度,并且缩短了系统的开发的周期,具有可升级的特点。
关键词
高速误码测试仪
现场可编程门阵列
VERILOG硬件描述语言
模块图元
仿真
M序列码
Keywords
high-speed
bit
error
rate
tester
Field Programmable Gate Array (FPGA)
Verilog Hardware Describe Language(VHDL)
module graphic element
simulation
M code
分类号
TN609 [电子电信—电路与系统]
下载PDF
职称材料
题名
基于FPGA的E3误码仪的设计与应用
5
作者
胡辽林
刘雪峰
机构
西安理工大学机械与精密仪器工程学院
出处
《光通信技术》
CSCD
北大核心
2013年第1期51-52,共2页
基金
陕西省教育厅科学研究计划(2010JK716)资助
文摘
设计了基于FPGA的E3速率等级的误码仪(E3-BER),由伪随机码产生模块、两路信号比较模块、计数模块和显示模块4部分构成,分别用E3-BER和SDH分析仪(ANT-5)测试了基于FPGA的SDH E3复用/解复用系统,在相同的测量时间内(1星期),误码均为0。测试结果间接验证了设计的正确性。
关键词
现场可编程门阵列
同步数字系列
E3
误码仪
Keywords
field programmable gate array(FPGA)
synchronous digital hierarchy(SDH)
E3
bit
error
rate
tester
分类号
TN914.3 [电子电信—通信与信息系统]
下载PDF
职称材料
题名
基于STM32高速误码测试仪设计与实现
被引量:
5
6
作者
吴柏昆
贾涵阳
余文志
吴锋
钱银博
机构
华中科技大学光学与电子信息学院
出处
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
2015年第9期31-34,共4页
文摘
针对目前市场上主流的国外误码仪价格昂贵,操作复杂的现象,设计了一种基于STM32的高速误码测试仪。该仪器具有4个测试信道,每个信道能涵盖9.9~11.3 Gbps间的标准协议测试速率,支持多种伪随机码输出及误码率同步显示,具有良好触摸屏控制的人机界面。本文对该测试仪的硬件和软件进行了具体阐述。测试结果证明,该测试仪满足误码测试的需求,具有可靠性高,操作简单,价格较低的特点。
关键词
STM32
高速误码测试仪
眼图
误码率
人机交互
Keywords
STM32
high speed
bit
error
rate
tester
eye diagram
bit
error
rate
human-computer interaction
分类号
TM93 [电气工程—电力电子与电力传动]
下载PDF
职称材料
题名
可编程误码仪的设计与实现
被引量:
2
7
作者
胡吉铭
张晓林
冯文全
机构
北京航空航天大学电子信息工程学院
出处
《电子测量技术》
2006年第5期112-114,共3页
文摘
误码仪(biterrorratetester,BERT)是数字通信系统性能测试的重要仪器。本文设计的可编程误码仪主要由发端设备和收端设备两部分构成:发端设备主要完成序列产生和时钟产生;收端设备主要完成序列同步和序列比对。误码仪选用了单片机和FPGA作为核心器件,提高它的再升级和可移植能力。本文设计的可编程误码仪具有使用简单、测试内容丰富、误码测试结果显示直观、准确等特点。
关键词
误码率
误码仪
码速率
发端设备
收端设备
Keywords
bit
error
rate
bert
bit
rate
transmit part
receive part
分类号
TN915.05 [电子电信—通信与信息系统]
下载PDF
职称材料
题名
一种便携式误码测试仪的设计
被引量:
2
8
作者
李宏
齐林
杨亮
机构
郑州大学信息工程学院
出处
《现代电子技术》
2008年第13期122-124,共3页
基金
河南省科技攻关项目(0624220060)
文摘
误码仪是数字通信系统性能测试的重要仪器。设计采用国外专用集成误码测试芯片DS2172、E1接口芯片DS21554和单片机芯片AT89C52联合设计,全部采用高效低功耗芯片,并使用单电源工作,它是一款体积小、重量轻、成本低、便携式的低速率误码测试仪。
关键词
DS2172
便携式误码仪
网络测试
AT89C52
Keywords
DS2172
portable
bit
error
rate
tester
network testing
AT89C52
分类号
TN806 [电子电信—信息与通信工程]
下载PDF
职称材料
题名
基于DS2172误码测试设备的软硬件设计
9
作者
韩建波
机构
中国电子科技集团公司第五十四研究所
出处
《无线电工程》
2008年第8期61-64,共4页
文摘
误码测试设备采用工控计算机作为设计平台,WINDOWS 2000作为操作系统进行软硬件设计。采用专用误码测试芯片发送/接收测试码,使用大规模集成电路及可编程门阵列FPGA,接口电路包括专用接口和通用接口,其通用数据接口采用多协议接口芯片,能够支持RS422/RS232/V.35等V系列建议接口。采用友好的WINDOWS操作界面,有几十种测试码型,接口类型丰富,不仅能实时显示误码数、误码率和告警等测试结果,还可自动生成测试日志,方便用户对测试结果的输出及分析。
关键词
误码测试设备
ISA总线
多协议接口
驱动
Keywords
bit error rate tester (bert)
ISA bus
multipretocol interface
drive
分类号
TN919 [电子电信—通信与信息系统]
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职称材料
题名
基于FPGA的高速误码率测试仪的硬件设计
被引量:
1
10
作者
徐孟祥
机构
总参通信训练基地五大队
出处
《电子工程师》
2007年第11期9-11,共3页
文摘
结合FPGA(现场可编程门阵列)应用的实践及对高速误码率测试仪应用的研究,重点介绍了Xilinx公司Virtex-Ⅱ Pro系列FPGA的硬件设计,并叙述了高速误码率测试仪的组成原理,特别对高速误码率测试仪的实际硬件组成方案及PCB(印制电路板)设计时的考虑作了较详细的阐述。对利用FPGA进行高速PCB板设计有一定的指导意义。
关键词
FPGA
误码率测试仪
PCB设计
Keywords
FPGA
bit
error
rate
tester
PCB design
分类号
TM734.5 [电气工程—电力系统及自动化]
下载PDF
职称材料
题名
基于SDH中E1信号映射解映射误码测试系统的研究
11
作者
刘雪峰
张希
机构
西京学院理学院
西安黄河光伏科技股份有限公司
出处
《数学的实践与认识》
北大核心
2019年第1期129-133,共5页
基金
西京学院科研基金(XJ170114)
文摘
误码仪在通讯中起着至关重要的作用,是衡量一个通讯系统优劣的工具,传统的误码仪价格昂贵,操作复杂,不便于携带.以FPGA及其外围电路为硬件部分,在Quartus软件平台上,推出了基于测量SDH中E1信号映射解映射的误码仪,并根据实验的验证,符合工业化测量的需要.
关键词
误码仪
E1
可编程逻辑器件
Keywords
the
bit
error
rate
tester
E1
FPGA
分类号
TN80 [电子电信—信息与通信工程]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于DS2172和DS21554的误码测试仪设计
杨海涛
纪海林
《自动化仪表》
CAS
2007
3
下载PDF
职称材料
2
基于DS2172的误码测试仪的设计
龙海南
王苗苗
赵建忠
《国外电子元器件》
2007
2
下载PDF
职称材料
3
基于Windows CE的2M综合数字测试仪的设计与实现
张杰
黄俊
《电脑知识与技术》
2009
1
下载PDF
职称材料
4
一种基于FPGA的高速误码测试仪的设计
王骐
王青萍
《电子设计工程》
2011
2
下载PDF
职称材料
5
基于FPGA的E3误码仪的设计与应用
胡辽林
刘雪峰
《光通信技术》
CSCD
北大核心
2013
0
下载PDF
职称材料
6
基于STM32高速误码测试仪设计与实现
吴柏昆
贾涵阳
余文志
吴锋
钱银博
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
2015
5
下载PDF
职称材料
7
可编程误码仪的设计与实现
胡吉铭
张晓林
冯文全
《电子测量技术》
2006
2
下载PDF
职称材料
8
一种便携式误码测试仪的设计
李宏
齐林
杨亮
《现代电子技术》
2008
2
下载PDF
职称材料
9
基于DS2172误码测试设备的软硬件设计
韩建波
《无线电工程》
2008
0
下载PDF
职称材料
10
基于FPGA的高速误码率测试仪的硬件设计
徐孟祥
《电子工程师》
2007
1
下载PDF
职称材料
11
基于SDH中E1信号映射解映射误码测试系统的研究
刘雪峰
张希
《数学的实践与认识》
北大核心
2019
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