大鼠生后脑发育过程中编程性细胞死亡的研究

编程性细胞死亡（ｐｒｏｇｒａｍ ｍ ｅｄ ｃｅｌｌｄｅａｔｈ，ＰＣＤ）在脑发育过程中起重要作用，为认识ＰＣＤ在生后脑发育过程中的发生规律，对大鼠生后不同时间脑内神经细胞ＰＣＤ进行研究，结果显示：Ｐ１ 天大脑皮层、白质、海马及基底节区可见ＴＵＮＥＬ阳性细胞，Ｐ７ 天达到高峰，Ｐ１４ 天急剧下降，Ｐ２８ 天ＰＣＤ细胞基本消失。反映ＰＣＤ是大鼠生后脑发育中神经细胞死亡的重要方式，主要发生在生后头４ 周。