炭黑颗粒尺寸和形态特征的透射电子显微镜分析

用透射电子显微镜(TEM)分析炭黑颗粒尺寸和形态特征。结果表明:采用本研究TEM炭黑形貌分析(软件分析)方法测试的炭黑初级粒子平均粒径与炭黑初级粒子粒径标称值相符,炭黑形态特征与实际相符,炭黑电镜比表面积变化趋势与统计吸附层厚度表面积相同。该方法数据准确、可靠,分析高效、便捷。