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Detailed characterization of polycapillary focusing x-ray lenses by a charge-coupled device detector and a pinhole
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作者 Xue-Peng Sun Shang-Kun Shao +2 位作者 Hui-Quan Li Tian-Yu Yuan Tian-Xi Sun 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2022年第12期137-144,共8页
A method to measure the detailed performance of polycapillary x-ray optics by a pinhole and charge coupled device(CCD)detector was proposed in this study.The pinhole was located between the x-ray source and the polyca... A method to measure the detailed performance of polycapillary x-ray optics by a pinhole and charge coupled device(CCD)detector was proposed in this study.The pinhole was located between the x-ray source and the polycapillary x-ray optics to determine the illuminating region of the incident x-ray beam on the input side of the optics.The CCD detector placed downstream of the polycapillary x-ray optics ensured that the incident x-ray beam controlled by the pinhole irradiated a specific region of the input surface of the optics.The intensity of the output beam of the polycapillary x-ray optics was obtained from the far-field image of the output beam of the optics captured by CCD detector.As an application example,the focal spot size,gain in power density,transmission efficiency,and beam divergence of different parts of a polycapillary focusing x-ray lenses(PFXRL)were measured by a pinhole and CCD detector.Three pinholes with diameters of 500,1000,and 2000μm were used to adjust the diameter of the incident x-ray beam illuminating the PFXRL from 500μm to the entire surface of the input side of the PFXRL.The focal spot size of the PFXRL,gain in power density,transmission efficiency,and beam divergence ranged from 27.1μm to 34.6μm,400 to 3460,26.70%to 5.38%,and 16.8 mrad to 84.86 mrad,respectively. 展开更多
关键词 polycapillary x-ray lenses charge-coupled device detector PINHOLE performance characterization
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X射线晶体学技术的发展及其在地球深部物质研究中的应用 被引量:1
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作者 施倪承 李国武 +1 位作者 马喆生 熊明 《矿物岩石》 CAS CSCD 北大核心 2005年第3期27-31,共5页
随着光源更为全面的应用、探测器及计算技术方面的发展X射线晶体学技术得到了利用电子藕合探测器技术(CCD)对矿物晶体包括对地幔矿物及具有调制结构的矿物晶体结构的测定,开发出电子藕合探测器技术中的甘道菲(G ando lfi)方法。该方法... 随着光源更为全面的应用、探测器及计算技术方面的发展X射线晶体学技术得到了利用电子藕合探测器技术(CCD)对矿物晶体包括对地幔矿物及具有调制结构的矿物晶体结构的测定,开发出电子藕合探测器技术中的甘道菲(G ando lfi)方法。该方法不仅能对单晶样品进行德拜环的测定,而且可大量应用于难以取得单晶颗粒的样品的XRD研究,从而使得处于单晶(具有严格单一的晶体学取向)及粉晶(具有完全随机的晶体学取向)之间过渡类型的晶体的XRD研究成为可能。该方法与粉末衍射图谱的全谱拟合(R i-etve ld m ethod)法相结合可解决粉晶结构解析和精修问题。 展开更多
关键词 X射线衍射 晶体结构测定 电子藕合探测器 地幔矿物
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单晶X射线衍射技术的进展评述 被引量:4
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作者 王哲明 严纯华 《现代仪器》 2001年第6期1-8,共8页
本文评述了十余年来单晶X射线衍射技术的进展。介绍高亮度X射线光源的获得,能够大幅度提高衍射数据收集速度和灵敏度的二维电子面探测器成像板IP和电荷耦合器件CCD的工作原理和应用等,并通过实例说明这些技术上的重大进步正在极大地推... 本文评述了十余年来单晶X射线衍射技术的进展。介绍高亮度X射线光源的获得,能够大幅度提高衍射数据收集速度和灵敏度的二维电子面探测器成像板IP和电荷耦合器件CCD的工作原理和应用等,并通过实例说明这些技术上的重大进步正在极大地推动人们对物质微观结构的深入认识并带来巨大的成果。 展开更多
关键词 单晶X射线衍射 高亮度X射线光源 面探测器 成像板 电荷耦合器件 晶体结构
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