化学计量学与X射线荧光光谱分析

简要回顾了Ｘ＿射线荧光分析中数学校正模型的发展进程；阐述了基体校正方程与化学计量学之间的关系；介绍了偏最小二乘回归、神经网络、专家系统和模式识别等近期研究成果；以及轻元素测定、微束和薄层分析等数据处理技术。

三维荧光化学多维校正方法研究新进展

荧光分析是分析科学领域广泛应用的高灵敏度的技术。但常面临单组分测定难以避开干扰、多组分测定困于光谱重叠的难题。化学计量学多维校正方法具有很好的"数学分离分析"功能,通过"数学分离"代替或增强"化学或物理分离"。三维荧光技术结合化学计量学多维校正方法具有独特的"二阶优势",即使有未校正光谱干扰共存,亦能对复杂体系中多组分目标物进行直接、快速、同时、精准的定量分析。目前,该类分析策略正被越来越广泛地应用于医药、生物、食品、环境等领域的复杂测试对象中的多组分目标物的直接、快速、同时定量分析。