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BESⅢ主漂移室内室升级MAPS芯片探针台测试系统设计
1
作者
周传兴
董明义
+2 位作者
鞠旭东
董静
欧阳群
《核电子学与探测技术》
北大核心
2017年第3期225-230,共6页
为满足北京谱仪Ⅲ主漂移室内室升级MAPS芯片测试需要,设计了一套用于芯片功能检查的芯片探针台测试系统。该系统实现了批量芯片JTAG通讯、芯片功耗、像素箝位电压、读出数据等芯片的功能检查,并可以进行芯片噪声水平以及甄别器阈值扫描...
为满足北京谱仪Ⅲ主漂移室内室升级MAPS芯片测试需要,设计了一套用于芯片功能检查的芯片探针台测试系统。该系统实现了批量芯片JTAG通讯、芯片功耗、像素箝位电压、读出数据等芯片的功能检查,并可以进行芯片噪声水平以及甄别器阈值扫描等初步测试。芯片的探针台测试不仅在非邦定的情况下完成了芯片的筛选,同时可为后续芯片在探测器上工作时的阈值等参数配置提供参考。
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关键词
单片型有源像素芯片
硅像素探测器
探针卡
芯片探针台测试
下载PDF
职称材料
薄膜型锑化铟霍尔元件芯片测试系统的设计与实现
被引量:
2
2
作者
欧琳
王静
+5 位作者
林兴
惠一恒
赵勇
赖陆屹
胡鹏飞
王广才
《自动化与仪器仪表》
2021年第2期93-96,99,共5页
针对薄膜型锑化铟霍尔元件芯片性能测试,设计了一套霍尔元件芯片测试系统。系统主要由手动探针台、显微镜、探针卡、外加磁场、PLC以及测试软件组成,可以进行霍尔元件芯片的输入和输出电阻、不平衡电压以及霍尔电压的测试。测试系统稳...
针对薄膜型锑化铟霍尔元件芯片性能测试,设计了一套霍尔元件芯片测试系统。系统主要由手动探针台、显微镜、探针卡、外加磁场、PLC以及测试软件组成,可以进行霍尔元件芯片的输入和输出电阻、不平衡电压以及霍尔电压的测试。测试系统稳定性好,重复度高,测试误差较小。手动探针台操作简单,测试方便,灵活性强,可分别测试4英寸硅片和3英寸铁氧体衬底制备的薄膜型锑化铟霍尔元件芯片,以较低成本满足了霍尔元件芯片研发过程中芯片测试的需求。
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关键词
锑化铟
霍尔元件
芯片
晶圆测试
手动探针台
原文传递
题名
BESⅢ主漂移室内室升级MAPS芯片探针台测试系统设计
1
作者
周传兴
董明义
鞠旭东
董静
欧阳群
机构
核探测与核电子学国家重点实验室
中国科学院高能物理研究所
中国科学院大学
出处
《核电子学与探测技术》
北大核心
2017年第3期225-230,共6页
基金
国家自然科学基金(U1232202)资助
文摘
为满足北京谱仪Ⅲ主漂移室内室升级MAPS芯片测试需要,设计了一套用于芯片功能检查的芯片探针台测试系统。该系统实现了批量芯片JTAG通讯、芯片功耗、像素箝位电压、读出数据等芯片的功能检查,并可以进行芯片噪声水平以及甄别器阈值扫描等初步测试。芯片的探针台测试不仅在非邦定的情况下完成了芯片的筛选,同时可为后续芯片在探测器上工作时的阈值等参数配置提供参考。
关键词
单片型有源像素芯片
硅像素探测器
探针卡
芯片探针台测试
Keywords
monolithic active pixel sensor
Si pixel detector
probe
card
chip probe station test
分类号
TL814 [核科学技术—核技术及应用]
下载PDF
职称材料
题名
薄膜型锑化铟霍尔元件芯片测试系统的设计与实现
被引量:
2
2
作者
欧琳
王静
林兴
惠一恒
赵勇
赖陆屹
胡鹏飞
王广才
机构
南开大学光电子薄膜器件与技术研究所天津市光电子薄膜器件与技术重点实验室薄膜光电子技术教育部工程研究中心天津市中欧太阳能光伏发电技术联合研究中心
出处
《自动化与仪器仪表》
2021年第2期93-96,99,共5页
基金
南开大学中央高校基本科研业务费专项资金(No.63181217,63191204)
国家高技术研究发展计划(No.2013AA050302)。
文摘
针对薄膜型锑化铟霍尔元件芯片性能测试,设计了一套霍尔元件芯片测试系统。系统主要由手动探针台、显微镜、探针卡、外加磁场、PLC以及测试软件组成,可以进行霍尔元件芯片的输入和输出电阻、不平衡电压以及霍尔电压的测试。测试系统稳定性好,重复度高,测试误差较小。手动探针台操作简单,测试方便,灵活性强,可分别测试4英寸硅片和3英寸铁氧体衬底制备的薄膜型锑化铟霍尔元件芯片,以较低成本满足了霍尔元件芯片研发过程中芯片测试的需求。
关键词
锑化铟
霍尔元件
芯片
晶圆测试
手动探针台
Keywords
InSb
Hall element
chip
s
Wafer
test
ing
Manual
probe
station
分类号
TP206 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
O439 [机械工程—光学工程]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
BESⅢ主漂移室内室升级MAPS芯片探针台测试系统设计
周传兴
董明义
鞠旭东
董静
欧阳群
《核电子学与探测技术》
北大核心
2017
0
下载PDF
职称材料
2
薄膜型锑化铟霍尔元件芯片测试系统的设计与实现
欧琳
王静
林兴
惠一恒
赵勇
赖陆屹
胡鹏飞
王广才
《自动化与仪器仪表》
2021
2
原文传递
已选择
0
条
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参考文献
引证文献
统计分析
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