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微尺度CSP焊点温振耦合应力应变有限元分析 被引量:8
1
作者 黄春跃 韩立帅 +2 位作者 梁颖 李天明 黄根信 《振动与冲击》 EI CSCD 北大核心 2018年第15期171-178,共8页
建立了微尺度芯片尺寸封装(CSP)焊点三维有限元分析模型,对模型进行了热结构耦合分析和温振耦合分析,获得了微尺度CSP焊点应力应变分布结果;对比分析了微尺度CSP焊点与常规尺寸CSP焊点的应力应变分布;分析了不同焊料、焊盘直径和焊点体... 建立了微尺度芯片尺寸封装(CSP)焊点三维有限元分析模型,对模型进行了热结构耦合分析和温振耦合分析,获得了微尺度CSP焊点应力应变分布结果;对比分析了微尺度CSP焊点与常规尺寸CSP焊点的应力应变分布;分析了不同焊料、焊盘直径和焊点体积对微尺度CSP焊点应力应变的影响。结果表明:温振耦合条件下,微尺度CSP焊点内应力应大于常规尺寸CSP焊点应力应变;在SAC305、SAC387、63Sn37Pb、62Sn36Pb2Ag四种焊点材料中采用SAC387的焊点最大应力最大;焊点最大直径由105μm减小至80μm时,微尺度CSP焊点内应力应变呈现出减小的趋势;焊盘直径由80μm减小至60μm时,微尺度焊点内应力应变呈现出增大的趋势。 展开更多
关键词 微尺度焊点 芯片尺寸封装(csp) 温振耦合 应力应变 有限元分析
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CSP键合金丝热应力分析 被引量:7
2
作者 谢劲松 钟家骐 +1 位作者 杨邦朝 蒋明 《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第5期68-71,共4页
对CSP键合金丝的热可靠性进行了研究。运用数值分析方法,采用有限元软件ANSYS8.0,分析了在热循环载荷条件下键合金丝的热应力,以及键合金丝可能出现的失效模式。
关键词 芯片尺寸封装 键合金丝 有限元 热应力
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CSP芯片热应力分析 被引量:3
3
作者 谢劲松 钟家骐 +1 位作者 李川 敬兴久 《电子工业专用设备》 2005年第4期32-34,42,共4页
对CSP芯片热可靠性进行了研究。运用数值分析方法,采用有限元软件ANSYS8.0,模拟分析在循环热载荷条件下芯片的热应力,以及芯片可能的失效形式。
关键词 芯片尺寸封装(csp) 芯片 有限元 应力
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基于倒装焊的大尺寸芯片塑封工艺研究
4
作者 吉勇 杨昆 +2 位作者 陈鹏 张永胜 李杨 《中国集成电路》 2024年第7期81-86,共6页
基于倒装焊的大尺寸芯片塑封工艺,研究了4000 pin级电路封装工艺试验,对大尺寸芯片倒装、回流焊接、底填以及4000 pin级植球等关键工艺步骤进行了研究和评估。工艺试验结果表明工艺能力可以较好地覆盖4000 pin级倒装芯片球栅格阵列(FCB... 基于倒装焊的大尺寸芯片塑封工艺,研究了4000 pin级电路封装工艺试验,对大尺寸芯片倒装、回流焊接、底填以及4000 pin级植球等关键工艺步骤进行了研究和评估。工艺试验结果表明工艺能力可以较好地覆盖4000 pin级倒装芯片球栅格阵列(FCBGA)电路塑料封装。可靠性测试结果表明,4000 pin级FCBGA塑料封装电路高温贮存(150℃)可达1000 h,温循寿命(-65℃~150℃)可达500次,强加速稳态湿热试验(130℃/85%)可达96 h,且环境试验后的电路通断测试正常。 展开更多
关键词 大尺寸芯片封装 4000 pin 高可靠塑封
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芯片尺寸封装(CSP)技术 被引量:3
5
作者 周德俭 吴兆华 《电子工艺技术》 1997年第3期104-107,共4页
芯片尺寸封装(CSP)技术是一种新兴的芯片封装技术,日本等国对该技术的研究相当重视,发展速度很快。
关键词 芯片尺寸封装 表面组装技术 csp技术
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电场作用下CSP的失效行为
6
作者 刘春忠 崔献威 +1 位作者 吴迪 刘志权 《沈阳航空航天大学学报》 2014年第2期43-46,共4页
主要研究95.5Sn3.8Ag0.7Cu焊球电迁移过程和焊点的失效行为,发现焊点的电迁移过程主要分为3个阶段:微孔洞的孕育与形成、孔洞的聚集和快速失效阶段。Cu6Sn5生长速率随着环境温度的升高而增大,Cu3Sn在UBM和Cu6Sn5的界面处也随着Cu6Sn5的... 主要研究95.5Sn3.8Ag0.7Cu焊球电迁移过程和焊点的失效行为,发现焊点的电迁移过程主要分为3个阶段:微孔洞的孕育与形成、孔洞的聚集和快速失效阶段。Cu6Sn5生长速率随着环境温度的升高而增大,Cu3Sn在UBM和Cu6Sn5的界面处也随着Cu6Sn5的长大而生成并生长,PCB侧的Cu焊盘在电子风的作用下溶解。焊点的失效模式主要为焊盘的溶解、焊球两个界面的裂纹生长断裂和焊球的熔化。 展开更多
关键词 电迁移 无铅焊球 金属间化合物 芯片级封装
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基于BGA/CSP封装技术的微型存储测试系统的研制 被引量:3
7
作者 陈鲁疆 熊继军 +1 位作者 马游春 张文栋 《弹箭与制导学报》 CSCD 北大核心 2005年第2期94-96,共3页
文中主要研究设计了基于BGA/CSP微小封装技术的微型存储测试系统,并阐述了该系统的设计原理。系统采用CPLD(复杂可编程逻辑器件)与先进球栅阵列封装技术相结合的设计理念,使存储测试系统在微型化、微功耗和微噪声方面有了很大突破,进而... 文中主要研究设计了基于BGA/CSP微小封装技术的微型存储测试系统,并阐述了该系统的设计原理。系统采用CPLD(复杂可编程逻辑器件)与先进球栅阵列封装技术相结合的设计理念,使存储测试系统在微型化、微功耗和微噪声方面有了很大突破,进而拓展了存储测试技术的应用领域。同时指出了存储测试系统进一步微型化的发展趋势。 展开更多
关键词 存储测试系统 BGA/csp 封装技术 复杂可编程逻辑器件 研制 存储测试技术 设计原理 研究设计 设计理念 球栅阵列 CPLD 应用领域 发展趋势 微型化 微功耗
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基于响应面-遗传算法的CSP焊点随机振动应力与回波损耗双目标优化设计 被引量:2
8
作者 路良坤 黄春跃 +1 位作者 梁颖 李天明 《振动与冲击》 EI CSCD 北大核心 2019年第21期221-228,共8页
建立了芯片尺寸封装(Chip Scale Package,CSP)焊点有限元分析模型和电磁仿真模型,选取焊点直径、焊点高度和焊盘直径作为设计变量,以CSP焊点随机振动应力和回波损耗为目标值,设计17组焊点形态参数水平组合并建模进行仿真计算,采用响应... 建立了芯片尺寸封装(Chip Scale Package,CSP)焊点有限元分析模型和电磁仿真模型,选取焊点直径、焊点高度和焊盘直径作为设计变量,以CSP焊点随机振动应力和回波损耗为目标值,设计17组焊点形态参数水平组合并建模进行仿真计算,采用响应曲面法对17组组合应力值、回波损耗值与CSP焊点形态参数间关系进行拟合,结合遗传算法对拟合函数进行优化设计,得到CSP焊点随机振动应力值和回波损耗值同时降低参数水平组合,并通过回波损耗测试实验对优化结果进行了验证。结果表明:优化后CSP焊点最大等效应力下降11%的同时回波损耗降低了2.78%,回波损耗实测试验验证了优化结果的正确性。 展开更多
关键词 芯片尺寸封装 随机振动 回波损耗 响应面 遗传算法
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圆片级封装技术——超CSP^(TM)
9
作者 杨建生 《电子与封装》 2007年第5期4-8,共5页
文章论述了超CSPTM圆片级封装技术工艺。在封装制造技术方面此CSP封装技术的优越性在于其使用了标准的IC工艺技术。这不仅便于圆片级芯片测试和老炼筛选,而且在圆片制造末端嵌入是理想的。同时,文章也论述了超CSP封装技术的电热性能特征。
关键词 芯片级封装 csp csp^TM 圆片级封装
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0.5mm间距CSP焊接工艺研究 被引量:1
10
作者 宋好强 戎孔亮 《电子工艺技术》 2003年第3期103-105,108,共4页
随着对各种电子产品,尤其是消费类电子产品的便携性和多功能的追求,CSP等新型封装器件(封装尺寸约为芯片本身尺寸的1.2倍)便应用到这些产品的设计中去。CSP器件的引脚间距有0.8mm、0.75mm、0.65mm、0.5mm等。为了便于以后产品设计和生... 随着对各种电子产品,尤其是消费类电子产品的便携性和多功能的追求,CSP等新型封装器件(封装尺寸约为芯片本身尺寸的1.2倍)便应用到这些产品的设计中去。CSP器件的引脚间距有0.8mm、0.75mm、0.65mm、0.5mm等。为了便于以后产品设计和生产的需要,就CSP器件在PWB设计和焊接两方面进行研究,侧重于焊接方面。 展开更多
关键词 芯片尺寸 封装 印制布线板 焊盘 表面处理 焊接 温度曲线 电子产品 csp 焊接工艺
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多芯CSP-LED芯片间距对热拥堵的影响 被引量:4
11
作者 刘倩 熊传兵 +2 位作者 汤英文 李晓珍 王世龙 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第3期308-315,共8页
在铝基板上贴片了不同间距的四颗芯片级封装发光二级管(CSP-LED)模组,测试了不同贴片间距CSP-LED模组的EL光谱、流明效率、光通量、相关色温等光电参数。结果显示,在小电流(20~400 mA)下,随着注入电流的增大,不同排布间距的蓝、白光样... 在铝基板上贴片了不同间距的四颗芯片级封装发光二级管(CSP-LED)模组,测试了不同贴片间距CSP-LED模组的EL光谱、流明效率、光通量、相关色温等光电参数。结果显示,在小电流(20~400 mA)下,随着注入电流的增大,不同排布间距的蓝、白光样品的光电性能基本呈现相同的变化规律,即光通量、光功率呈线性增长,光效基本保持稳定;在大电流(1~1.5 A)下,随着芯片间排布间距减小,EL光谱积分强度降低,色温升高,红色比下降,排布间距为0.2 mm的光通量衰减了84.58%,相比之下排布间距为3 mm和5 mm的光通量衰减明显减缓,分别为8.96%和3.58%,这些现象与禁带宽度、热应力、非辐射复合等因素有关。结果表明,CSP白光LED光通量衰减主要是荧光粉退化导致的,考虑到实际生产成本问题,排布间距为3 mm时,有利于热量散出,进而提高LED光电性能特性及其自身的使用寿命。 展开更多
关键词 芯片级封装 发光二极管 热拥堵 排布间距
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BGA/CSP和倒装焊芯片面积阵列封装技术 被引量:17
12
作者 罗伟承 刘大全 《中国集成电路》 2009年第2期49-55,共7页
随着表面安装技术的迅速发展,新的封装技术不断出现,面积阵列封装技术成了现代封装的热门话题,而BGA/CSP和倒装焊芯片(Flip Chip)是面积阵列封装主流类型。BGA/CSP和倒装焊芯片的出现,适应了表面安装技术的需要,解决了高密度、高性能、... 随着表面安装技术的迅速发展,新的封装技术不断出现,面积阵列封装技术成了现代封装的热门话题,而BGA/CSP和倒装焊芯片(Flip Chip)是面积阵列封装主流类型。BGA/CSP和倒装焊芯片的出现,适应了表面安装技术的需要,解决了高密度、高性能、多功能及高I/O数应用的封装难题。本文介绍了BGA/CSP和倒装焊芯片的封装理论和技术优势及制造流程,并阐述了植球机的基本构成和工作原理。 展开更多
关键词 面积阵列封装 BGA csp 倒装焊芯片 植球机
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0.5mm间距CSP/BGA器件无铅焊接工艺技术研究
13
作者 孙国清 李承虎 《电子工业专用设备》 2011年第5期25-27,51,共4页
芯片级封装器件因其小尺寸、低阻抗、低噪声等优点广泛应用于电子信息系统中。从器件封装、印制板焊盘设计、焊膏印刷、贴装以及回流焊接等方面探讨了0.5 mm间距CSP/BGA器件无铅焊接工艺技术。
关键词 芯片级封装 无铅 印刷 贴装 回流焊接
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Flip Chip Die-to-Wafer Bonding Review:Gaps to High Volume Manufacturing
14
作者 Mario Di Cino Feng Li 《Semiconductor Science and Information Devices》 2022年第1期8-13,共6页
Flip chip die-to-wafer bonding faces challenges for industry adoption due to a variety of technical gaps or process integration factors that are not fully developed to high volume manufacturing(HVM)maturity.In this pa... Flip chip die-to-wafer bonding faces challenges for industry adoption due to a variety of technical gaps or process integration factors that are not fully developed to high volume manufacturing(HVM)maturity.In this paper,flip-chip and wire bonding are compared,then flip-chip bonding techniques are compared to examine advantages for scaling and speed.Specific recent 3-year trends in flip-chip die-to-wafer bonding are reviewed to address the key gaps and challenges to HVM adoption.Finally,some thoughts on the care needed by the packaging technology for successful HVM introduction are reviewed. 展开更多
关键词 Flip chip Die-to-Wafer(D2W) chip-to-Wafer(C2W) chip-scale packaging(csp) High volume manufacturing(HVM) Known good die(KGD) Through silicon via(TSV) Reliability
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芯片尺寸封装技术 被引量:12
15
作者 杜晓松 杨邦朝 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2000年第6期418-421,共4页
芯片尺寸封装 (CSP)技术是近年来发展最为迅速的微电子封装新技术。文中介绍了该技术的基本概念、特点、主要类型及其应用现状和展望。
关键词 芯片尺寸封装 电子封装技术 微电子 集成电路
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圆片级芯片尺寸封装技术及其应用综述 被引量:6
16
作者 成立 王振宇 +3 位作者 祝俊 赵倩 侍寿永 朱漪云 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第2期38-43,共6页
综述了圆片级芯片尺寸封装(WL-CSP)的新技术及其应用概要,包括WL-CSP的关键工艺技术、封装与测试描述、观测方法和WL-CSP技术的可靠性及其相关分析等。并对比研究了几种圆片级再分布芯片尺寸封装方式的工艺特征和技术要点,从而说明了WL-... 综述了圆片级芯片尺寸封装(WL-CSP)的新技术及其应用概要,包括WL-CSP的关键工艺技术、封装与测试描述、观测方法和WL-CSP技术的可靠性及其相关分析等。并对比研究了几种圆片级再分布芯片尺寸封装方式的工艺特征和技术要点,从而说明了WL-CSP的技术优势及其应用前景。 展开更多
关键词 集成电路 圆片级芯片尺寸封装 技术优势 应用前景
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电镀技术在凸点制备工艺中的应用 被引量:12
17
作者 罗驰 练东 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2006年第4期467-472,共6页
简要回顾了微电子封装的发展历程;描述了FC、BGA、CSP以及WLP的基本概念;归纳了凸点类型以及各种凸点的不同用途;着重介绍了电镀金、金锡、锡铅、锡银和化学镀镍凸点的工艺过程,最后简单介绍了制备凸点的电镀设备。
关键词 微电子封装 芯片级封装 圆片级封装 电镀 凸点制备
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热力耦合场下互连微焊点的疲劳寿命分析 被引量:3
18
作者 朱桂兵 汪春昌 刘智泉 《中国测试》 CAS 北大核心 2019年第8期33-37,43,共6页
该文设计热循环和跌落耦合冲击试验,选用Sn96.5Ag3.0Cu0.5(SAC305)和Sn63Pb37(Sn-37Pb)两种焊料制成焊球,以芯片尺寸封装(CSP)芯片为研究基底,焊盘分别进行Ni/Au化学电镀和有机保焊膜涂覆两种工艺处理,研究该环境对CSP微尺度焊点疲劳寿... 该文设计热循环和跌落耦合冲击试验,选用Sn96.5Ag3.0Cu0.5(SAC305)和Sn63Pb37(Sn-37Pb)两种焊料制成焊球,以芯片尺寸封装(CSP)芯片为研究基底,焊盘分别进行Ni/Au化学电镀和有机保焊膜涂覆两种工艺处理,研究该环境对CSP微尺度焊点疲劳寿命的影响。结果表明:CSP微尺度焊点的失效模式是先快后慢,初期失效的变化率最高,产品具有固有的耐耦合冲击能力,无铅焊点更适用于低周热循环和低能级跌落耦合冲击环境,有铅焊点的抗跌落冲击能力较强,Ni/Au处理的焊盘配合无铅焊球制成的CSP器件具有更高的耐高周耦合冲击可靠性,焊点的失效机制是由离散的空洞逐渐向界面裂纹转变。 展开更多
关键词 微尺度焊点 热力耦合 芯片尺寸封装 失效机制
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多场耦合载荷下微焊点的疲劳寿命分析 被引量:2
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作者 朱桂兵 杨智然 孙蕾 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2021年第12期1077-1082,共6页
选择Sn_(96.5)Ag_(3.0)Cu_(0.5)(SAC305)和Sn_(63)Pb_(37)(Sn-37Pb)两种焊料制成焊膏和焊球,印制电路板(PCB)焊盘采用Ni/Au化学电镀处理,以芯片尺寸封装(CSP)和方形扁平无引脚(QFN)封装两种器件为研究载体,设计一种为芯片持续提供电载... 选择Sn_(96.5)Ag_(3.0)Cu_(0.5)(SAC305)和Sn_(63)Pb_(37)(Sn-37Pb)两种焊料制成焊膏和焊球,印制电路板(PCB)焊盘采用Ni/Au化学电镀处理,以芯片尺寸封装(CSP)和方形扁平无引脚(QFN)封装两种器件为研究载体,设计一种为芯片持续提供电载荷和恒温的测试夹具并将其置于热循环和跌落耦合冲击实验中,研究该多场耦合环境对微焊点疲劳寿命的影响。结果表明在持续电载荷和恒温环境下,在Ni/Au处理的焊盘上,微焊点的抗跌落冲击寿命的下降速度是先快后慢;焊点受到低于100周的热循环冲击时,它的抗跌落冲击寿命的下降速度约为1.3次/周,高于100周后的下降速度逐渐降低至约0.05次/周;与非持续多场载荷作用下焊点相比,它的寿命下降约40%。在低周热循环和低能级跌落耦合冲击条件下,无铅和有铅焊点的抗跌落冲击寿命相当,在高周热循环和高能级跌落耦合冲击条件下,无铅焊点具有更高的抗跌落冲击寿命。 展开更多
关键词 微焊点 电热力耦合 芯片尺寸封装(csp) 缺陷生长 无铅焊点
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集成电路芯片尺寸封装技术 被引量:4
20
作者 孙再吉 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 1997年第6期403-407,共5页
芯片尺寸封装技术是90年代初出现的一种新型封装技术,是封装领域的重要发展方向。
关键词 微组装 集成电路 封装 芯片尺寸封装
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