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Geochemistry of arsenic and selenium in a Ge-poor coal from the Wulantuga coal-hosted Ge ore deposit,Inner Mongolia,North China 被引量:3
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作者 Panpan Xie Qingqian Li +2 位作者 Jingjing Liu Hongjian Song Jianpeng Wei 《International Journal of Coal Science & Technology》 EI CAS 2014年第4期383-389,共7页
This paper reports new data for arsenic(As)and selenium(Se)in a total of twelve bench samples of Ge-rich and Ge-poor coals in the No.6 coal seam from the Wulantuga ore deposit,Inner Mongolia,Northeastern China.The Gep... This paper reports new data for arsenic(As)and selenium(Se)in a total of twelve bench samples of Ge-rich and Ge-poor coals in the No.6 coal seam from the Wulantuga ore deposit,Inner Mongolia,Northeastern China.The Gepoor coals are characterized by low-ash(with a weighted average ash yield 10.59%).The coal samples were digested using an UltraClave microwave high pressure reactor(milestone)and trace elements were detected by inductively coupled plasma mass spectrometry—collision/reaction cell technology,a reliable method for As and Se determination in coal samples.The contents of As and Se in the Ge-poor(with a weighted average content of 9.14 and 0.30 lg/g,respectively)and Ge-rich coal samples in the present study(varies from 16.88 to 17,776 lg/g and from 0.26 to 14.39 lg/g,respectively)are in a sharp contrast.The As in the Ge-poor coals is of both organic-and pyrite-associations,and its enrichment is attributed to the sediment source,and to a lesser extent,to hydrothermal fluids.Se is predominantly connected with organic matter in the Wulantuga Ge-poor coals. 展开更多
关键词 ARSENIC SELENIUM Wulantuga ge ore deposit
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Regulating Effect of Substrate Temperature on Sputteringgrown Ge/Si QDs under Low Ge Deposition
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作者 舒启江 YANG Linjing +1 位作者 LIU Hongxing 黄鹏儒 《Journal of Wuhan University of Technology(Materials Science)》 SCIE EI CAS CSCD 2024年第4期888-894,共7页
The effect of deposition temperature on the morphology and optoelectronic performance of Ge/Si QDs grown by magnetron sputtering under low Ge deposition(~4 nm)was investigated by atomic force microscopy,Raman spectros... The effect of deposition temperature on the morphology and optoelectronic performance of Ge/Si QDs grown by magnetron sputtering under low Ge deposition(~4 nm)was investigated by atomic force microscopy,Raman spectroscopy,and photoluminescence(PL)tests.The experimental results indicate that temperatures higher than 750℃effectively increase the crystallization rate and surface smoothness of the Si buffer layer,and temperatures higher than 600℃significantly enhance the migration ability of Ge atoms,thus increasing the probability of Ge atoms meeting and nucleating to form QDs on Si buffer layer,but an excessively high temperature will cause the QDs to undergo an Ostwald ripening process and thus develop into super large islands.In addition,some PL peaks were observed in samples containing small-sized,high-density Ge QDs,the photoelectric properties reflected by these peaks were in good agreement with the corresponding structural characteristics of the grown QDs.Our results demonstrate the viability of preparing high-quality QDs by magnetron sputtering at high deposition rate,and the temperature effect is expected to work in conjunction with other controllable factors to further regulate QD growth,which paves an effective way for the industrial production of QDs that can be used in future devices. 展开更多
关键词 ge/Si QDs deposition temperatures evolution law photoelectric performance
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Density behaviors of Ge nanodots self-assembled by ion beam sputtering deposition
3
作者 熊飞 杨涛 +1 位作者 宋肇宁 杨培志 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2013年第5期557-563,共7页
Self-assembled Ge nanodots with areal number density up to 2.33× 1010 cm-2 and aspect ratio larger than 0.12 are prepared by ion beam sputtering deposition. The dot density, a function of deposition rate and Ge c... Self-assembled Ge nanodots with areal number density up to 2.33× 1010 cm-2 and aspect ratio larger than 0.12 are prepared by ion beam sputtering deposition. The dot density, a function of deposition rate and Ge coverage, is observed to be limited mainly by the transformation from two-dimensional precursors to three-dimensional islands, and to be associated with the adatom behaviors of attachment and detachment from the islands. An unusual increasing temperature dependence of nanodot density is also revealed when a high ion energy is employed in sputtering deposition, and is shown to be related to the breaking down of the superstrained wetting layer. This result is attributed to the interaction between energetic atoms and the growth surface, which mediates the island nucleation. 展开更多
关键词 ge nanodot SELF-ORGANIZATION ion beam sputtering deposition adatom behavior
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GaInP/GaInAs/GaInNAs/Ge Four-Junction Solar Cell Grown by Metal Organic Chemical Vapor Deposition with High Efficiency
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作者 张杨 王青 +5 位作者 张小宾 刘振奇 陈丙振 黄珊珊 彭娜 王智勇 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2016年第10期167-171,共5页
We directly grow a lattice matched GalnP/GalnAs/GalnNAs/Ge (1.88 eVil .42 eVil .05 eV/0.67eV) four-junction (4J) solar cell on a Ge substrate by the metal organic chemical vapor deposition technology. To solve the... We directly grow a lattice matched GalnP/GalnAs/GalnNAs/Ge (1.88 eVil .42 eVil .05 eV/0.67eV) four-junction (4J) solar cell on a Ge substrate by the metal organic chemical vapor deposition technology. To solve the current limit of the GalnNAs sub cell, we design three kinds of anti-reflection coatings and adjust the base region thickness of the GalnNAs sub cell. Developed by a series of experiments, the external quantum efficiency of the GalnNAs sub cell exceeds 80%, and its current density reaches 11.24 mA/cm2. Therefore the current limit of the 4J solar cell is significantly improved. Moreover, we discuss the difference of test results between 4J and GalnP/GalnAs/Ge solar cells under the 1 sun AMO spectrum. 展开更多
关键词 by on it of GaInP/GaInAs/GaInNAs/ge Four-Junction Solar Cell Grown by Metal Organic Chemical Vapor deposition with High Efficiency is THAN ge GaAs with cell that
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Ohmic Contact at Al/TiO_2/n-Ge Interface with TiO_2 Deposited at Extremely Low Temperature
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作者 Yi Zhang Huan Liu +3 位作者 Gen-Quan Han Yan Liu Jin-Cheng Zhang Yue Hao 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2018年第2期116-119,共4页
TiO2deposited at extremely low temperature of 120°C by atomic layer deposition is inserted between metal and n-Ge to relieve the Fermi level pinning. X-ray photoelectron spectroscopy and cross-sectional transmiss... TiO2deposited at extremely low temperature of 120°C by atomic layer deposition is inserted between metal and n-Ge to relieve the Fermi level pinning. X-ray photoelectron spectroscopy and cross-sectional transmission electron microscopy indicate that the lower deposition temperature tends to effectively eliminate the formation of GeOxto reduce the tunneling resistance. Compared with TiO2deposited at higher temperature of 250°C,there are more oxygen vacancies in lower-temperature-deposited TiO2, which will dope TiO2contributing to the lower tunneling resistance. Al/TiO2/n-Ge metal-insulator-semiconductor diodes with 2 nm 120°C deposited TiO2achieves 2496 times of current density at-0.1 V compared with the device without the TiO2interface layer case, and is 8.85 times larger than that with 250°C deposited TiO2. Thus inserting extremely low temperature deposited TiO2to depin the Fermi level for n-Ge may be a better choice. 展开更多
关键词 TIO Ohmic Contact at Al/TiO2/n-ge Interface with TiO2 deposited at Extremely Low Temperature ge Al
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锆石Ge含量和年龄对云南临沧锗矿床物质来源的约束 被引量:8
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作者 刘德亮 黄启帅 +2 位作者 史仁灯 岳雅慧 丁林 《矿床地质》 CAS CSCD 北大核心 2015年第1期139-148,共10页
云南临沧锗矿床产在以临沧花岗岩为基底的中新世断陷盆地中。已有研究表明,成矿元素Ge来自基底花岗岩,但临沧花岗岩是复式岩基,具有多期次的岩浆活动,而Ge来自哪期岩浆活动并不清楚。文章对采自晓街、临沧、勐库和勐海的7个花岗岩样品(... 云南临沧锗矿床产在以临沧花岗岩为基底的中新世断陷盆地中。已有研究表明,成矿元素Ge来自基底花岗岩,但临沧花岗岩是复式岩基,具有多期次的岩浆活动,而Ge来自哪期岩浆活动并不清楚。文章对采自晓街、临沧、勐库和勐海的7个花岗岩样品(纵贯临沧岩基)进行了LA-ICP-MS锆石原位Ge元素含量分析和U-Pb年代学研究。研究结果表明,岩基主体岩浆活动时代与前人研究成果一致,为(215.6±2.7)Ma^(236.9±3.7)Ma,同时也有少量继承锆石(303~2533 Ma);w(Ge)在主岩浆期的锆石中为0.23×10-6~4.21×10-6,平均0.53×10-6,在继承锆石中为0.34×10-6~3.43×10-6,平均1.18×10-6;而在本次研究中新发现的年龄为106.5 Ma和87.7 Ma的年轻锆石中w(Ge)高达102×10-6。因此,推测临沧锗矿床中Ge来源于晚期岩浆或热液作用。这个结果为成矿理论的深入研究提供了新依据。 展开更多
关键词 地球化学 锆石ge含量 锆石年龄 花岗岩 临沧锗矿 云南
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脉冲激光烧蚀Ge产生等离子体特性的数值模拟 被引量:6
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作者 许媛 吴东江 刘悦 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第9期1561-1566,共6页
针对激光烧蚀半导体材料Ge初期的特点,建立了1维的热传导和流体动力学模型。对波长为248 nm、脉宽为17 ns、峰值功率密度为4×108W/cm2的KrF脉冲激光在133.32 Pa氦气环境下烧蚀Ge产生等离子体的特性进行了数值模拟。结果表明:单个... 针对激光烧蚀半导体材料Ge初期的特点,建立了1维的热传导和流体动力学模型。对波长为248 nm、脉宽为17 ns、峰值功率密度为4×108W/cm2的KrF脉冲激光在133.32 Pa氦气环境下烧蚀Ge产生等离子体的特性进行了数值模拟。结果表明:单个激光脉冲对靶的烧蚀深度达到55 nm,蒸气膨胀前端由于压缩背景气体产生压缩冲击波,波前的速度最大,温度很高。从不同时刻的电离率分布图中得出,在靶面附近区域,Ge的1阶电离始终占优势;在中心区域,脉冲作用时间内,Ge的2阶电离率比1阶电离率大,脉冲结束后,Ge的2阶电离率下降,1阶电离率逐渐变大。 展开更多
关键词 脉冲激光沉积 脉冲激光烧蚀 等离子体 晶体锗
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硼预淀积对自组织生长Ge量子点尺寸分布的影响 被引量:3
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作者 邓宁 黄文韬 +3 位作者 王燕 罗广礼 陈培毅 李志坚 《微纳电子技术》 CAS 2002年第6期16-20,共5页
研究了以不同B2H6流量预淀积硼对UHV/CVD自组织生长Ge量子点尺寸分布的影响。在适当的生长条件下,得到了尺寸分布很窄的均匀Ge量子点,用AFM对量子点的形貌进行观察,Ge量子点尺寸的涨落小于±3%,量子点的水平尺寸和高度分别为60nm和1... 研究了以不同B2H6流量预淀积硼对UHV/CVD自组织生长Ge量子点尺寸分布的影响。在适当的生长条件下,得到了尺寸分布很窄的均匀Ge量子点,用AFM对量子点的形貌进行观察,Ge量子点尺寸的涨落小于±3%,量子点的水平尺寸和高度分别为60nm和10nm,密度为8×109cm-2。实验结果表明,通过预淀积硼表面处理,可以得到尺寸分布很窄的量子点,以满足量子点光电器件方面应用的要求。 展开更多
关键词 UHV CVD ge量子点 硼预淀积 尺寸分布
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氧化铝模板法制备Ge纳米线 被引量:9
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作者 叶好华 叶志镇 +4 位作者 黄靖云 吴贵斌 赵炳辉 涂江平 侯山昆 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第2期173-176,共4页
采用氧化铝模板法结合具有高真空背景的低压化学气相沉积技术制备出 Ge纳米线 .在氧化铝模板的背面喷金作为催化剂 ,合成了 Ge纳米线 .采用原子力显微镜、X射线衍射、透射电镜、能量散射谱等手段对 Ge纳米线进行了分析 .Ge纳米线的直径... 采用氧化铝模板法结合具有高真空背景的低压化学气相沉积技术制备出 Ge纳米线 .在氧化铝模板的背面喷金作为催化剂 ,合成了 Ge纳米线 .采用原子力显微镜、X射线衍射、透射电镜、能量散射谱等手段对 Ge纳米线进行了分析 .Ge纳米线的直径约为 30 nm,长度超过 6 0 0 nm.对 Ge纳米线的生长机理进行了探讨 . 展开更多
关键词 ge纳米线 氧化铝模板 低压化学气相沉积
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闪锌矿矿物结构对Ge超常富集的制约:以贵州竹林沟Ge-Zn矿床为例 被引量:1
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作者 杨德智 周家喜 +3 位作者 孔志岗 吴越 黄智龙 金中国 《大地构造与成矿学》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第6期1120-1136,共17页
锗(Ge)是我国优势战略性关键金属之一,主要赋存在铅锌矿和煤矿中。在铅锌矿中,闪锌矿是Ge的主要载体。已有研究显示,闪锌矿中Ge以类质同象为主,尽管对Ge的替代方式认识有分歧,但是普遍认为闪锌矿中Cu、Ag、Mn、Fe等微量元素对Ge的替代... 锗(Ge)是我国优势战略性关键金属之一,主要赋存在铅锌矿和煤矿中。在铅锌矿中,闪锌矿是Ge的主要载体。已有研究显示,闪锌矿中Ge以类质同象为主,尽管对Ge的替代方式认识有分歧,但是普遍认为闪锌矿中Cu、Ag、Mn、Fe等微量元素对Ge的替代方式和超常富集有明显的影响,果真如此吗?竹林沟Ge-Zn矿床是近年来新发现的中型Zn矿床(Zn金属资源储量>20万吨,Zn平均品位6.5%)、大型Ge矿床(Ge金属资源储量>200吨,Ge平均品位98×10^(−6))。通过对竹林沟Ge-Zn矿床主要硫化物(闪锌矿和黄铁矿)中Ge等微量元素进行原位分析,结果显示Ge主要赋存于闪锌矿(Ge含量为272×10^(−6)~1915×10^(−6),均值776×10^(−6))中,黄铁矿中Ge含量<10×10^(−6)。但是不同矿物结构的闪锌矿中Ge含量差别较大,表现为放射束状闪锌矿中Ge含量(383×10^(−6)~1475×10^(−6),均值919×10^(−6))高于胶状环带闪锌矿中Ge含量(272×10^(−6)~1915×10^(−6),均值632×10^(−6))。而且不同矿物结构闪锌矿中Fe含量也有明显差别,表现为放射束状闪锌矿中Fe含量(858×10^(−6)~15935×10^(−6),均值5220×10^(−6))低于胶状环带闪锌矿中Fe含量(1201×10^(−6)~30817×10^(−6),均值9563×10^(−6)),与Ge的富集规律恰好相反。此外,闪锌矿中Cu(多数<3×10^(−6),最高52.1×10^(−6))、Ag(<1×10^(−6))、Mn(9.51×10^(−6)~171×10^(−6),均值86×10^(−6))等微量元素含量均比Ge含量显著低2~3个数量级;而黄铁矿中除Mn含量(396×10^(−6)~3973×10^(−6),均值1173×10^(−6))较高外,Cu含量(<1×10^(−6))、Ag含量多数低于检测限。相关分析显示,不同矿物结构闪锌矿中Ge与Mn、Fe的相关关系差异明显,表现为放射束状闪锌矿中Ge与Fe、Mn的相系数明显大于胶状环带闪锌矿中Ge与Fe、Mn的相关系数。此外,不同矿物结构闪锌矿中Ge与Cu、Ag等微量元素之间没有明显的相关性。结合Cu、Ag、Mn、Fe等微量元素的Mapping分析和综合研究,本文认为:①闪锌矿中Cu、Ag、Mn、Fe等微量元素可能对Ge的替代方式和超常富集没有制约作用;②仅靠相关性分析来探讨Ge的替代方式需要谨慎;③Ge的替代方式与其超常富集没有对应关系;④闪锌矿矿物结构很可能是Ge最终超常富集的关键控制因素。该认识为理解铅锌矿中Ge的超常富集机制提供了新的载体和视角。 展开更多
关键词 闪锌矿 矿物结构 ge超常富集 竹林沟ge-Zn矿床
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束流密度对Ge/Si量子点溅射生长的影响 被引量:2
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作者 杨杰 王茺 +1 位作者 陶东平 杨宇 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第16期2239-2242,2246,共5页
采用离子束溅射技术在Si基底上自组织生长了一系列Ge量子点样品,研究了束流密度对Ge/Si量子点的尺寸分布和形貌演变的影响。原子力显微镜测试结果表明,随着束流密度的增加,量子点的面密度持续增大,其尺寸不断减小,量子点的形貌由圆顶形... 采用离子束溅射技术在Si基底上自组织生长了一系列Ge量子点样品,研究了束流密度对Ge/Si量子点的尺寸分布和形貌演变的影响。原子力显微镜测试结果表明,随着束流密度的增加,量子点的面密度持续增大,其尺寸不断减小,量子点的形貌由圆顶形转变为过渡圆顶形。计算直径标准偏差的结果表明,当束流密度为0.86mA/cm2时,量子点的尺寸均匀性最佳。束流密度与沉积速率成正比,影响着表面吸附原子与其它原子相遇而形成晶核的能力。 展开更多
关键词 离子束溅射沉积 ge/Si量子点 束流密度 原子力显微镜
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反应溅射 Ge_XC_(1-X) 薄膜的沉积速率 被引量:1
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作者 刘正堂 朱景芝 +1 位作者 宋建权 郑修麟 《材料工程》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第2期6-8,共3页
系统地研究了射频磁控反应溅射中工艺参数对GeXC1-X薄膜沉积速率的影响。结果表明,当气体流量比超过某值后,沉积速率有较大的下降。沉积速率随射频功率的增大而增大。某工作气压下有沉积速率的最大值。薄膜厚度随时间的增长规... 系统地研究了射频磁控反应溅射中工艺参数对GeXC1-X薄膜沉积速率的影响。结果表明,当气体流量比超过某值后,沉积速率有较大的下降。沉积速率随射频功率的增大而增大。某工作气压下有沉积速率的最大值。薄膜厚度随时间的增长规律在出现靶中毒及未出现靶中毒的情况下略有差别。 展开更多
关键词 磁控反应溅射 沉积速率 靶中毒 碳化锗 薄膜
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Ge_xC_(1-x)非均匀增透保护膜系的设计和制备 被引量:1
13
作者 宋建全 刘正堂 +1 位作者 耿东生 郑修麟 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2001年第4期253-255,共3页
用射频磁控反应溅射法 (RS)制备出 Gex C1-x薄膜 ,其折射率可以在 1 .7~ 4.0之间变化。设计出单层 Gex C1-x非均匀增透保护膜和含有 Gex C1-x非均匀膜的多层增透保护膜系 ,并在 Zn S基片上制备出 Gex C1-x单层非均匀增透保护膜。设计... 用射频磁控反应溅射法 (RS)制备出 Gex C1-x薄膜 ,其折射率可以在 1 .7~ 4.0之间变化。设计出单层 Gex C1-x非均匀增透保护膜和含有 Gex C1-x非均匀膜的多层增透保护膜系 ,并在 Zn S基片上制备出 Gex C1-x单层非均匀增透保护膜。设计和实验结果表明 ,Zn S衬底上制备的非均匀膜实现了宽波段的增透 ,在 5 0 0 0~ 85 0 cm-1波数范围内 ,平均透过率从 6 7.1 9%提高到 78.70 % ,比未镀膜净增加 1 1 .5 1 %。 展开更多
关键词 碳化锗薄膜 非无效膜 增透保护膜系 膜系设计 膜系制备
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沉积温度和生长停顿对离子束溅射生长Ge/Si多层膜的影响
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作者 杨杰 王茺 +2 位作者 欧阳焜 陶东平 杨宇 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第4期945-950,共6页
采用离子束溅射技术生长了一系列Ge/Si多层膜,研究了沉积温度和生长停顿对Ge/Si多层膜结晶性和界面结构的影响。通过对Raman峰峰位、峰强度比值和X射线小角衍射等方面的研究,发现综合控制沉积温度和生长停顿能够得到结晶性和界面都相对... 采用离子束溅射技术生长了一系列Ge/Si多层膜,研究了沉积温度和生长停顿对Ge/Si多层膜结晶性和界面结构的影响。通过对Raman峰峰位、峰强度比值和X射线小角衍射等方面的研究,发现综合控制沉积温度和生长停顿能够得到结晶性和界面都相对理想的多层膜。这为改善Ge/Si多层膜的离子束溅射生长提供了一种有效的方法。 展开更多
关键词 离子束溅射 ge/Si多层膜 沉积温度 生长停顿
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不同气体退火La_2O_3栅介质Ge MOS电容的电特性
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作者 刘红兵 陈娟娟 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2011年第3期315-318,共4页
采用电子束蒸发方法,在Ge衬底上淀积La_2O_3高k栅介质,研究了O_2、NO、NH_3和N_2不同气体退火对MOS电容电特性的影响。测量了器件的C-V和I-V特性,并进行了高场应力实验。结果表明La_2O_3在N_2气氛中退火后,由于形成稳定的LaGeO_x而有效... 采用电子束蒸发方法,在Ge衬底上淀积La_2O_3高k栅介质,研究了O_2、NO、NH_3和N_2不同气体退火对MOS电容电特性的影响。测量了器件的C-V和I-V特性,并进行了高场应力实验。结果表明La_2O_3在N_2气氛中退火后,由于形成稳定的LaGeO_x而有效地降低了Q_(ox)和D_(it),从而获得低的栅极漏电流,同时获得较高的栅介质介电常数(18)。 展开更多
关键词 锗金属-氧化物-半导体 氧化镧 高K栅介质 淀积后退火
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CuGaSe_2∶Ge中间带半导体材料的制备 被引量:1
16
作者 郑平平 丁铁柱 +3 位作者 康振锋 刘文德 李强 肖玲玲 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第8期1921-1925,共5页
采用脉冲激光沉积(PLD)法在钠钙玻璃衬底上制备了CuGaSe2∶Ge薄膜。采用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)对CuGaSe2∶Ge薄膜的晶体结构和表面形貌进行了表征,采用紫外-可见分光光度计分析了CuGaSe2∶Ge薄膜的光吸收、反射和透射... 采用脉冲激光沉积(PLD)法在钠钙玻璃衬底上制备了CuGaSe2∶Ge薄膜。采用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)对CuGaSe2∶Ge薄膜的晶体结构和表面形貌进行了表征,采用紫外-可见分光光度计分析了CuGaSe2∶Ge薄膜的光吸收、反射和透射特性。结果表明,在CuGaSe2中掺IV族元素Ge,价带到中间带和中间带到导带的光子吸收能量分别为0.89 eV和0.71 eV,禁带宽度为1.60 eV,能够形成中间带。 展开更多
关键词 脉冲激光沉积 CuGaSe2∶ge薄膜 中间带 禁带宽度
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离子液体中Au(111)和Pt(111)表面Ge欠电位沉积的现场STM研究 被引量:1
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作者 谢旭芬 颜佳伟 +3 位作者 梁景洪 李纪军 张梦 毛秉伟 《电化学》 CAS CSCD 北大核心 2014年第1期12-16,共5页
本文研究BMIPF6离子液体中Au(111)和Pt(111)表面Ge的电沉积行为.循环伏安法测试结果表明,在含0.1 mol·L-1GeCl4的BMIPF6溶液Au(111)和Pt(111)表面均有两个与Ge沉积过程相关的还原峰.第一个还原峰包含了Ge4+还原成Ge2+及Ge的欠电位... 本文研究BMIPF6离子液体中Au(111)和Pt(111)表面Ge的电沉积行为.循环伏安法测试结果表明,在含0.1 mol·L-1GeCl4的BMIPF6溶液Au(111)和Pt(111)表面均有两个与Ge沉积过程相关的还原峰.第一个还原峰包含了Ge4+还原成Ge2+及Ge的欠电位沉积,第二个还原峰对应Ge的本体沉积.现场扫描隧道显微镜研究结果表明,Ge在Au(111)和Pt(111)表面均有两层欠电位沉积.第一层欠电位沉积厚度平均约为0.25 nm、形貌平整、带有缝隙的亚单层结构.第二层欠电位沉积形貌相对粗糙的点状团簇结构.该欠电位沉积过程伴随表面合金化. 展开更多
关键词 ge Au(111) Pt(111) 欠电位沉积 扫描隧道显微镜 离子液体
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金属Ni诱导横向晶化Ge纳米点/Si多层异质薄膜的特性
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作者 鄢波 张匡吉 +4 位作者 施毅 濮林 韩平 张荣 郑有炓 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第4期712-716,共5页
研究了利用低压化学气相沉积(LPCVD)和金属诱导横向结晶技术制备高密度Ge/Si量子点多层异质结构.首先在SiO2/Si(100)衬底上LPCVD生长了高密度Ge/aSi量子点多层结构,然后在较低温度下(低于550℃),利用金属Ni诱导多层结构中的aSi层横向结... 研究了利用低压化学气相沉积(LPCVD)和金属诱导横向结晶技术制备高密度Ge/Si量子点多层异质结构.首先在SiO2/Si(100)衬底上LPCVD生长了高密度Ge/aSi量子点多层结构,然后在较低温度下(低于550℃),利用金属Ni诱导多层结构中的aSi层横向结晶制备出高质量的Ge/Si量子点超晶格结构.通过光学显微镜、电子显微镜和显微喇曼光谱等手段测量研究表明,与单一aSi系统的金属Ni诱导相似,该多层结构中的各αSi层退火后也具有(110)择优取向,同时晶粒的直径较大,约在4~5μm左右.Ge点中的应力状态的变化揭示出诱导结晶后形成高质量的晶态Si与Ge纳米点界面. 展开更多
关键词 Oe/Si量子点多层结构 低压化学气相沉积 金属诱导横向结晶
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光子计数成像探测器电荷感应层Ge薄膜特性研究
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作者 郑鑫 陈波 +3 位作者 王孝东 张宏吉 李云鹏 于再超 《长春理工大学学报(自然科学版)》 2016年第4期38-41,共4页
为了研究光子计数成像系统中感应电荷层Ge薄膜的制备工艺,改善光子计数成像系统的成像稳定性,采用直流磁控溅射法在熔石英衬底上制备了Ge薄膜,分析了工作气体Ar气通入量对Ge薄膜沉积速率的影响,利用表面轮廓仪及四探针表面电阻仪对样品... 为了研究光子计数成像系统中感应电荷层Ge薄膜的制备工艺,改善光子计数成像系统的成像稳定性,采用直流磁控溅射法在熔石英衬底上制备了Ge薄膜,分析了工作气体Ar气通入量对Ge薄膜沉积速率的影响,利用表面轮廓仪及四探针表面电阻仪对样品分别进行了表面粗糙度及电学性能的表征。结果表明:随着Ar气通入量的增加,Ge薄膜沉积速率先上升后下降,在Ar气通入量为15sccm时,Ge薄膜的沉积速率出现极大值;Ge薄膜的表面粗糙度及薄膜电阻率均随着Ar气通入量的升高而增大;薄膜越厚,其电阻受氧化影响越小,电学性能越稳定。 展开更多
关键词 ge薄膜 直流磁控溅射 Ar气通入量 沉积速率 电学性质
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贵州半边街锗锌矿床锗的富集特征及其地质意义 被引量:1
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作者 程涌 周家喜 +1 位作者 孙国涛 黄智龙 《岩石学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2024年第1期43-59,共17页
锗(Ge)属于战略性关键矿产资源,是众多高新技术领域的重要原材料。Ge主要以共/伴生形式产出于Zn、Pb和Cu等热液贱金属矿床和煤矿床中,目前全球Ge资源主要来源于铅锌矿的副产品。近期取得较大找矿突破的半边街锌矿床(7.70Mt矿石,Zn平均品... 锗(Ge)属于战略性关键矿产资源,是众多高新技术领域的重要原材料。Ge主要以共/伴生形式产出于Zn、Pb和Cu等热液贱金属矿床和煤矿床中,目前全球Ge资源主要来源于铅锌矿的副产品。近期取得较大找矿突破的半边街锌矿床(7.70Mt矿石,Zn平均品位5.1%)伴生有超大型规模的金属Ge(>900t@110×10^(-6)),然而Ge超常富集的机制不清。本次研究利用LA-ICPMS对闪锌矿进行了微区原位微量元素组成和Mapping分析,以揭示Ge等元素的富集特征、赋存状态和替代方式,探讨Ge的富集机制。分析结果表明,半边街矿床闪锌矿中高含量(平均值>100×10^(-6))微量元素有Fe、Pb、Ge和Cd等,较高含量(平均值100×10^(-6)~10×10^(-6))的有Mn、Ga、Sn和Tl,以及较低含量(平均值<10×10^(-6))的有Ag、Cu、In和Sb。相比于各类型铅锌矿床,半边街闪锌矿Ge超常富集(274×10^(-6)~1938×10^(-6),平均为1055×10^(-6),达到1000倍富集)。该矿床中Ge以类质同象或纳米颗粒形式赋存于闪锌矿中。微量元素摩尔量相关性图揭示Ge替代Zn的方式以Ge^(4+)+Pb^(2+)3Zn^(2+)为主,其次为nGe^(4+)+Mn 2+(2n+1)Zn^(2+)和nGe^(4+)+2Tl^(3+)(2n+3)Zn^(2+)。综合分析认为,半边街矿床Ge可能来源于相对富Ge的前寒纪基底;富有机质的盆地流体在Ge的搬运中发挥重要作用;Ge、Cd等稀散元素的共生分异制约了Ge的最终超常富集。因此,半边街矿床中Ge的超常富集是“源、运、聚”复杂过程多要素耦合作用的结果。 展开更多
关键词 微量元素 闪锌矿 锗(ge) 替代机制 半边街锗锌矿床
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