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Crystal and electronic structure of a quasi-two-dimensional semiconductor Mg_(3)Si_(2)Te_(6)
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作者 黄潮欣 程本源 +9 位作者 张云蔚 姜隆 李历斯 霍梦五 刘晖 黄星 梁飞翔 陈岚 孙华蕾 王猛 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2023年第3期549-553,共5页
We report the synthesis and characterization of a Si-based ternary semiconductor Mg_(3)Si_(2)Te_(6),which exhibits a quasitwo-dimensional structure,where the trigonal Mg_(3)Si_(2)Te_(6)layers are separated by Mg ions.... We report the synthesis and characterization of a Si-based ternary semiconductor Mg_(3)Si_(2)Te_(6),which exhibits a quasitwo-dimensional structure,where the trigonal Mg_(3)Si_(2)Te_(6)layers are separated by Mg ions.Ultraviolet-visible absorption spectroscopy and density functional theory calculations were performed to investigate the electronic structure.The experimentally determined direct band gap is 1.39 eV,consistent with the value of the density function theory calculations.Our results reveal that Mg_(3)Si_(2)Te_(6)is a direct gap semiconductor,which is a potential candidate for near-infrared optoelectronic devices. 展开更多
关键词 semiconductorS semiconductor compounds narrow-band systems methods of crystal growth
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Advances of the Vertical Directional Solidification Technique for the Growth of High Quality InSb Bulk Crystals
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《Journal of Chemistry and Chemical Engineering》 2012年第3期250-258,共9页
Since 1994, the vertical directional solidification (VDS) technique is employed for the growths of bulk crystals-without the seed, without contact to the ampoule wall, without coating and without external pressure, ... Since 1994, the vertical directional solidification (VDS) technique is employed for the growths of bulk crystals-without the seed, without contact to the ampoule wall, without coating and without external pressure, which leads to the detached growth. Growth velocities ranged from 3 mm/h to 10 mm/h, and rotation rates 10-20 rpm have been used. Ingots, 10-20 mm diameter and 60-65 mm length, have been grown with the conical ampoule geometry and these ingots have shown symmetric detachment. Crystals grown under such conditions showed the relatively low dislocation density and the highest carrier mobility,/tn = 5.9 x 104 cm2"Vl-sl than the crystal grown ever. For the detached crystals, the dislocation density is 104 cm"2 in conical region, and reached less than 103 cm-2 in the direction of the growth, when the ingots are not in contact with the ampoule wall. Experiments for indium-antimonide (InSb) growth have shown that the 80% growth environments have detachment, 15% entrapped in conical region and 5% attached. 展开更多
关键词 ANTIMONIDES growth from melt SOLIDIFICATION DETACHMENT crystal structure semiconductor indium compound.
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Detached Phenomenon and Its Effect on the Thallium Composition into InSb Bulk Crystal Grown by VDS Technique 被引量:1
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作者 Dattatray Gadkari 《材料科学与工程(中英文A版)》 2012年第9期593-601,共9页
关键词 定向凝固技术 晶体生长 锑化铟 VDS 分离 块状 组成 最佳工艺条件
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Hydrothermal Synthesis and Properties of Diluted Magnetic Semiconductor Zn<sub>1-x</sub>Mn<sub>x</sub>O Nanowires
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作者 X. Y. Zhang J. Y. Dai H. C. Ong 《Open Journal of Physical Chemistry》 2011年第1期6-10,共5页
We report the synthesis of oriented single crystalline Mn doped ZnO nanowires through a hydrothermal method. Structural characterizations using X-ray diffraction and transmission electron microscopy revealed that the ... We report the synthesis of oriented single crystalline Mn doped ZnO nanowires through a hydrothermal method. Structural characterizations using X-ray diffraction and transmission electron microscopy revealed that the Mn was doped into the lattice structure, forming solid solution. The Mn doped ZnO nanowires possess wurtzite structure with a c-axis growth orientation. The physical properties of the nanowires were investigated. Mn doped ZnO nanowires were found to be ferromagnetic with Curie temperature of about 30 K. A deep level emission band at about 566 nm was observed at room temperature. 展开更多
关键词 semiconductors NANOWIRE crystal growth Electron Microscopy CURIE Temperature photoluminescence
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Ⅱ-Ⅵ族多元化合物半导体晶体生长及器件研究进展
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作者 杨桂芝 俞鹏飞 +1 位作者 张嘉伟 介万奇 《铸造技术》 CAS 2023年第12期1075-1093,共19页
Ⅱ-Ⅵ族多元(三元及三元以上)化合物半导体晶体是一类非常重要的光电子材料,多为闪锌矿结构,具有直接跃迁型能带结构。可以通过掺入不同的杂质获得n型或者p型半导体晶体材料。这些晶体具有原子序数大、电阻率高、载流子迁移率寿命积大... Ⅱ-Ⅵ族多元(三元及三元以上)化合物半导体晶体是一类非常重要的光电子材料,多为闪锌矿结构,具有直接跃迁型能带结构。可以通过掺入不同的杂质获得n型或者p型半导体晶体材料。这些晶体具有原子序数大、电阻率高、载流子迁移率寿命积大、光吸收系数好等特点,可用于室温辐射探测器、太阳能电池、法拉第磁性器件等领域。本文介绍了Ⅱ-Ⅵ族多元化合物半导体晶体的结构和物理性质,结合生长方法综述了晶体生长的研究进展,分析讨论了器件的主要应用,并展望了该类晶体材料未来的发展方向。 展开更多
关键词 Ⅱ-Ⅵ族多元化合物 半导体 晶体生长 室温辐射探测器 太阳能电池
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水热法ZnO晶体特征研究 被引量:16
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作者 宋词 杭寅 +5 位作者 张昌龙 徐军 顾书林 夏长泰 周卫宁 仲维卓 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第6期1083-1087,共5页
ZnO具有优良的综合性能使其成为极有前途的下一代光电材料,水热法是一种重要的生长ZnO晶体的方法。本文对水热法生长的面积约150mm2的ZnO晶体进行了报道,研究了晶体不同方向的生长速度、形貌特征和光学性能。X射线摇摆曲线表明晶体的质... ZnO具有优良的综合性能使其成为极有前途的下一代光电材料,水热法是一种重要的生长ZnO晶体的方法。本文对水热法生长的面积约150mm2的ZnO晶体进行了报道,研究了晶体不同方向的生长速度、形貌特征和光学性能。X射线摇摆曲线表明晶体的质量较好。对于光学性质的分析表明晶体生长时加入H2O2能显著提高晶体的质量。494nm附近的发光带可能与氧空位有关。520nm的发光可能与Na或者S i所形成的杂质能级跃迁有关。 展开更多
关键词 ZNO晶体 光致发光 晶体生长 半导体
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Yb_(14)MnSb_(11)单晶团簇的制备及其热电性能(英文) 被引量:1
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作者 汪慧峰 蔡克峰 +2 位作者 AVDEEV M 李晖 YU De-hong 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2010年第2期291-295,278,共6页
本文采用Sn助熔剂法制备了近似于Yb14MnSb11单晶的单晶团簇,并用X射线衍射、扫描电镜及能谱对其物相和结构进行表征,同时还讨论了单晶团簇的生长机理。从室温到773K,单晶团簇的电阻率在室温下约为2~3mohm.cm,且随着温度的增加而逐渐变... 本文采用Sn助熔剂法制备了近似于Yb14MnSb11单晶的单晶团簇,并用X射线衍射、扫描电镜及能谱对其物相和结构进行表征,同时还讨论了单晶团簇的生长机理。从室温到773K,单晶团簇的电阻率在室温下约为2~3mohm.cm,且随着温度的增加而逐渐变大;在700K以上,各试样间电阻率的偏差明显增大。另外,室温时Seebeck系数为45μV/K,并随着温度升高而增大,但温度高于~730K后Seebeck系数迅速降低。这种Yb14MnSb11单晶团簇的电传输性能在高温时的突变认为是由于其内部夹杂的Sn引起的。 展开更多
关键词 津特尔相化合物 半导体 晶体生长 电传输 热电
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液封坩埚下降法生长非掺杂InP单晶的特性研究
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作者 康俊勇 黄启圣 +1 位作者 松本文夫 福田承生 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第3期205-211,共7页
用液封坩埚下降(LE-VB)法沿〈100〉晶向成功地生长了非掺杂InP单晶.LE-VB晶体的4.2K光致发光谱包含束缚于中性浅受主上的激子发光、与Zn受主相关的施主-受主(DA)对发光及其声子伴线、以及与本征缺陷等有... 用液封坩埚下降(LE-VB)法沿〈100〉晶向成功地生长了非掺杂InP单晶.LE-VB晶体的4.2K光致发光谱包含束缚于中性浅受主上的激子发光、与Zn受主相关的施主-受主(DA)对发光及其声子伴线、以及与本征缺陷等有关的深能级发光三部分.通过与液封直拉(LEC)生长的籽晶的光致发光谱比较表明,在LE-VB晶体中,束缚于中性浅受主上的激子发光与籽晶中的相差不大;DA对发光的晶格弛豫比籽晶中的小;与本征缺陷等有关的深能级发光强度比籽晶中的弱.晶体的室温光致发光谱仅包含带—带发光,其发光强度形貌测试结果表明,LE-VB晶体的带—带发光强度比LEC籽晶的强.用Huber法对晶片腐蚀的结果表明,在LE-BV晶体中,位错密度仅为LEC籽晶中的三分之一.分析认为,在LE-VB晶体中,本征缺陷和位错等浓度较低,可能是其带—带发光强度比在LEC籽晶中强的物理起因. 展开更多
关键词 化合物半导体 光致发光 晶体生长 LE-VB法
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以Zn(NH_4)_3Cl_5为输运剂气相生长ZnSe单晶
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作者 李焕勇 介万奇 《材料研究学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第4期353-358,共6页
以化合物Zn(NH_4)_3Cl_5为气相输运剂,ZnSe多晶为原料,用化学气相输运技术(CVT)在封闭石英管中生长出直径9mm、长度25mm的Zn_(1+o.031)Se单晶。晶体生长区的温度为898~915℃,温度梯度为1.5℃·cm^(-1),生长周期为21d。晶体生长端由... 以化合物Zn(NH_4)_3Cl_5为气相输运剂,ZnSe多晶为原料,用化学气相输运技术(CVT)在封闭石英管中生长出直径9mm、长度25mm的Zn_(1+o.031)Se单晶。晶体生长区的温度为898~915℃,温度梯度为1.5℃·cm^(-1),生长周期为21d。晶体生长端由{111}和{100}单形包围。用RO-XRD技术研究了晶体的结晶质量,Znse(111)的RO-XRD谱的FWHM为24s。光致发光特性研究表明,Zn_(1+0.031)Se单晶体的PL谱由F_x(439nm)和BBT(418nm)等发光峰组成,晶体的短波吸收限位于465nm处,腐蚀点密度为(5~7)×10~4cm^(-2)。化合物Zn(NH_4)_3Cl_5具有较高的热稳定性,是一种适合气相生长ZnSe单晶的新型输运剂。 展开更多
关键词 无机非金属材料 ZnSe体单晶 化学气相输运技术 Zn(NH4)3C15 输运剂
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BAs晶体生长研究进展
10
作者 刘京明 赵有文 《人工晶体学报》 CAS 北大核心 2021年第2期391-396,共6页
立方砷化硼(BAs)为间接带隙、闪锌矿结构的Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体材料。理论分析预测BAs具有仅次于金刚石的超高热导率,在电子器件散热领域表现出广阔应用前景,成为当前的研究热点。近年来立方BAs单晶材料的制备取得突破性进展,采用化学... 立方砷化硼(BAs)为间接带隙、闪锌矿结构的Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体材料。理论分析预测BAs具有仅次于金刚石的超高热导率,在电子器件散热领域表现出广阔应用前景,成为当前的研究热点。近年来立方BAs单晶材料的制备取得突破性进展,采用化学气相传输法(CVT)合成了毫米尺寸的高质量单晶,室温下热导率高达1300 W·m^(-1)·K^(-1)。本文介绍了BAs单晶的性质和生长方法,综述了材料研究进展,阐述了晶体生长面临的技术挑战,并对发展前景进行了展望。 展开更多
关键词 砷化硼 热导率 化合物半导体 晶体生长 化学气相传输
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Ⅱ-Ⅵ族半导体薄膜的特性
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作者 张佐兰 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1993年第4期305-310,336,共7页
(东南大学,南京 210008) 重点介绍Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体薄膜的特性,特别是CdS和CdSe。利用密封空间汽化传输技术制作的CdS薄膜具有低的电阻(300K时,σ为0.88~1.34Ω^(-1)·cm^(-1))、高的载流子迁移率。X射线衍射仪分析表明:在(002... (东南大学,南京 210008) 重点介绍Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体薄膜的特性,特别是CdS和CdSe。利用密封空间汽化传输技术制作的CdS薄膜具有低的电阻(300K时,σ为0.88~1.34Ω^(-1)·cm^(-1))、高的载流子迁移率。X射线衍射仪分析表明:在(002)面择优生长,薄膜特性与制膜工艺有明显的关系,淀积后的退火和就地腐蚀能增大晶粒尺寸,减少晶粒边界。同时介绍了CdSe太阳电池的特性。 展开更多
关键词 太阳电池 化合物半导体 薄膜 晶体
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富铟磷化铟晶体中铟夹杂物基体特征分析 被引量:1
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作者 王昊宇 杨瑞霞 +4 位作者 孙聂枫 王书杰 田树盛 陈春梅 刘惠生 《半导体技术》 CAS 北大核心 2019年第5期386-389,共4页
对富铟磷化铟(InP)晶体中铟夹杂物的基体特征进行了分析和表征。在富铟熔体中制备了InP单晶,利用金相显微镜及红外透射显微镜研究InP晶体中的铟夹杂物形态及其基体周围的影响区的形成。研究发现在铟夹杂物周围的InP基体上存在一些轮廓... 对富铟磷化铟(InP)晶体中铟夹杂物的基体特征进行了分析和表征。在富铟熔体中制备了InP单晶,利用金相显微镜及红外透射显微镜研究InP晶体中的铟夹杂物形态及其基体周围的影响区的形成。研究发现在铟夹杂物周围的InP基体上存在一些轮廓线。基于铟夹杂物的形成过程和其对周围InP基体的影响,分析了铟夹杂物及其周围轮廓线的形成机理。通过位错腐蚀发现,铟夹杂物周围的InP基体上存在高的位错区,沿着晶体生长方向的位错密度偏高。通过力学分析发现,这种位错分布不均匀主要是由于富铟熔体结晶过程中沿着温度梯度方向的体积膨胀较大所致。 展开更多
关键词 INP 晶体生长 化合物半导体 非配比熔体 铟夹杂物
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液封直拉富铟InP中铟夹杂的纵向和横向分布
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作者 王昊宇 杨瑞霞 +6 位作者 孙聂枫 王书杰 田树盛 陈春梅 孙士文 刘惠生 孙同年 《微纳电子技术》 北大核心 2019年第5期358-363,共6页
采用光学显微镜与红外透射显微镜相结合的方法,研究了磷化铟(InP)晶片中铟夹杂的形貌,通过比较含有铟夹杂的晶体与晶片,总结了铟夹杂在富铟磷化铟中的纵向与横向分布行为,并分析了熔体组分配比度、固液界面形貌以及温度梯度对铟夹杂分... 采用光学显微镜与红外透射显微镜相结合的方法,研究了磷化铟(InP)晶片中铟夹杂的形貌,通过比较含有铟夹杂的晶体与晶片,总结了铟夹杂在富铟磷化铟中的纵向与横向分布行为,并分析了熔体组分配比度、固液界面形貌以及温度梯度对铟夹杂分布行为的影响。在含有铟夹杂的单晶片中发现铟夹杂的一种特殊环形分布行为,对比和它相邻的晶片,发现这种环形分布呈现出沿生长方向直径逐渐变小的趋势,初步分析与固液界面呈微凸的形貌有关。在这种特殊分布中,发现部分铟夹杂呈四方对称分布。结合磷化铟的晶体结构,分析这种对称分布与固液界面处的{111}晶面有关。 展开更多
关键词 磷化铟(InP) 晶体生长 化合物半导体 非配比熔体 铟夹杂
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