一种简便的μ子寿命测量实验设计

设计和研制了一种简便的宇宙线μ子寿命测量的实验装置.该装置采用大面积闪烁体探测器,利用可编程逻辑阵列(field program mable gatearray,FPGA),并通过电子学脉冲计数法,实现对宇宙线μ子的衰变寿命测量.测量结果与文献中给出μ子寿命精确值比较,误差小于3.5%.该实验原理及测量方法简单,测量条件要求不高,可用于大学物理实验教学.相关实验方法也可应用到其他一些粒子寿命及时间测量的实验中.

μ子寿命测量实验

根据粒子的平均寿命测量原理,采用大面积塑料闪烁探测器和可编程逻辑器件设计了宇宙线μ子寿命测量的实验教学装置,使用该装置可实现对宇宙μ子寿命的直接测量.通过该实验,可使学生对高能物理理论、高能粒子探测器、高能粒子探测技术和数据获取、处理有整体的理解和认识.本文从实验教学内容和教学方法上对μ子寿命测量实验进行了探讨.