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一种提高固态盘可靠性的设计方法
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作者 蒋泽军 秦楠 李艳艳 《西北工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第4期660-663,共4页
提出了一种LS-RAID(Logic-level Striping Redundant Array of Independent Disks)固态盘(Solid State Disk,SSD)设计模型。在单个闪存芯片内,该模型在逻辑层实现了条带化,并将校验信息按照RAID5机制分配到逻辑闪存芯片中,从而提高了固... 提出了一种LS-RAID(Logic-level Striping Redundant Array of Independent Disks)固态盘(Solid State Disk,SSD)设计模型。在单个闪存芯片内,该模型在逻辑层实现了条带化,并将校验信息按照RAID5机制分配到逻辑闪存芯片中,从而提高了固态盘可靠性。使用DiskSim进行仿真测试,表明该模型在提高可靠性的同时,对固态盘平均寿命和损耗均衡影响不大,具有实用价值。 展开更多
关键词 校验信息 固态盘 条带化 可靠性
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SRAM冗余存储阵列分析与控制电路设计
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作者 陈泽翔 张立军 张强 《电视技术》 2019年第6期80-83,90,共5页
SRAM存储阵列设计制造时常使用工艺允许的最小晶体管以提高面积效率,因此极易因工艺参数变化从而导致器件失配。而为提高存储阵列良率,本文提出一种在存储阵列中加入冗余行和冗余列存储单元的方式,并设计相应的冗余存储阵列控制电路。... SRAM存储阵列设计制造时常使用工艺允许的最小晶体管以提高面积效率,因此极易因工艺参数变化从而导致器件失配。而为提高存储阵列良率,本文提出一种在存储阵列中加入冗余行和冗余列存储单元的方式,并设计相应的冗余存储阵列控制电路。该方式可以通过冗余控制电路控制冗余存储阵列替代有缺陷存储阵列从而完成存储阵列纠错。该电路结构已成功应用于一款双端口异步SRAM存储器中。 展开更多
关键词 存储阵列纠错 SRAM 冗余控制
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