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一氧化碳在钯薄膜修饰的金电极上的电氧化-厚度的影响(英文)
1
作者
Yuqing Yang
Shouzhong Zou
《电化学》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第3期279-284,共6页
采用扫描循环伏安法及表面增强拉曼散射光谱研究了一氧化碳(CO)在钯修饰金电极上的吸附与氧化.结果表明CO氧化电位随钯膜厚度增加而正移,同时C—O伸缩振动频率红移.本文利用d能带理论解释观察现象.应力效应使CO吸附变强,难以氧化;但配...
采用扫描循环伏安法及表面增强拉曼散射光谱研究了一氧化碳(CO)在钯修饰金电极上的吸附与氧化.结果表明CO氧化电位随钯膜厚度增加而正移,同时C—O伸缩振动频率红移.本文利用d能带理论解释观察现象.应力效应使CO吸附变强,难以氧化;但配体效应使CO吸附变弱,易于氧化.在薄膜中配体效应强于应力效应.
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关键词
CO电氧化
P
d
薄膜
d能带理论
表面增强拉曼散射
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职称材料
题名
一氧化碳在钯薄膜修饰的金电极上的电氧化-厚度的影响(英文)
1
作者
Yuqing Yang
Shouzhong Zou
机构
Department of Chemistry and Biochemistry
出处
《电化学》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第3期279-284,共6页
基金
supported by NSF (CHM-0616436)
文摘
采用扫描循环伏安法及表面增强拉曼散射光谱研究了一氧化碳(CO)在钯修饰金电极上的吸附与氧化.结果表明CO氧化电位随钯膜厚度增加而正移,同时C—O伸缩振动频率红移.本文利用d能带理论解释观察现象.应力效应使CO吸附变强,难以氧化;但配体效应使CO吸附变弱,易于氧化.在薄膜中配体效应强于应力效应.
关键词
CO电氧化
P
d
薄膜
d能带理论
表面增强拉曼散射
Keywords
CO oxi
d
ation
P
d
thin film
d
-ban
d
theory
SERS
分类号
O646.54 [理学—物理化学]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
一氧化碳在钯薄膜修饰的金电极上的电氧化-厚度的影响(英文)
Yuqing Yang
Shouzhong Zou
《电化学》
CAS
CSCD
北大核心
2010
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