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掺钽的二氧化钛电容-压敏陶瓷电学性能研究 被引量:13
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作者 李长鹏 王矜奉 +3 位作者 陈洪存 苏文斌 钟维烈 张沛霖 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2001年第2期113-115,123,共4页
通过对样品 I- V特性和势垒高度等参数的测定 ,研究了钽对二氧化钛压敏电阻电学性能的影响。研究中发现掺入的 x(Ta2 O5 ) 0 .2 5 %为的样品显示出最低的反转电压 (Eb=6 V/m m)、最高的非线性常数 (α=8.8)以及最高的相对介电常数 (εr=... 通过对样品 I- V特性和势垒高度等参数的测定 ,研究了钽对二氧化钛压敏电阻电学性能的影响。研究中发现掺入的 x(Ta2 O5 ) 0 .2 5 %为的样品显示出最低的反转电压 (Eb=6 V/m m)、最高的非线性常数 (α=8.8)以及最高的相对介电常数 (εr=6 .2× 10 4)这与该样品最高且最窄的晶界缺陷势垒相一致。样品的电学性能变化可用Ta5 +对 Ti4+的掺杂取代和该取代存在的饱和值来解释。相应的缺陷势垒模型用来解释势垒的形成。 展开更多
关键词 压敏材料 二氧化钛 电学性能 掺钽
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SnO_2压敏材料势垒电压的测量 被引量:17
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作者 王勇军 王矜奉 +4 位作者 陈洪存 董火民 张沛霖 钟维烈 赵连义 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2000年第3期197-199,共3页
依照缺陷势垒模型 ,将压敏电阻器视为双向导通的二极管 ,应用半导体理论对低电压情况下的电流 -电压关系数据进行了处理 ,得到了 Sn O2 - Zn O- Nb2 O5压敏材料的势垒电压。选取的 4个测量温度得到的结果是相同的 ,保证了实验结果的正... 依照缺陷势垒模型 ,将压敏电阻器视为双向导通的二极管 ,应用半导体理论对低电压情况下的电流 -电压关系数据进行了处理 ,得到了 Sn O2 - Zn O- Nb2 O5压敏材料的势垒电压。选取的 4个测量温度得到的结果是相同的 ,保证了实验结果的正确性。 展开更多
关键词 压敏电阻 势垒电压 氧化锡
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掺锑对二氧化锡压敏电阻性能的影响 被引量:7
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作者 李长鹏 王矜奉 +4 位作者 陈洪存 苏文斌 刘华 钟维烈 张沛霖 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2001年第4期309-312,共4页
通过对样品 V- I特性和势垒特性的测试和分析 ,研究了掺锑对二氧化锡压敏电阻性能的影响。Sn O2 ·Co2 O3基本上不具有电学非线性 ,掺杂很少量的 Sb2 O3可明显改善材料的非线性。研究中发现掺杂 x ( Sb2 O3)为0 .0 1%的样品具有最... 通过对样品 V- I特性和势垒特性的测试和分析 ,研究了掺锑对二氧化锡压敏电阻性能的影响。Sn O2 ·Co2 O3基本上不具有电学非线性 ,掺杂很少量的 Sb2 O3可明显改善材料的非线性。研究中发现掺杂 x ( Sb2 O3)为0 .0 1%的样品具有最高的质量密度 (ρ=6.90 g/ cm3)、最高的视在势垒电场 ( EB=2 76V / cm)和最好的电学非线性( α=12 .89)。提出了 Sn O2 · Co2 O3· Sb2 O3的晶界缺陷势垒模型。 展开更多
关键词 氧化锑 电学性能 压敏电阻性能 二氧化锡
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掺Y对二氧化钛低压压敏陶瓷性能的影响 被引量:5
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作者 苏文斌 王矜奉 +2 位作者 李长鹏 陈洪存 李明明 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2001年第5期402-404,408,共4页
通过对样品密度、介电常数、I- V特性及晶界势垒特性的测定和分析 ,研究掺 Y对 (Y ,Nb)掺杂的二氧化钛低压压敏 -电容性能的影响。掺入 x(Y2 O3) 0 .6 0 %的样品显示出最高的非线性常数 (α=7.86 )以及最高的相对介电常数 (εr=8.5 4... 通过对样品密度、介电常数、I- V特性及晶界势垒特性的测定和分析 ,研究掺 Y对 (Y ,Nb)掺杂的二氧化钛低压压敏 -电容性能的影响。掺入 x(Y2 O3) 0 .6 0 %的样品显示出最高的非线性常数 (α=7.86 )以及最高的相对介电常数 (εr=8.5 4× 10 4)和样品密度 (可达理论密度的 98.8% ) ,与该样品最高且窄的晶界缺陷势垒相一致 ,是一种较为理想的压敏 -电容陶瓷。提出了 Ti O2 · Y2 O3· Nb2 展开更多
关键词 二氧化钛 电学性能 频谱 掺杂 低压压敏陶瓷
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(Zn,Nb)掺杂SnO_2压敏材料的电子特性 被引量:4
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作者 王勇军 陈洪存 +3 位作者 王矜奉 董火民 张沛霖 钟维烈 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2000年第4期259-261,共3页
依据缺陷势垒模型选取Zn2+和Nb5+复合掺杂的SnO2陶瓷进行研究,测量了材料的密度、失重率等物理性质和非线性系数、电流-电压(I-V)关系曲线等电子性质。利用低电流区电流密度与电场(logJ-E)的线性关系定性地... 依据缺陷势垒模型选取Zn2+和Nb5+复合掺杂的SnO2陶瓷进行研究,测量了材料的密度、失重率等物理性质和非线性系数、电流-电压(I-V)关系曲线等电子性质。利用低电流区电流密度与电场(logJ-E)的线性关系定性地讨论了势垒高度与非线性之间的关系。 展开更多
关键词 压敏材料 缺陷势垒模型 二氧化锡 掺杂
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TiO_2掺杂导致的SnO_2压敏陶瓷晶粒尺寸效应 被引量:3
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作者 明保全 王矜奉 +3 位作者 陈洪存 苏文斌 臧国忠 高建鲁 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2004年第6期20-22,27,共4页
研究了TiO2掺杂对SnO2-Co2O3-Nb2O5系压敏陶瓷材料电学性能的影响。掺入x(TiO2)为1.00%的陶瓷样品具有最高的密度(r = 6.82 g/cm3),最高的视在势垒电场(EB= 476 V/mm),最高的非线性系数(a = 11.0),最小的相对介电常数。未掺杂的样品阻... 研究了TiO2掺杂对SnO2-Co2O3-Nb2O5系压敏陶瓷材料电学性能的影响。掺入x(TiO2)为1.00%的陶瓷样品具有最高的密度(r = 6.82 g/cm3),最高的视在势垒电场(EB= 476 V/mm),最高的非线性系数(a = 11.0),最小的相对介电常数。未掺杂的样品阻抗最大。随TiO2掺杂量的增加晶粒逐渐变小,晶粒尺寸的减小归因于未固溶于SnO2晶格而偏析在晶界上的TiO2阻碍相邻SnO2晶粒融合。为了解释SnO2-Co2O3-Nb2O5-TiO2系电学非线性性质的根源,对前人的晶界缺陷势垒模型进行了修正。 展开更多
关键词 压敏材料 二氧化锡 电学性能 晶粒尺寸 缺陷势垒模型 TiO2掺杂 SNO2
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金属│固体电解质│含水凝胶│石墨体系的研究 被引量:1
7
作者 刘景东 《电化学》 CAS CSCD 北大核心 2007年第4期420-424,共5页
应用点缺陷模型和双层模型分析了金属│固体电解质│含水凝胶│石墨体系贮藏和放电时金属表面氧化膜的变化.在固体电解质含有微量水分的情况下,微量水分有助于金属表面形成松层,但由于水分子与紧密钝化膜的持续作用,金属表面松层厚度会... 应用点缺陷模型和双层模型分析了金属│固体电解质│含水凝胶│石墨体系贮藏和放电时金属表面氧化膜的变化.在固体电解质含有微量水分的情况下,微量水分有助于金属表面形成松层,但由于水分子与紧密钝化膜的持续作用,金属表面松层厚度会不断增长,孔率降低,使得电池的电压和放电电流下降.松层的孔率强烈影响膜溶解行为,与紧密钝化膜的电学特性一样,松层也是一种半导体. 展开更多
关键词 点缺陷模型 双层模型 钝化膜 镁电极 锂水电池
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Effect of CeO_2 on Electrical Properties of (Nb,Mn)-Doped TiO_2 Varistor Ceramics
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作者 王茂华 胡克鳌 +1 位作者 赵斌元 张南法 《Journal of Rare Earths》 SCIE EI CAS CSCD 2005年第6期706-709,共4页
The electrical properties of TiO2-based varistor ceramics with different amount of CeO2 were investigated by measuring the properties of V-I, permittivity, density and boundary defect barriers. It is found that an opt... The electrical properties of TiO2-based varistor ceramics with different amount of CeO2 were investigated by measuring the properties of V-I, permittivity, density and boundary defect barriers. It is found that an optimal composition doped with 0.7% CeO2 exhibits the highest nonlinear coefficient of 10.5, the highest breakdown voltage of 12.77 V·mm^-1, the ultrahigh permittivity of 82900(measured at 1 kHz), and the highest density of 4.15 g·cm^-3, which is consistent with the highest and narrowest grain-boundary defect barriers. In order to illustrate the grain boundary barriers formation in TiO2-Nb2O5-MnCO3-CeO2 varistor, an grain-boundary defect barrier model was also introduced. 展开更多
关键词 VARISTOR defect barrier model TIO2 CEO2 electrical properties rare earths
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CuO掺杂对SnO_2压敏材料性能的影响 被引量:3
9
作者 明保全 王矜奉 +3 位作者 陈洪存 苏文斌 臧国忠 高建鲁 《功能材料与器件学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第1期33-37,共5页
研究了掺杂CuO对SnO2·Ni2O3·Ta2O5压敏材料电学性能的影响。实验发现,随着CuO的掺杂量从0.50mol%增加到1.50mol%,材料的压敏电场强度从132V/mm升高到234V/mm,相对介电常数从4663减小到2701。电场强度变化的原因是CuO掺杂引起... 研究了掺杂CuO对SnO2·Ni2O3·Ta2O5压敏材料电学性能的影响。实验发现,随着CuO的掺杂量从0.50mol%增加到1.50mol%,材料的压敏电场强度从132V/mm升高到234V/mm,相对介电常数从4663减小到2701。电场强度变化的原因是CuO掺杂引起的晶粒尺寸变化,随掺杂量增加晶粒尺寸从18.8μm减小到13.3μm。未固溶于SnO2晶格而偏析在晶界上的CuO阻碍了相邻SnO2晶粒的融合,这导致了晶粒尺寸的减小。为了解释SnO2·Ni2O3·Ta2O5·CuO电学非线性性质的起源,本研究对前人的晶界缺陷势垒模型进行了修正。对该压敏材料进行了等效电路分析,实验测量与等效电路分析结果相符。 展开更多
关键词 压敏材料 SNO2 电学性能 晶粒尺寸 缺陷势垒模型
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