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高速高性能单片机C8051F020及其在露点测试系统中的应用 被引量:1
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作者 余丽霞 周文超 +1 位作者 虞鹤松 刘昱欣 《现代电子技术》 2003年第12期65-67,共3页
通过单片机应用于露点测试系统中存在的缺陷 ,引入了美国 Cygnal公司新近在国内推出的 C80 51 F0 2 0单片机 ,并对该单片机的功能和特点进行了应用性探讨 ,提出了在露点测试系统中采用 C80 51 F0 2 0单片机的可行性方案 ,通过比较显示
关键词 单片机 C8051F020 露点测试系统 SOC 应用
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测试系统压力对露点检测值的影响 被引量:3
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作者 郑亚君 《西北电力技术》 2001年第3期21-22,共2页
结合DP 9露点分析仪的使用实践 ,分析测试系统压力对露点检测值的影响 ,介绍了不同测试压力下SF6气体中水分含量的测定及测试方法。
关键词 六氟化硫断路器 露点检测质 测试系统压力 灭弧
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主控室应急可居留系统露点逐渐上升原因分析及解决措施
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作者 范赏 姜磊 雷薇 《电力与能源》 2021年第3期347-351,共5页
主控室应急可居留系统(VES)在核电站设计基准事故下具有为主控室人员提供可呼吸的清洁空气并阻止气载放射性物质进入主控室的功能,其中主要控制的化学指标有露点、CO、CO_(2)、NO_(2)、O_(2)等。在实际运行过程中,出现VES系统露点随时... 主控室应急可居留系统(VES)在核电站设计基准事故下具有为主控室人员提供可呼吸的清洁空气并阻止气载放射性物质进入主控室的功能,其中主要控制的化学指标有露点、CO、CO_(2)、NO_(2)、O_(2)等。在实际运行过程中,出现VES系统露点随时间逐渐上升的趋势,并且经常接近监督试验要求的限值。通过对其进行原因分析排查并提出相应的解决措施,保证空气质量的合格,减少监督试验不合格隐患,提高机组的安全可靠运行。 展开更多
关键词 主控室应急可居留系统 露点 监督试验
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