多层膜镜用于激光等离子体发射软X光谱测量

本文研究软Ｘ光Ｗ／Ｓｉ多层镜色散特性，多层镜与Ｘ射线二极管（ＸＲＤ）配合，用于激光等离子体发射软Ｘ射线诊断，通过与滤片－ＸＲＤ探测结果比较，估计给出ｗ／Ｓｉ（ｄ＝２．４７ｎｍ）在光子彼长λ＝１．８９ｎｍ处的能量分辨及反射率。

有限金属厚度微带的近似分析

用两个平行无厚度导体带条逼近有限导体厚度的微带线，通过算术平均法，得到其近似解。近似解与全波分析法得到的结果吻合很好。