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基于NASPIC平台输出至外部系统试验的设计与研究 被引量:1
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作者 周岱 许金涛 +2 位作者 黄鹏 胡清仁 彭浩 《仪器仪表用户》 2023年第3期30-34,共5页
为确保安全级DCS系统的可靠性,需在固定周期对安全级DCS设备进行定期试验,降低因为任何原因导致的系统误动、拒动的可能性。本文针对核安全级DCS平台“龙鳞平台(NASPIC)”的输出至外部系统试验的逻辑关系冗杂、时序关系复杂,占用大量CP... 为确保安全级DCS系统的可靠性,需在固定周期对安全级DCS设备进行定期试验,降低因为任何原因导致的系统误动、拒动的可能性。本文针对核安全级DCS平台“龙鳞平台(NASPIC)”的输出至外部系统试验的逻辑关系冗杂、时序关系复杂,占用大量CPU资源的问题,提出了一种新的输出至外部系统试验解决方案,可使CPU中逻辑复杂度大大减少。此方案可大量精简CPU逻辑,又不降低定期试验功能的可靠性,可在多个核电仪控产品领域推广。 展开更多
关键词 定期试验 SVDU 安全级DCS 龙鳞平台
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