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用投影仪检控边厚差和中心偏差
1
作者
董凤云
《光学技术》
CAS
CSCD
1991年第3期24-29,共6页
用投影仪检控边厚差和中心偏差的方法,解决了特别小的不可见光透镜、可见光透镜在生产过程中控制边厚差及中心偏差的验收问题。本文还介绍了投影屏上的分划形式,以及调试放大投影像进行测量的方法。
关键词
投影仪
边厚差
中心偏差
检测
控制
下载PDF
职称材料
题名
用投影仪检控边厚差和中心偏差
1
作者
董凤云
机构
机电部二○五所
出处
《光学技术》
CAS
CSCD
1991年第3期24-29,共6页
文摘
用投影仪检控边厚差和中心偏差的方法,解决了特别小的不可见光透镜、可见光透镜在生产过程中控制边厚差及中心偏差的验收问题。本文还介绍了投影屏上的分划形式,以及调试放大投影像进行测量的方法。
关键词
投影仪
边厚差
中心偏差
检测
控制
Keywords
edge thickness difference
,
center aberration
分类号
TH741.5 [机械工程—光学工程]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
用投影仪检控边厚差和中心偏差
董凤云
《光学技术》
CAS
CSCD
1991
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