Preload relaxation analysis and reliable life prediction of space connection and separation device based on accelerated degradation tests

The safety and reliability of space connection and separation device has become a key issue due to the increasing service span of deep space exploration mission.The long-term preload relaxation(a key failure mode)of connection and separation devices is focused in this paper.A series of tests have been designed and implemented to investigate the preload relaxation regulation and a comprehensive method has been constructed to analyze and predict the reliable lifetime of the device.The two-stage preload relaxation law of the device is found and reasonably considered.Due to the different relaxation mechanism,the first-stage preload relaxation is assessed based on the working-condition test results,and the second-stage preload relaxation is characterized by accelerated test results.Finally,the service reliability and reliable life are evaluated.The experiment and assessment results demonstrate the reasonability and effectiveness of the proposed method which can achieve long-service reliability analysis for space connection and separation device within limited time.

基于加速退化试验的模拟IC寿命评估研究

为解决高可靠性、长寿命模拟集成电路的寿命评估问题,结合半导体器件退化失效的特点,提出了基于加速退化试验的模拟集成电路寿命评估方法。在此基础上,以某型电压基准模拟IC为研究对象,通过对退化数据的分析研究,获得了其在正常工作应力下的寿命数据。

基于加速寿命试验的SLD可靠性预计模型研究

超辐射发光二极管(SLD)已广泛应用于航空、航天等多个领域,但其预计模型的缺失使得SLD的可靠性分析工作缺乏有效指导。本文基于SLD主要失效模式、失效机理以及典型诱发应力,构建SLD可靠性预计模型,开展加速寿命试验,利用性能退化可靠性评估技术、图估计、最优线性无偏估计等方法对试验数据进行分析处理,确定管芯预计模型参数,应用国内外已有耦合、热阻及制冷器可靠性预计技术,确定管芯耦合及组件预计模型系数的表征,从而完成SLD可靠性预计模型的建立,为SLD工程应用过程中的可靠性分析工作提供技术参考。

基于性能退化数据的固态微波功率器件加速寿命试验

该文针对固态微波功率器件的实际工作条件,选择Ga N固态微波功率器件,开展直流稳态加速寿命试验和射频动态加速寿命试验,通过二者试验数据,分析器件的退化趋势,并得出器件的失效率,对固态微波功率器件的寿命可靠性研究提供参考。

低冲击分离装置的加速退化试验方案研究

本文主要设计了低冲击分离装置加速退化试验方案。首先,确定了加速退化试验的类型和性能退化参数。然后,通过分析影响低冲击分离装置性能退化的主要因素,选取了温度、湿度作为加速应力;选取Peck模型作为加速模型;通过计算加速因子,确定了应力水平组合;确定了试验样品数量及其分配比例和试验时间等试验参数。最后,给出了加速退化试验的试验步骤。

基于三参数威布尔函数法的光电器件寿命快速评估模型及其应用

针对光电器件实现产业化面临的可靠性问题,将亮度作为性能退化指标,开展了多组恒定应力下的加速退化试验。基于测试器件的亮度衰减数据,采用三参数威布尔函数和右逼近法并结合寿命与应力之间的内在联系构建了一种加速性能退化的寿命快速评估模型。以电子显示器件VFD为试验对象,计算了正常应力水平下的平均寿命,实现了模型的应用及精度评价。结果表明,设计的四组加速退化试验方案合理,寿命快速评估模型无需借助周期长的常规寿命试验便能快速地获得产品正常应力下的亮度变化轨迹及寿命信息,这对光电器件可靠性评估及产品质量管理有一定的指导意义。

光电产品的新型寿命预测模型及其应用

大多数现有的寿命预测模型在处理光电产品实验数据时存在耗时长、精度低等问题。为了短时间内准确地预测光电产品的寿命,利用两参数威布尔函数拟合多组应力下的亮度衰减数据获得加速寿命,通过拟合优度检验参数确定Power函数来外推常规寿命,从而构建了一种新型的光电产品寿命预测模型:加速寿命外推模型(ALEM)。将该模型应用于真空荧光显示屏(VFD)寿命的快速预测,开展了4组恒定应力加速退化实验,实现了模型精度的评价。结果表明,设计的VFD加速退化实验方案正确可行,采集的实验数据客观地反映了VFD亮度衰减特性;ALEM准确地描述了加速应力下亮度的变化轨迹,很好地揭示了应力随寿命变化的规律,无需开展常规寿命实验便可精确地外推出产品的寿命,为现代光电产品的寿命评估开辟了一种新的方法和途径。