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RESEARCH ON THE PACKING ALGORITHM FOR ANTI-SEU OF FPGA BASED ON TRIPLE MODULAR REDUNDANCY AND THE NUMBERS OF FAN-OUTS OF THE NET
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作者 Cui Xiuhai Yang Haigang +1 位作者 Peng Yu Peng Xiyuan 《Journal of Electronics(China)》 2014年第4期284-289,共6页
Static Random Access Memory(SRAM) based Field Programmable Gate Array(FPGA) is widely applied in the field of aerospace, whose anti-SEU(Single Event Upset) capability becomes more and more important. To improve anti-F... Static Random Access Memory(SRAM) based Field Programmable Gate Array(FPGA) is widely applied in the field of aerospace, whose anti-SEU(Single Event Upset) capability becomes more and more important. To improve anti-FPGA SEU capability, the registers of the circuit netlist are tripled and divided into three categories in this study. By the packing algorithm, the registers of triple modular redundancy are loaded into different configurable logic block. At the same time, the packing algorithm considers the effect of large fan-out nets. The experimental results show that the algorithm successfully realize the packing of the register of Triple Modular Redundancy(TMR). Comparing with Timing Versatile PACKing(TVPACK), the algorithm in this study is able to obtain a 11% reduction of the number of the nets in critical path, and a 12% reduction of the time delay in critical path on average when TMR is not considered. Especially, some critical path delay of circuit can be improved about 33%. 展开更多
关键词 Field Programmable Gate Array (FPGA) Triple Modular Redundancy (TMR) Packing algorithm fan-outs of the net Critical path delayCLC number:TN473
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基于Fan-out技术的三维堆叠封装
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作者 姚昕 王斌 张荣臻 《电子产品可靠性与环境试验》 2024年第6期100-103,共4页
基于扇出型晶圆级封装工艺(Fan-out工艺)技术的三维集成已成为实现电子系统元器件高集成度、小型化和低成本应用的有效途径。设计了一种基于Fan-out技术的三维堆叠封装DDR3存储模块,其相比于独立10片DDR3芯片在系统板上节省75%的空间。... 基于扇出型晶圆级封装工艺(Fan-out工艺)技术的三维集成已成为实现电子系统元器件高集成度、小型化和低成本应用的有效途径。设计了一种基于Fan-out技术的三维堆叠封装DDR3存储模块,其相比于独立10片DDR3芯片在系统板上节省75%的空间。通过对多层堆叠存储模块的系统需求与方案设计分析、电设计与仿真优化研究确定电路的结构与布线设计,最终研制生产的产品接触失效测试正常,功能码正确测试通过,电路各项指标均可满足系统的设计要求,验证了本设计的合理性。 展开更多
关键词 扇出型晶圆级封装工艺 三维堆叠封装 DDR3存储模块 高集成度
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A high-efficiency transformer-in-package isolated DC-DC converter using glass-based fan-out wafer-level packaging
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作者 Lin Cheng Zuohuan Chen +1 位作者 Daquan Yu Dongfang Pan 《Fundamental Research》 CSCD 2024年第6期1407-1414,共8页
A transformer-in-package(TiP)isolated direct current-direct current(DC-DC)converter using glass-based fan-out wafer-level packaging(FOWLP)is proposed.By using 3-layer redistribution layers(RDLs),both the transformer a... A transformer-in-package(TiP)isolated direct current-direct current(DC-DC)converter using glass-based fan-out wafer-level packaging(FOWLP)is proposed.By using 3-layer redistribution layers(RDLs),both the transformer and interconnections are built without an additional transformer chip,and the converter only has 2 dies:a transmitter(TX)chip and a receiver(RX)chip.The proposed solution results in a significant reduction in the cost and makes major improvements in the form factor and power density.Moreover,the transformer built by the RDLs achieves a high quality factor(Q)and high coupling factor(k),and the efficiency of the converter is thus improved.The TX and RX chips were implemented in a 0.18μm Biopolar CMOS DMOS(BCD)process and embedded in a compact package with a size of 5 mm×5 mm.With an output capacitance of 10μF,the converter achieves a peak efficiency of 46.5%at 0.3 W output power and a maximum delivery power of 1.25 W,achieving a maximum power density of 50 mW/mm2. 展开更多
关键词 Isolated DC-DC converter Transmitter(TX) Receiver(RX) TRANSFORMER fan-out wafer level packaging(FOWLP) Power density Efficiency
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带扇叶形锚固板钢筋机械锚固性能试验研究
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作者 吴琛 姚鹏飞 +1 位作者 陈真锋 邓芬 《工程力学》 北大核心 2025年第1期74-82,共9页
为避免型钢混凝土节点钢筋锚固时导致的大量型钢穿孔或钢筋焊接,设计一种新型扇叶形锚固板,并通过带扇叶形锚固板钢筋中心拔出试验,分析锚固板形式、钢筋直径、锚固长度对带锚固板钢筋机械锚固性能的影响。试验结果表明:带扇叶型锚固板... 为避免型钢混凝土节点钢筋锚固时导致的大量型钢穿孔或钢筋焊接,设计一种新型扇叶形锚固板,并通过带扇叶形锚固板钢筋中心拔出试验,分析锚固板形式、钢筋直径、锚固长度对带锚固板钢筋机械锚固性能的影响。试验结果表明:带扇叶型锚固板钢筋可避开抗剪栓钉,具有施工方便的优点,同时拥有良好的锚固性能;当钢筋锚固长度为5d~7d时,发生混凝土劈裂破坏,当锚固长度为8d~12d时,发生钢筋拉断破坏,且钢筋的锚固系数大于1.25,具有良好的锚固性能;带扇叶形锚固板钢筋极限粘结强度随钢筋直径、钢筋锚固长度增大而减小,建议钢筋的锚固长度取为8d;提出了适用于带扇叶形锚固板钢筋极限粘结强度的计算公式,能较准确地反映扇叶形锚固板对混凝土产生的挤压和劈裂作用。 展开更多
关键词 扇叶型锚固板 中心拔出试验 机械锚固性能 极限粘结强度 型钢混凝土节点
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集成DTC的埋入硅桥式扇出型封装的去耦设计
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作者 李雨兴 陈天放 +1 位作者 李君 戴风伟 《半导体技术》 CAS 北大核心 2024年第11期1016-1022,共7页
对于供电网络面临的电源完整性挑战,采用一种集成深槽电容(DTC)的埋入硅桥式扇出型封装结构,以改善其供电性能。介绍了硅桥芯片和DTC的制作工艺以及DTC与埋入硅桥芯片的连接方式,并对硅桥芯片、DTC分别进行仿真,以验证DTC的去耦效果。... 对于供电网络面临的电源完整性挑战,采用一种集成深槽电容(DTC)的埋入硅桥式扇出型封装结构,以改善其供电性能。介绍了硅桥芯片和DTC的制作工艺以及DTC与埋入硅桥芯片的连接方式,并对硅桥芯片、DTC分别进行仿真,以验证DTC的去耦效果。进一步研究了集成DTC的埋入硅桥式扇出型封装、在基板背贴硅电容的扇出型封装和无去耦电容的扇出型封装3种方案对电源分配网络(PDN)阻抗的去耦效果。通过对比3种方案的仿真结果,发现埋入硅桥式扇出型封装结构的自阻抗值和转移阻抗值较在基板背贴硅电容的扇出型封装结构分别低74%和95%,较无去耦电容的扇出型封装结构分别低91%和97%。 展开更多
关键词 硅桥芯片 深槽电容(DTC) 埋入硅桥式扇出型封装 电源分配网络(PDN) 去耦电容
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扇出型晶圆级封装重布线层互联结构失效分析
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作者 范懿锋 明雪飞 +2 位作者 曹瑞 王智彬 孟猛 《集成电路与嵌入式系统》 2024年第7期43-47,共5页
本文研制了一批不同尺寸规格的扇出型晶圆级封装结构的菊花链测试芯片样品,对不同几何参数下的样品进行了温度循环试验,并通过金相显微镜、扫描电镜和能谱分析等手段对失效样品进行了失效分析,研究总结了扇出型晶圆级封装重布线层互联... 本文研制了一批不同尺寸规格的扇出型晶圆级封装结构的菊花链测试芯片样品,对不同几何参数下的样品进行了温度循环试验,并通过金相显微镜、扫描电镜和能谱分析等手段对失效样品进行了失效分析,研究总结了扇出型晶圆级封装重布线层互联结构的失效模式。研究工作可为扇出型晶圆级封装产品的可靠性评估和高可靠应用提供指导。 展开更多
关键词 扇出型晶圆级封装 可靠性 失效分析 重布线层
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射频系统先进封装技术研究进展
7
作者 吴磊 《电子元件与材料》 CAS 北大核心 2024年第9期1053-1062,共10页
通信、雷达和微波测量等领域电子信息装备迅速发展,对射频系统提出了微型化、集成化和多样化等迫切需求。先进封装技术可以将不同材料、不同工艺和不同功能的器件进行异质集成,极大提升了电子产品的功能、集成度和可靠性等方面,成为推... 通信、雷达和微波测量等领域电子信息装备迅速发展,对射频系统提出了微型化、集成化和多样化等迫切需求。先进封装技术可以将不同材料、不同工艺和不同功能的器件进行异质集成,极大提升了电子产品的功能、集成度和可靠性等方面,成为推动射频系统发展的关键引擎。本文概述了芯片倒装、扇出封装、2.5D封装和三维堆叠这四种先进封装互联技术在射频系统封装中的最新研究进展,并从结构集成度、工艺实现性和信号传输等角度对不同封装结构进行了剖析。最后,分析了当前射频系统先进封装技术发展所面临的挑战,并从协同设计、高效散热和新封装技术等方面探讨了未来的发展方向。 展开更多
关键词 射频系统 先进封装 综述 芯片倒装 扇出封装 2.5D封装 三维堆叠
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涡扇发动机叶片包容性与转子不平衡试验
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作者 张清 沈锡钢 +1 位作者 徐丹 陈萌 《振动.测试与诊断》 EI CSCD 北大核心 2024年第6期1144-1151,1247,共9页
为研究某型大涵道比涡扇发动机叶片包容性和转子系统抗不平衡能力,开展了风扇叶片飞失后的机匣包容性和转子不平衡试验方法研究及验证。首先,采用在断裂叶片根部预置炸药断裂叶片的试验方法,应用设计的试验系统,在规定的发动机转速下,... 为研究某型大涵道比涡扇发动机叶片包容性和转子系统抗不平衡能力,开展了风扇叶片飞失后的机匣包容性和转子不平衡试验方法研究及验证。首先,采用在断裂叶片根部预置炸药断裂叶片的试验方法,应用设计的试验系统,在规定的发动机转速下,通过遥控爆破炸药技术实现1片风扇叶片在预定位置断裂;其次,高速摄像从不同方位记录了试验过程;最后,专项参数测量系统获得了非线性瞬态动力学响应结果。结果表明:叶片飞失后引起损伤叶片约为1.48个,均沿发动机进口或尾喷口轴向飞出,满足机匣包容要求;叶片飞失瞬间对机匣和转子系统产生了超过1000g的冲击载荷,转子传力路线上的承力结构完整,安装系统连接稳定,转子不平衡载荷引起低压转子支点轴承座与承力机匣连接螺栓丧失锁紧功能;发动机在引爆炸药后18 s停车。试验结果满足相关条款要求,验证了某大涵道比发动机叶片包容与转子不平衡的适航符合性。 展开更多
关键词 涡扇发动机 风扇叶片飞失 包容试验 转子不平衡 适航符合性
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基于Multisim TTL实验电路的探讨与改进
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作者 阿布拉江·斯地克 阿曼尼沙·阿不都热合曼 《喀什大学学报》 2024年第6期35-39,共5页
通过对基本BJT开关电路、典型的TTL非门电路的静态特性和动态特性以及TTL与非门电路特性进行仿真研究,发现元件库里的很多型号的门电路的参数因为过于接近理想,存在测不出相应的实验数据等问题.为此,讨论了问题存在的原因,改进了电路设... 通过对基本BJT开关电路、典型的TTL非门电路的静态特性和动态特性以及TTL与非门电路特性进行仿真研究,发现元件库里的很多型号的门电路的参数因为过于接近理想,存在测不出相应的实验数据等问题.为此,讨论了问题存在的原因,改进了电路设计,结果表明,改进后电路可以解决原门电路中存在的一些问题. 展开更多
关键词 TTL电路 静态特性 动态特性 传输特性 延迟时间 扇出系数
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有效减小FOPLP中芯片偏移量的方法
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作者 刘吉康 《电子与封装》 2024年第12期25-31,共7页
塑封制程中的芯片偏移量一直是板级扇出型封装(FOPLP)技术面临的巨大挑战。在介绍现有FOPLP技术工艺的基础上,通过分析塑封制程中产生芯片偏移量的原因,借鉴华天科技的嵌入式硅基扇出(eSiFO)封装技术,提出了3种能有效减小FOPLP中芯片偏... 塑封制程中的芯片偏移量一直是板级扇出型封装(FOPLP)技术面临的巨大挑战。在介绍现有FOPLP技术工艺的基础上,通过分析塑封制程中产生芯片偏移量的原因,借鉴华天科技的嵌入式硅基扇出(eSiFO)封装技术,提出了3种能有效减小FOPLP中芯片偏移量的方法,即凹槽型塑封结构方法、贯穿型塑封结构方法和光阻围堰型封装结构方法。凹槽型和贯穿型塑封结构方法通过制备带凹槽或贯穿结构的板级塑封样品,将芯片粘贴在凹槽结构或贯穿结构内,再配合真空压膜工艺来达到减小FOPLP中芯片偏移量的目的。光阻围堰型封装结构方法利用光阻在承载板上形成光阻围堰结构,将芯片粘贴在光阻围堰结构内,以达到减小FOPLP中芯片偏移量的目的。 展开更多
关键词 板级扇出型封装 芯片偏移量 塑封制程 eSiFO
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扇出型晶圆级封装翘曲仿真与控制研究进展
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作者 朱炳皓 《微纳电子与智能制造》 2024年第1期12-18,共7页
对扇出型晶圆级封装晶圆重构工艺过程中翘曲产生的原因进行阐述,总结了近年来国内外翘曲仿真与控制的研究进展。从晶圆重构工艺所用的材料、设计的重构结构,以及重构涉及的模塑固化、减薄和解键合等方面的仿真分析结果,分析了翘曲的形... 对扇出型晶圆级封装晶圆重构工艺过程中翘曲产生的原因进行阐述,总结了近年来国内外翘曲仿真与控制的研究进展。从晶圆重构工艺所用的材料、设计的重构结构,以及重构涉及的模塑固化、减薄和解键合等方面的仿真分析结果,分析了翘曲的形成原因。此外,将晶圆重构仿真分析结果与实验测试结果进行对比。最后,对重构晶圆翘曲矫正未来的发展方向进行展望。 展开更多
关键词 扇出型晶圆级封装 晶圆重构 翘曲矫正 有限元分析
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嵌入合金框架的扇出型板级封装结构及其翘曲仿真分析
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作者 余胜涛 笪贤豪 +4 位作者 何伟伟 彭琳峰 王文哲 杨冠南 崔成强 《电子与封装》 2024年第11期27-32,共6页
扇出型板级封装(FOPLP)依靠其小线宽/线距、高集成度、小尺寸等优势,从封装角度形成集成电路的优解,实现摩尔定律的延续。针对FOPLP的大尺寸带来的翘曲及可靠性问题,提出在封装载板内嵌入TC4钛合金框架,研究TC4钛合金框架的尺寸参数对... 扇出型板级封装(FOPLP)依靠其小线宽/线距、高集成度、小尺寸等优势,从封装角度形成集成电路的优解,实现摩尔定律的延续。针对FOPLP的大尺寸带来的翘曲及可靠性问题,提出在封装载板内嵌入TC4钛合金框架,研究TC4钛合金框架的尺寸参数对翘曲的影响。采用有限元仿真分析方法评估了TC4钛合金框架的长度、宽度及厚度对封装翘曲的影响。随着TC4钛合金框架尺寸参数的增大,封装翘曲均有所降低。此外,利用正交分析实验分析了尺寸参数对翘曲的交互效应,得到了关键参数的最佳窗口。利用阴影云纹法测量产品,得到的翘曲结果与仿真结果展现出较好的一致性。 展开更多
关键词 扇出型板级封装 翘曲变形 有限元仿真 阴影云纹法
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TFT-LCD横向线状未确认Mura分析及改善研究 被引量:12
13
作者 徐伟 彭毅雯 +1 位作者 雷有华 邱海军 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2013年第4期539-546,共8页
研究了产品开发过程中新出现的一种原因未知的横向线状Mura问题。通过分析和改善研究表明,Gate Fan-out区域栅极线金属交替布线设计中不同金属层线电阻差异是导致横向线状未确认Mura发生的主要原因;通过变更栅极线金属层厚度及材料,以... 研究了产品开发过程中新出现的一种原因未知的横向线状Mura问题。通过分析和改善研究表明,Gate Fan-out区域栅极线金属交替布线设计中不同金属层线电阻差异是导致横向线状未确认Mura发生的主要原因;通过变更栅极线金属层厚度及材料,以降低整体电阻和不同金属层线电阻差异可以解决此种不良现象;并通过试验论证此方法的量产可行性。 展开更多
关键词 横向线状Mura 扇形区域 栅极线金属层交替布线
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未确认Mura分析及改善对策 被引量:9
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作者 徐伟 彭毅雯 肖光辉 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2011年第5期612-615,共4页
未确认Mura是一种能够影响TFT-LCD画面品质的不良。文章对未确认Mura不良进行了详细的分析,认为扇形区域出现有源层残留是导致未确认Mura不良发生的原因,介绍了一种通过变更曝光工艺条件来解决此种不良的方法,并通过试验论证了此方法的... 未确认Mura是一种能够影响TFT-LCD画面品质的不良。文章对未确认Mura不良进行了详细的分析,认为扇形区域出现有源层残留是导致未确认Mura不良发生的原因,介绍了一种通过变更曝光工艺条件来解决此种不良的方法,并通过试验论证了此方法的量产可行性。 展开更多
关键词 未确认Mura 扇形区域 有源层残留 曝光工艺条件
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多端I/O系统用BiCMOS连线逻辑电路 被引量:6
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作者 成立 高平 +2 位作者 董素玲 李彦旭 唐平 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2003年第1期7-10,共4页
为了满足数字通信和信息处理系统多端输入/输出(I/O)、高速、低耗的性能要求,笔者设计了几例BiCMOS连线逻辑电路,并提出了采用0.5 ?m BiCMOS工艺,制备所设计的连线逻辑电路的技术要点和元器件参数.所做实验表明了设计的连线逻辑电路既... 为了满足数字通信和信息处理系统多端输入/输出(I/O)、高速、低耗的性能要求,笔者设计了几例BiCMOS连线逻辑电路,并提出了采用0.5 ?m BiCMOS工艺,制备所设计的连线逻辑电路的技术要点和元器件参数.所做实验表明了设计的连线逻辑电路既具有双极型逻辑门电路快速、大电流驱动能力的特点,又具备CMOS逻辑门低压、低功耗的长处,而且其扇入数可达3~16,扇出数可达1~18,因而它们特别适用于多端I/O高速数字通信和信息处理系统中. 展开更多
关键词 多端I/O系统 BICMOS 逻辑电路 高速数字信息处理系统 双极互补金属氧化物半导体器件 扇入数 扇出数 线与逻辑 线或逻辑 输入/输出通道
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圆片级封装的研究进展 被引量:7
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作者 刘培生 仝良玉 +3 位作者 黄金鑫 沈海军 施建根 朱海清 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2012年第1期68-72,共5页
圆片级封装(wafer level package,WLP)因其在形状因数、电性能、低成本等方面的优势,近年来发展迅速。概述了WLP技术近几年的主要发展。首先回顾标准WLP结构,并从焊球结构等方面对其进行了可靠性分析。其次介绍了扩散式WLP工艺以及它的... 圆片级封装(wafer level package,WLP)因其在形状因数、电性能、低成本等方面的优势,近年来发展迅速。概述了WLP技术近几年的主要发展。首先回顾标准WLP结构,并从焊球结构等方面对其进行了可靠性分析。其次介绍了扩散式WLP工艺以及它的典型应用,并说明了扩散式WLP存在的一些可靠性问题。最后总结了WLP技术结合硅通孔技术(TSV)在三维叠层封装中的应用。 展开更多
关键词 圆片级封装 标准WLP 综述 扩散式WLP 3D叠层封装
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对数字电路扇出的影响和造成困难的分析 被引量:2
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作者 梁业伟 杨志娟 +1 位作者 石茵 魏道政 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2000年第3期311-317,共7页
提出一种在 Benchmark电路中存在的隐式扇出和描述实际组合电路中扇出的一种方法 .从 D传送、赋值和冗余、难测故障等方面 ,对扇出的影响造成的困难进行了分析 ,并叙述了其影响的范围和程度 .
关键词 扇出 数字电路 隐式扇出 测试
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BEPCII直线加速器数字延时触发器的设计与实现 被引量:1
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作者 杨静 曹建社 +8 位作者 杜垚垚 汪林 马宇飞 张醒儿 叶强 麻惠洲 魏书军 岳军会 随艳峰 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第7期93-98,共6页
针对北京正负电子对撞机II期(BEPC II)直线加速器升级改造过程中束流位置探测器(BPM)电子学对外部触发信号的需求,设计了一台高精度延时控制、上升时间短和参数灵活调节的数字延时触发器。采用FPGA(现场可编程门阵列)作为主控制器展开设... 针对北京正负电子对撞机II期(BEPC II)直线加速器升级改造过程中束流位置探测器(BPM)电子学对外部触发信号的需求,设计了一台高精度延时控制、上升时间短和参数灵活调节的数字延时触发器。采用FPGA(现场可编程门阵列)作为主控制器展开设计,重点介绍了基于FPGA的边沿检测模块和多通道延时处理模块的设计与仿真,描述了FPGA和驱动电路的设计方案以及在直线加速器上的应用。经测试,延时可调范围4 ns^4μs,最小步进4 ns,步进误差0.125%;上升时间2 ns,延时抖动135.4 ps。 展开更多
关键词 直线加速器 现场可编程门阵列 可调延时 上升时间 多路扇出 驱动电路
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二维衍射光栅在彩虹全息中的应用 被引量:1
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作者 王取泉 赵同云 +2 位作者 熊贵光 周正国 田德诚 《光学技术》 CAS CSCD 1999年第1期67-69,72,共4页
提出了将正交位相光栅和扇出光栅应用于制作彩虹全息图的方法,分析了正交位相光栅产生的多重全息像的位置和强度分布,给出制作扇出光栅的一种实用方法,并给出了实验结果。
关键词 扇出光栅 全息术 二维衍射光栅 彩虹全息
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一种控制转换装置的自动测试与故障诊断初探 被引量:1
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作者 张庆荣 潘月胜 李成贵 《计算机测量与控制》 CSCD 2005年第4期314-316,共3页
介绍了某控制转换装置测试仪的自动测试和故障诊断的设计思想, 讨论了测试仪的硬软件设计中如何实现自动测试, 以及利用FAN算法来计算故障定位测试向量的故障诊断思想和方法。该测试仪总体设计可靠性高, 还有故障定位的功能, 智能化程... 介绍了某控制转换装置测试仪的自动测试和故障诊断的设计思想, 讨论了测试仪的硬软件设计中如何实现自动测试, 以及利用FAN算法来计算故障定位测试向量的故障诊断思想和方法。该测试仪总体设计可靠性高, 还有故障定位的功能, 智能化程度高。可以在很大的程度上测试控制转换装置的功能和排除控制转换装置的故障。 展开更多
关键词 飞机 控制转换装置 自动测试 故障诊断 可靠性 继电器
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