基于CCS开发环境下Flash算法的研究与实现

在CCS调用TI自带的Flash算法操作片上Flash时因擦除、编程和校验耗时比较长,很容易导致系统硬件看门狗计数溢出引发系统复位。传统的处理方法需要用户每次烧写Flash时对硬件或软件进行修改。对于成品系统板存在很大的人为因素。为了避免上述人为因素导致产品被锁住的潜在风险,提供了一套通用、易于实现、可排除人为因素的Flash算法:替代CCS自带的Flash算法,使其增加看门狗喂狗函数指针或用户定制的其他功能函数指针,从而解决CCS操作Flash时用户无法喂狗或其他功能的尴尬局面。试验结果表明,该Flash算法可按用户需求添加定制功能及喂狗函数,避免对软件或硬件的改动,提升了系统在调试阶段的稳定性、可靠性等。

Flash型FPGA内嵌BRAM测试技术研究

Flash型FPGA由于具有高可靠性、卓越的安全性和即插即用的功能,被广泛应用于军事及航空航天领域。Flash型FPGA的内部结构复杂而庞大,因此研究其测试技术的可靠性和准确性至关重要。块随机存储器(BRAM)作为FPGA内部重要的存储模块,在传统测试中存在故障覆盖率较低的问题。为了扩大故障覆盖范围,对March C+算法进行了改进,优化后算法对写干扰故障(WDF)、写破坏耦合故障(CFwd)、干扰耦合故障(CFds)和字内耦合故障的检测能力得到了显著提高。结果表明,优化后的算法相较于March C+算法,其故障覆盖率提高了25个百分点,且与时间复杂度相同的March SS算法相比,其故障覆盖率提高了5.8个百分点。

基于FPGA和NAND Flash的存储器ECC设计与实现

针对以NAND Flash为存储介质的高速大容量固态存储器,在存储功能实现的过程中可能出现的错"位"现象,在存储器的核心控制芯片,即Xilinx公司Virtex-4系列FPGA XC4VLX80中,设计和实现了用于对存储数据进行纠错的ECC算法模块。在数据存入和读出过程中,分别对其进行ECC编码,通过对两次生成的校验码比较,对发生错误的数据位进行定位和纠正,纠错能力为1 bit/4 kB。ECC算法具有纠错能力强、占用资源少、运行速度快等优点。该设计已应用于某星载存储系统中,为存储系统的可靠性提供了保证。

面向Flash存储的页面置换算法综述

传统的页面置换算法是针对磁盘组成的存储系统来设计和优化的,而Flash存储设备和磁盘相比有很多新的特性如读、写和擦除操作的I/O开销不对称,因此需要重新设计面向Flash存储的页面置换算法.最近这些算法的研究是个热点,可以把它们分为两类:面向Flash存储的普适性页面置换算法和专门性页面置换算法.普适性页面置换算法的思想是尽量避免置换脏页以减少二级存储设备中的写回操作,如CFLRU,LRU-WSR和APRA,它们只关注操作不对称特性,在各种Flash存储系统中都能保持较高性能.针对Flash存储的特殊应用环境,人们提出了专门性页面置换算法.这些置换算法不仅考虑了Flash存储的特性而且是针对应用的特定信息如写连续,压缩分区等等来设计的,这一类算法包括FAB,CRAW-C等等.好的算法会在保持高命中率和减少置换开销之间寻找平衡,最大程度提高存储设备的整体I/O性能.

一种基于差分进化的Flash文件系统垃圾回收算法

垃圾回收算法对于Flash文件系统具有十分重要的意义.本文针对已有垃圾回收算法在存储容量剩余较小时垃圾回收性能急剧下降进而影响写入速率的问题,采用最优化方法,提出并实现了一种基于差分进化的垃圾回收算法.该算法能够使得垃圾回收的代价均匀化,在保证性能和损耗均衡的前提下,减少擦除次数,延长Flash寿命.实验结果验证了该算法的有效性.

高性能FLASH存储器在DSP电机智能保护中的应用

DSP芯片以其高速、实时性强等优点逐步被用到电机保护中 ,利用高性能外围器件尤其是外围存储器与DSP的硬件匹配是充分发挥其优点的必要条件。文中以基于TMS320C32高速CPU为核心芯片的智能型电机保护装置为模型,介绍了高性能FLASH芯片Am29F010B与DSP芯片的硬件接口电路、软件编程技术以及应注意的问题和设计技巧。

VB程序设计中常用算法的Flash动态演示

在VB程序设计教学中,算法是难点,该文以冒泡算法为例,介绍使用Flash软件制作算法演示动画的方法和过程。算法演示动画应用于教学中,减轻了教师负担,帮助学生更好理解算法,取得了很好的教学效果。

基于Flash的编译算法动态演示系统设计

针对编译原理课程理论性较强,难以取得良好教学效果的问题,选择Flash作为课件开发工具,设计实现了一个编译算法动态演示系统。简要介绍了Flash CS3的开发环境,详细描述了该演示系统的实现步骤。运行结果显示该系统在实际使用过程中效果良好。

Flash中实现卡马克卷轴算法

Flash开发中经常会遇到图片滚动的问题,虽然实现图片的滚动非常简单,但利用普通的方法非常消耗CPU资源。本文通过实例探讨在Flash-AS3中如何实现卡马克卷轴算法,并对算法进行测试,测试结果表明CPU消耗确有下降。

基于FPGA的NAND Flash控制器设计

NAND Flash速度快、密度大、成本低,在各种数码产品中广泛使用。在详细介绍NAND Flash基础上,提出了基于AHB总线的NAND Flash控制器设计方案,并且已通过了功能验证和FPGA验证,各条指令功能均达到了预期的设计要求。

一种含BCH编解码器的SLC/MLC NAND FLASH控制器的VLSI设计

为了满足存储器市场对低单比特成本和高存储密度的需求,在一款基于ARM926EJ的片上处理器芯片中,集成了一个可支持SLC/MLC NAND FLASH的控制器。为了纠正FLASH存储器芯片中的随机错误,采用了可纠4比特错误的BCH纠错码,该纠错码非常适应NAND类型存储器的随机错误特点。该控制器可支持多种类型的NAND FLASH。另外,对一种基于伯利坎普-梅西算法的高效BCH编解码器VLSI结构进行了研究,采用一种简化伯利坎普-梅西算法实现的低复杂度的关键方程解算机消除其速度瓶颈。芯片采用SMIC 0.13μm CMOS工艺。测试结果证明,设计电路完全符合系统规范,性能表现优良。

嵌入式Flash播放器中缓存的设计与实现

本文将缓存思想引入了嵌入式Flash播放器的设计。将矢量图形渲染出的位图进行缓存,同时根据Flash文件的特点,使用一种简单可行的缓存淘汰策略与提前缓存策略,充分地利用缓存资源,极大地提高了系统性能,解决了播放速度过慢的难题。

双源Flash CT胸部体检对冠状动脉钙化的初步评价

目的：探讨双源Flash CT胸部体检图像对冠脉钙化的显示情况。方法：回顾性分析2012年9月至2013年6月胸部CT平扫发现冠脉钙化的44例体检者的临床资料,其中男33例、女11例,将全部患者CT图像分别用层厚3 mm＋软组织算法B30f（A组）、层厚1 mm＋软组织算法B30f（B组）及层厚1 mm＋骨算法B60f（C组）进行重建,根据冠脉钙化显示情况将图像分为0-3级共4级,评价3组图像对冠脉钙化的显示情况,分析三者之间的统计学差异。结果：44例体检者的3组重建图像对冠脉钙化的显示有明显统计学差异（P〈0.05）;进一步进行两两比较分析,A组与B组、A组与C组及B组与C组之间的差异均有统计学意义（P〈0.05）,其中C组中评分3级的图像明显多于A、B组,对冠脉钙化获得了较好的显示效果,钙化边缘更加锐利,细节清晰,小分支钙化亦可分辨。结论：合理利用后处理技术,将薄层厚及骨算法重建相结合的双源Flash CT胸部平扫可为冠脉钙化观察提供一种非常实用且简便易行的方法,可以较为精确地显示冠脉钙化的部位、形态以及大致范围,为初步评估冠脉钙化提供一定的信息,具有较大的临床应用价值。

基于FLASH-March算法的FLASH缺陷检测系统

介绍了FLASH缺陷机理并提出了面向8bit和16bit的FLASH-March算法,在此基础上设计并实现一种新的FLASH缺陷检测系统.该系统以FPGA为硬件基础,以Microblaze软核为CPU搭建系统主体架构,实现了对FLASH缺陷的检测.相比于传统方法,本系统有实现简单,成本低,便于相关算法研究的特点.本设计最终在实际中得到应用,验证了设计的有效性和可靠性.

Flash中旋转交互的建模和实现

充分发挥Flash交互设计特色,以典型的电话转盘拨号操作为例展示了模型设计思路,同时对设计中的关键问题作了分析。

基于Vxworks的Flash文件系统

为了在嵌入式系统上建立通用的Flash文件系统,以Vxworks操作系统为基础,对Flash文件系统的概念以及存储管理方式进行了深入研究,并对商业化产品TrueFFS文件系统的体系结构以及回收和磨损控制算法的可实现性和使用效率等进行了详细分析,针对TrueFFS的磨损控制算法,使用线性预测取平均法证明了该算法有较强的实用性和可行性.

一种基于NAND Flash的FTL算法验证平台的设计与实现

闪存转换层(FTL)算法的设计与开发对于固态硬盘的整体性能至关重要,由于缺乏错误检测机制,目前现有的算法验证平台检验结果与真实结果差距较大.本文提出一种基于NAND Flash的FTL算法验证平台,通过建立基于NAND Flash存储系统的软件平台,模拟NAND Flash的操作特性,增加错误检测机制,模拟真实操作环境,完成FTL算法的验证.本文对软件平台的整体设计和核心模块进行了分析描述.最后,在该软件平台与真实闪存设备上运行FTL算法完成模拟实验,实验证明两者误差范围在7%以内.本文提出的一种基于NAND Flash的FTL算法验证平台为验证FTL算法提供了一种便捷工具,同时提高了存储系统的可靠性,缩短了算法开发的周期,降低了产品成本.

pFlash故障测试算法

Flash存储器快速发展得益于便携式设备的进步,而pFlash存储器因编程电压低、功耗小并可以有效抑制带-带隧道效应而被广泛应用.由于可靠性和成本是衡量所有存储器设备性能的两个关键指标,本文提出了一种高效的pFlash故障测试算法来减小存储器的测试成本并保证其故障覆盖率.通过改变写入的测试向量以及写入的方式来准确定位pFlash存储器的故障.测试效率较于March-like算法提高了33%,且故障覆盖率仍然为100%.此算法用于开发pFlash内建自测试电路(BIST,Built-in Self Test)可以适当减少其硬件开销,用于测试机台可以减少测试时间.

基于flash的数据结构算法动画设计

与传统的数据结构算法教学相比,利用flash将算法生动的展示给观众,有利于学生对算法的理解和掌握。随着计算机技术的发展,电子教学已经应用到普通的各门学科当中,当然身为本专业的我们也需要。动画设计不但只是展示更侧重与学生互动在玩中学,在学中玩,不仅能够让学生迅速入门,还能培养学生的动手能力,训练其思维,激发学生的学习兴趣。

Modeling and Optimization of Copper Flash Smelting Process Based on Neural Network

The copper flash smelting process neural network model(CFSPNNM)was developed,its input layer includes eight nodes:oxygen grade(OG),oxygen volume per ton of concentrate(OVPTC),flux rate(FR)and quantifies of Cu,S,Fe,SiO_2 and MgO in copper concentrate;output layer includes three nodes:matte grade,matte temperature and Fe/SiO_2 in slag,and net structure was 8-13-10-3.Then,the internal relationship between the technological parameters and the objective parameters was built after the CFSPNNM was trained by us...