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快闪存储器及测试编程技术
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作者 栗学忠 谭伟 《微处理机》 2000年第1期10-12,共3页
快闪存储器日益广泛地应用于电子装置上 ,严格测试其逻辑功能和电参数十分必要。文章首先简单介绍 FL ASH的工作原理 ,然后叙述对这类器件进行数据编程的测试技术以及交流参数测试方法。
关键词 快闪存储器 功能测试 编程 EPROM E^2PROM
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