一种脑损伤所致认知障碍的动物模型

目前认为大鼠内侧额叶皮层在结构和功能方面都与灵长类的前颉叶皮层相当,可能参与认知功能的调控。本工作训练一批Wistar大鼠建立巩固的操作式条件反射,然后对其中M组进行切去双内侧额叶皮层的手术。术后条件反射保持能力明显减退,与假手术(S)组相比有显著差别。在4周内未见恢复。对第二批Wistar大鼠先分别进行M组、S组或双额叶外侧区切除(L)组手术。术后1周才进行行为试验,与S组比较,M组大鼠被动回避反应的记忆明显下降,同时主动回避反应的学习成绩提高缓慢。L组大鼠的上述两类行为反应与S组大鼠比较无明显差别。两批动物的一般状态和运动能力都保持正常并能长期存活。本文为损伤大鼠内侧额叶皮层造成学习记忆障碍的模型的国内首次报告。

大鼠额叶皮质损害的脑电功率谱和形态学研究

３５只ＳＤ大鼠随机分成三组：正常组、假损害组和损害组。采用机械抽吸法制作大鼠右侧额叶皮质损害模型。对各组大鼠分别进行脑电功率谱分析和比较．结果发现：正常大鼠和假损害大鼠两侧大脑半球δ、θ、α和β频段相对功率值相近似（Ｐ＞０．０５），ＤＴ／ＡＢ值（即δ＋θ／α＋β的绝对功率值之比）也相似（Ｐ＞０．０５），功率谱曲线两侧基本对称。额叶皮质损害大鼠损害侧δ、θ频段相对功率值较健例显著增高（Ｐ＜０．０５），α、β段相对功率值较健侧显著降低（Ｐ＜０．０５）；ＤＴ／ＡＢ值较健侧显著增加（Ｐ＜０．０５），功率谱曲线两侧明显不对称。额叶皮质损害后３天、２周、４用及８周功率谱分析结果无明显不同。形态学观察证实额叶皮质存在缺损区不因时间延长而自行修复．额叶皮质损害出现的脑功能障碍及损害区形态变化均不能自行修复，表明功能效应和形态结果相一致，提示脑电功率谱分析可作为临床和实验研究中评价脑功能的有效手段。

大鼠额叶皮质损害后不同时期胚脑移植效果的比较

目的 :旨在探索脑外伤后进行脑组织移植的适宜时机。方法 :用机械抽吸法制作大鼠右侧额叶皮质损害模型。在大鼠额叶皮质损害后立即、9～ 14天及 2个月采用铺片法将 E16～ 17天胚脑额叶皮质移植入皮质损害腔内。动物存活 2个月再进行脑功能测试和形态学研究。结果 :额叶皮质损害后立即移植鼠移植侧δ、θ频段相对功率值显著高于健侧 (P<0 .0 5 ) ,α、β频段相对功率值显著低于健侧 (P<0 .0 5 ) ;DT/AB值也显著高于健侧 (P<0 .0 5 ) ,脑电功率谱曲线两侧明显不对称。额叶皮质损害后 9～ 14天及 2个月移植鼠移植侧δ、θ、α、β频段相对功率值均与健侧近似 (P>0 .0 5 ) ,DT/AB值也与健侧相近似 (P>0 .0 5 ) ,脑电功率谱曲线两侧基本对称。形态学观察可见损害后立即移植鼠未见有移植组织存活 ,受损的脑功能也没有恢复。损害后 9～ 14天及 2个月移植鼠 ,绝大多数见有良好的移植组织存活 ,脑电功率谱改善。结论 :大鼠额叶皮质损害后 9～ 14天及

大鼠额叶皮质损害后胚脑移植适宜时期的探讨

目的:探讨脑外伤后进行脑组织移植的适宜时期。方法:机械抽吸法制作大鼠右侧额叶皮质损害模型。在大鼠额叶皮质损害后立即、2周及2月时采用铺片法将E15-17天胚脑额叶皮质移植入皮质损害腔内。动物存活2月再进行脑功能测试和形态学观察。结果:额叶皮质损害后立即移植鼠移植侧δ、0频段相对功率值显著高于健侧(P<0.05),α、β频段相对功率值显著低于健侧(P<0.05),脑电功率谱曲线两侧明显不对称,表明受损的脑功能也没有恢复。额叶皮质损害后2周及2月移植鼠移植侧δ、0、α、β频段相对功率值均与健侧近似(P>0.05),脑电功率谱曲线两侧基本对称,脑电功率谱改善。形态学观察可见损害后立即移植鼠少见有移植组织存活,损害后2周及2月移植鼠,绝大多数见有良好的移植组织存活。结论:大鼠额叶皮质损害后2周至2月均为胚脑组织移植适宜时期。