疲劳寿命计性能研究

疲劳寿命计是电阻－疲劳响应记忆元件，外形结构如同普通箔式应变计。介绍所研制疲劳寿命计的原理、恒幅交变应变下的电阻变化特性曲线标定、平均应变及变幅载响应等性能的测试方法和结果。实验结果表明，它有很高的疲劳响应及重复性和稳定性。其原理可用于多种目的的疲劳测试和结构疲劳监测元件。

疲劳寿命计电阻变化机理的研究

用退火去除电阻累计的方法，研究了３种交变应变量下疲劳寿命计电阻增加的机理，并对液氮处理和冷作变形后的性能进行了研究。实验结果表明：疲劳寿命计电阻增加的主要贡献来自基体原子排序的改变，而在较低应变水平下，位错和点缺陷是电阻增加的主要原因。冷作变形提高反向应变电阻值，低温下疲劳寿命计性能没有改变。