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基于GPIB技术的光插回损耗自动测试系统 被引量:2
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作者 姚元 叶苍竹 +3 位作者 曹祥鑫 官守军 殷璐 冯正和 《光通信技术》 CSCD 北大核心 2010年第11期1-3,共3页
针对传统光纤元件插回损耗测试方法效率低、易出错的缺点,基于GPIB技术开发了一种新型的光插回损耗自动测试系统。该系统通过GPIB总线实现计算机与多台测试仪器相互通信,利用VB编写测控软件实现光插回损耗的自动测试。所采集数据利用Acc... 针对传统光纤元件插回损耗测试方法效率低、易出错的缺点,基于GPIB技术开发了一种新型的光插回损耗自动测试系统。该系统通过GPIB总线实现计算机与多台测试仪器相互通信,利用VB编写测控软件实现光插回损耗的自动测试。所采集数据利用Access数据库统一管理。应用结果表明,该系统运行稳定,操作简便,具有一定的实用性和推广价值。 展开更多
关键词 gpib技术 光插回损耗 自动测试系统 数据库
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