光检测器参数对相位-多普勒粒子分析系统特性的影响

应用几何光学近似理论模型计算了激光相位多普勒系统中微粒的光散射特性 .得到了散射光强与粒径关系、检测器表面的散射光强分布。

AlSb／GaAs异质外延薄膜应变的HRTEM几何相位分析

用几何相位分析(geometric phase analysis,GPA)方法研究了AlSb/GaAs异质外延薄膜的应变。此方法基于高分辨像的傅里叶变换。通过选择傅里叶变换点分辨率以内的某个强衍射,做反傅里叶变换得到晶格条纹的相对的相位分布,进一步得到应变分布。Bragg滤波条纹像确认了60°和90°失配位错的存在。分析讨论了位错核心区域应变分布差异的可能机制。

原子分辨的应变场测量与计算方法

材料在实际应用过程中往往处于应力状态,必定会导致其性能改变。因此,研究材料内部应变,实现材料应变分布的原子尺度高精度测量,可以有效建立微观结构-应变-物理性能的相关性,为材料实际应用提供必要的理论支撑。本文系统综述了应变测量和计算常用的几种方法;讨论了各种方法的适用范围、优缺点、精度以及准确度;并提出了一些进一步提升应变测量精度的方案,以期为应变测量和计算方法的发展提供参考。