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Determination of trace impurity elements in MnZn ferrite powder by direct current glow discharge mass spectrometry 被引量:3
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作者 FU Liang MA Jun-cai SHI Shu-yun 《Journal of Central South University》 SCIE EI CAS CSCD 2018年第7期1590-1597,共8页
An analytical method for the determination of 26 impurity elements (such as Li, Be, Na, Mg, Al, Si, P, S, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Co, Ni, Ga, Ge, Y, Nb, Mo, Ag, Cd, Sb, W and Pb) in MnZn ferrite powder by direct curre... An analytical method for the determination of 26 impurity elements (such as Li, Be, Na, Mg, Al, Si, P, S, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Co, Ni, Ga, Ge, Y, Nb, Mo, Ag, Cd, Sb, W and Pb) in MnZn ferrite powder by direct current glow discharge mass spectrometry (GD-MS) was established. MnZn ferrite powder was mixed with copper powder, used as a conductor, and pressed. The effects of MnZn ferrite powder preparation conditions and glow discharge parameters for the sensitivity and stability of signal analysis were investigated. By determining the choice of isotope and the application of the mass resolutions of 4000 (MR, medium resolution) and 10000 (HR, high resolution), mass spectral interference was eliminated. The contents of impurity elements in MnZn ferrite powder was calculated by subtraction after normalizing the total signal of Mn, Zn, Fe, O and Cu. The results showed that the detection limit of 26 kinds of impurity elements was between 0.002 and 0.57 μg/g, and the relative standard deviation (RSD) was between 3.33% and 32.35%. The accuracy of this method was verified by the ICP-MS. The method was simple and practical, which is applied to the determination of impurity elements in MnZn ferrite powder. 展开更多
关键词 MnZn ferrite powder glow discharge mass spectrometry impurity elements copper powder
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Direct determination of trace amounts of acetic acid using a novel ambient glow discharge ion source
2
作者 Xiao Hao Wang Kun Liu +3 位作者 Fei Tang Jiu Ming He Xue Ye Wei Zeper Abliz 《Chinese Chemical Letters》 SCIE CAS CSCD 2010年第10期1219-1222,共4页
A novel ambient glow discharge ion source with improved line-cylinder electrodes is put forward and designed in this paper. The diameters of inner and outer electrodes are 0.16 and 4 mm respectively. With a special as... A novel ambient glow discharge ion source with improved line-cylinder electrodes is put forward and designed in this paper. The diameters of inner and outer electrodes are 0.16 and 4 mm respectively. With a special assembly method, a perfect coaxiality of the two electrodes is obtained. From the gas discharge experiment, it can be seen that the discharge can stably work in normal glow discharge mode. The operating currents of the ion source are in an order of milliamperes and can generate a much larger number and wider variety of reagent ions. The MS experiment shows that the ion source has higher detection sensitivity, 展开更多
关键词 Ambient ion source Atmospheric glow discharge mass spectrometry
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辉光放电质谱(GDMS)法校正高纯氧化铋中19种元素的相对灵敏度因子 被引量:10
3
作者 谭秀珍 李瑶 +2 位作者 陈晶晶 朱刘 邓育宁 《中国无机分析化学》 CAS 2019年第6期63-68,共6页
采用标准溶液加入法往高纯氧化铋中加入混合标准溶液,烘干并研磨均匀,制备了5个高纯氧化铋的控制样品。再挑取适量的粉末样品压在高纯铟薄片上,建立了辉光放电质谱(GDMS)法校正高纯氧化铋中的Mg、Al、Ca等19种元素相对灵敏度因子的方法... 采用标准溶液加入法往高纯氧化铋中加入混合标准溶液,烘干并研磨均匀,制备了5个高纯氧化铋的控制样品。再挑取适量的粉末样品压在高纯铟薄片上,建立了辉光放电质谱(GDMS)法校正高纯氧化铋中的Mg、Al、Ca等19种元素相对灵敏度因子的方法。实验考察了放电参数和制样面积对基体信号强度和稳定性的影响,优化后的辉光放电电流为1.8 mA,放电电压为950 V,压在铟薄片上的高纯氧化铋直径约为6~8 mm。通过选择合适的同位素,在4000的中分辨率下测定即可消除质谱干扰。为了验证加标回收的准确性,采用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法对控制样品进行测定,所有元素的加标回收率都在80%以上。采用GDMS法测定5个控制样品并结合ICP-MS法的测定值建立工作曲线,大部分元素的线性均达到0.995以上;除Al、Ga、Sb外,大部分元素的校准相对灵敏度因子(calRSF)和仪器自带的标准相对灵敏度因子(stdRSF)的比值都在1/2~2之间,说明GDMS的半定量分析不会有数量级的差别。但对于某些需要准确测定纯度的定量分析,则必须采用基体相匹配的RSF值进行校正。 展开更多
关键词 辉光放电质谱仪(gdms) 高纯氧化铋 控制样品 相对灵敏度因子
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直流辉光放电质谱法(DC-GDMS)半定量分析高纯氧化镱中30种杂质元素 被引量:1
4
作者 罗勉 王贵超 +2 位作者 罗芝雅 石雪峰 张曼宁 《湖南有色金属》 CAS 2023年第3期94-98,共5页
在选定的条件下,采用仪器自带的标准相对灵敏度因子(stdRSF)校正结果,测定了高纯氧化镱中30种杂质元素。结果表明,在没有标准物质的情况下,可实现对高纯氧化镱中30种杂质元素的半定量分析。将该方法与国家标准方法进行比对,相对偏差的... 在选定的条件下,采用仪器自带的标准相对灵敏度因子(stdRSF)校正结果,测定了高纯氧化镱中30种杂质元素。结果表明,在没有标准物质的情况下,可实现对高纯氧化镱中30种杂质元素的半定量分析。将该方法与国家标准方法进行比对,相对偏差的绝对值<30%。 展开更多
关键词 直流辉光放电质谱法(DC-gdms) 高纯氧化镱 半定量分析 杂质元素
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高纯金属纯度测量研究
5
作者 周涛 张见营 +2 位作者 崔彦杰 唐一川 吴冰 《分析测试学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第9期1331-1337,共7页
高纯金属作为先进材料和化学成分量溯源的基础原料,其杂质和纯度量值是重要指标。全杂质元素扣除,即扣除包括非金属和气体元素等杂质的纯度测量方法已成为高纯金属纯度定值的权威方法。该文以高纯金纯度标准物质(GBW02793)为例,详细介... 高纯金属作为先进材料和化学成分量溯源的基础原料,其杂质和纯度量值是重要指标。全杂质元素扣除,即扣除包括非金属和气体元素等杂质的纯度测量方法已成为高纯金属纯度定值的权威方法。该文以高纯金纯度标准物质(GBW02793)为例,详细介绍了辉光放电质谱法、高分辨电感耦合等离子体质谱法、燃烧红外法和惰气熔融-红外热导法等多种方法在纯度测量中的研究要点。对引起辉光放电质谱测量偏差的重要因素—相对灵敏度因子进行了修正,将测量不确定度从200%降至30%。分别采用辉光放电质谱法和高分辨电感耦合等离子体质谱法两种方法对高含量的金属杂质元素Na、Fe、Cu进行测量,方法结果一致。痕量气体元素H、C、N、S采用惰气熔融-红外热导法和燃烧红外法进行测量,其含量分别为0.35、0.51、0.45、0.85 mg/kg,均低于定量下限。采用惰气熔融-红外热导法和二次离子质谱法对痕量氧含量进行了测量,两种方法结果相近。同时对惰性气体元素和放射性元素含量进行了合理评估,并对纯度测量不确定度进行了评定。最终得到扣除94种杂质元素的高纯金标准物质中金的质量分数为99.9995%,扩展不确定度为0.0002%。 展开更多
关键词 高纯金属 纯度 辉光放电质谱 标准物质
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高流速离子源辉光放电质谱校正灵敏度因子法定量分析镍基高温合金中痕量稀土及贵金属元素
6
作者 屈华阳 张馨元 +2 位作者 胡净宇 杨国武 王海舟 《分析测试学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第9期1317-1323,共7页
该文通过全面优化高流速辉光放电离子源分析高温合金痕量元素的仪器条件,系统研究高温合金复杂基体元素造成的质谱干扰,选取稀土元素和贵金属元素分析同位素与合适的质谱分辨率,确立了基于基体匹配的变形高温合金标准物质系列的校正灵... 该文通过全面优化高流速辉光放电离子源分析高温合金痕量元素的仪器条件,系统研究高温合金复杂基体元素造成的质谱干扰,选取稀土元素和贵金属元素分析同位素与合适的质谱分辨率,确立了基于基体匹配的变形高温合金标准物质系列的校正灵敏度因子(RSF)定量方案,使测定结果的相对误差由4.0%~80%优化至7.7%~20%,并为痕量分析结果提供了可靠的计量溯源依据。基于此所建立的辉光放电质谱(GDMS)测定镍基高温合金中稀土元素和贵金属元素的方法检出限为0.0010~0.015μg/g,定量下限为0.0030~0.045μg/g。应用于变形高温合金和铸造高温合金实际样品中稀土元素和贵金属元素的分析,测定结果与湿法分析的参考值吻合较好,较好地验证了辉光放电固体样品快捷分析的优势,体现了高分辨质谱检出限低、线性范围宽、可分析元素多的特点,在高温合金材料质控中有着巨大的应用前景。 展开更多
关键词 辉光放电质谱法 镍基 高温合金 稀土元素 贵金属元素 校正灵敏度因子
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辉光放电质谱法测定高温合金中的氧氮元素
7
作者 李晓旭 王长春 +1 位作者 李辉 张重远 《分析测试学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第9期1370-1375,共6页
通过优化放电参数,分析质谱干扰,校正相对灵敏度因子(RSF),对高温合金中的氧和氮元素进行测试,并将结果与氧氮氢分析仪检测结果进行比较。结果显示,使用辉光放电质谱仪和氧氮氢分析仪测定高温合金中氧和氮元素结果的偏差分别为小于10%... 通过优化放电参数,分析质谱干扰,校正相对灵敏度因子(RSF),对高温合金中的氧和氮元素进行测试,并将结果与氧氮氢分析仪检测结果进行比较。结果显示,使用辉光放电质谱仪和氧氮氢分析仪测定高温合金中氧和氮元素结果的偏差分别为小于10%和小于5.0%,且结果稳定性的相对标准偏差小于5.0%。校正后的RSF值可信,测试结果稳定可靠。 展开更多
关键词 辉光放电质谱法 高温合金 氧氮元素测定 RSF校正
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辉光放电质谱法测定合金钢中各元素的相对灵敏度因子 被引量:1
8
作者 汤云腾 《中国测试》 CAS 北大核心 2024年第3期84-89,共6页
采用辉光放电质谱法(GDMS)分析合金钢中元素相对灵敏度因子(RSF),优化放电电流、气体流量和预溅射时间等条件,排除质谱干扰并选定合适同位素。研究不同放电条件对元素RSF的影响,并比较不同基体下RSF的差异。通过合金钢标准样品建立回归... 采用辉光放电质谱法(GDMS)分析合金钢中元素相对灵敏度因子(RSF),优化放电电流、气体流量和预溅射时间等条件,排除质谱干扰并选定合适同位素。研究不同放电条件对元素RSF的影响,并比较不同基体下RSF的差异。通过合金钢标准样品建立回归曲线,获得校正后的相对灵敏度因子(RSF_(steel)),用于定量分析。结果表明,放电气体流量是元素RSF的主要影响因素,轻元素RSF随放电气体流量增加而减小,重元素RSF随放电气体流量增加而增大。合金钢基体下的大部分元素RSF小于其标准RSF,经RSF_(steel)校正的测量值与参考值间的相对偏差低于10%,相对标准偏差(RSD)小于5%,准确度和精密度良好。 展开更多
关键词 辉光放电质谱法 合金钢 相对灵敏度因子
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Systematic evaluation of advance in application and discharge mechanism of solution electrode glow discharge 被引量:2
9
作者 Xiaoxu Peng Zheng Wang 《Chinese Chemical Letters》 SCIE CAS CSCD 2022年第1期61-70,共10页
As a kind of microplasma sustained in air,solution electrode glow discharge(SEGD)ignited between the liquid electrode and metal electrode is attractive to the fields of optical emission spectrometry and mass spectrome... As a kind of microplasma sustained in air,solution electrode glow discharge(SEGD)ignited between the liquid electrode and metal electrode is attractive to the fields of optical emission spectrometry and mass spectrometry due to its unique advantages,such as low power consumption and low carrier gas consumption.Moreover,the complex and efficient reactions in the liquid phase and plasma phase of SEGD make it considerable research potential in the fields of biology and medicine,material synthesis,electrochemistry.Considering the close relationship between the various fields on SEGD,here we are devoted to provide an overview of the development of SEGD in various fields.More importantly,a systematic discussion on the discharge mechanism is conducted based on the research process in various fields for getting deeper insight into the SEGD. 展开更多
关键词 Solution cathode glow discharge Solution anode glow discharge mass spectrometry Optimal emission spectroscopy discharge mechanism
原文传递
辉光放电质谱法对粉状高温合金中14种痕量元素的相对灵敏度因子校正方法探究
10
作者 韩弢 高颂 +3 位作者 张轶波 田悦鸣 张涛 郑松波 《分析测试学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第9期1356-1361,共6页
该文通过辉光放电质谱法(GDMS)对3种不同粒度段FGH96高温合金粉末中14种关键痕量元素的相对灵敏度因子(RSF)进行了系统分析,并首次将不对称电荷转移(ACT)理论应用于镍基高温合金中Mg元素的RSF系数校正。实验结果显示,B、P、S等13种痕量... 该文通过辉光放电质谱法(GDMS)对3种不同粒度段FGH96高温合金粉末中14种关键痕量元素的相对灵敏度因子(RSF)进行了系统分析,并首次将不对称电荷转移(ACT)理论应用于镍基高温合金中Mg元素的RSF系数校正。实验结果显示,B、P、S等13种痕量元素的RSF系数基本不受粉末样品粒度影响,可以使用块状标准物质对其RSF进行修正。通过对不同Mg含量梯度的样品进行考察,对Mg元素的RSF系数提出了校准方案。考虑到基体元素Ni对Mg元素的影响,在准确度要求较高时应根据实际Mg含量高低及粒度段范围建立两套RSF系数进行修正。同时给出了两套RSF系数的参考值,对Mg含量3μg/g平均粒度200目的样品及30~300μg/g平均粒度-80~+120目的样品相应的RSF参考值分别为1.16和0.41。 展开更多
关键词 镍基粉末高温合金 痕量元素 相对灵敏度因子 不对称电荷转移 辉光放电质谱法 粉末粒度
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辉光放电质谱法在无机非金属材料分析中的应用 被引量:32
11
作者 陈刚 葛爱景 +1 位作者 卓尚军 王佩玲 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2004年第1期107-112,共6页
辉光放电质谱法 (GDMS)作为一种固体样品直接分析技术 ,已广泛应用于金属、半导体等材料的痕量和超痕量杂质分析。近年来 ,随着制样方法和离子源装置的改进 ,GDMS同样也能很好地应用于玻璃、陶瓷、氧化物粉末等非导体材料的成分分析。... 辉光放电质谱法 (GDMS)作为一种固体样品直接分析技术 ,已广泛应用于金属、半导体等材料的痕量和超痕量杂质分析。近年来 ,随着制样方法和离子源装置的改进 ,GDMS同样也能很好地应用于玻璃、陶瓷、氧化物粉末等非导体材料的成分分析。简介了GDMS的基本原理和分析特点 。 展开更多
关键词 辉光放电质谱 无机非金属材料 痕量分析 成分分析
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辉光放电质谱法相对灵敏度因子影响因素研究 被引量:11
12
作者 魏兴俭 王丽萍 +2 位作者 秦震 张海路 邓大超 《质谱学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第4期343-350,共8页
本工作研究了辉光放电气体流速、放电电压和放电电流3个主要因素对辉光放电质谱法(GDMS)相对灵敏度因子(RSF)的影响。结果显示,在恒定的放电电流或放电电压下,重元素的RSF随放电气体流速的增大而增大,轻元素的RSF随放电气体流速的增加... 本工作研究了辉光放电气体流速、放电电压和放电电流3个主要因素对辉光放电质谱法(GDMS)相对灵敏度因子(RSF)的影响。结果显示,在恒定的放电电流或放电电压下,重元素的RSF随放电气体流速的增大而增大,轻元素的RSF随放电气体流速的增加略微减小或不变;在恒定的放电气体流速下,多数元素的RSF基本不随放电电流和放电电压改变。在400mL/min放电气体流速下,分别测定了Fe、Co、Ti、Ni、Zn、Sn、Pb 7种不同基体标准物质部分元素的RSF,结果显示,同一元素在不同基体条件下RSF的差异较小,基体效应不明显。将进一步得到的不同基体下的平均RSF应用于2种铜锌合金标准物质元素组分的测定,其主要元素的测定值与标准值的相对百分差均不超过30%。 展开更多
关键词 辉光放电质谱法(gdms) 相对灵敏度因子(RSF) 影响因素
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辉光放电质谱法测定高纯锑中的痕量杂质元素 被引量:16
13
作者 荣百炼 普朝光 +1 位作者 姬荣斌 鲁燕杰 《质谱学报》 EI CAS CSCD 2004年第2期96-99,共4页
采用辉光放电质谱法 ( GDMS)对高纯半导体材料锑中的 Mg、Si、S、Mn等 1 4种痕量杂质元素进行测量。对仪器工作参数进行了优化选择 ,并对杂质浓度与溅射时间的关系、质谱干扰对测量的影响及测量的准确性和重现性进行了探讨。实验表明 :... 采用辉光放电质谱法 ( GDMS)对高纯半导体材料锑中的 Mg、Si、S、Mn等 1 4种痕量杂质元素进行测量。对仪器工作参数进行了优化选择 ,并对杂质浓度与溅射时间的关系、质谱干扰对测量的影响及测量的准确性和重现性进行了探讨。实验表明 :样品经足够长时间的溅射 ,可以消除样品制备和处理过程中的表面污染 ,可以为其它高纯材料的检测提供可靠的科学依据。 展开更多
关键词 高纯锑 痕量分析 杂质元素 辉光放电质谱法 半导体材料
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辉光放电质谱研究与应用新进展 被引量:14
14
作者 苏永选 孙大海 +1 位作者 王小如 杨原 《分析测试学报》 CAS CSCD 1999年第3期82-87,共6页
简要介绍了辉光放电的基本原理,主要概述了过去4年有关辉光放电质谱研究的新进展,包括辉光放电质谱的基础研究,新装置和新方法的发展,以及辉光放电质谱的分析应用。文中最后展望了辉光放电质谱法的发展前景。
关键词 辉光放电 质谱分析 固体样品 直接测量 表面分析
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辉光放电质谱法测定镍锌铁氧体材料中的杂质元素 被引量:10
15
作者 刘宏伟 符靓 +2 位作者 孙爱明 聂西度 胡汉祥 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2015年第9期1366-1370,共5页
建立了辉光放电质谱(GD-MS)法测定镍锌铁氧体中22种杂质元素(Li,Be,Na,Mg,Si,P,K,Ca,Ti V,Cr,Mn,Co,Ga,Sr,Mo,Ag,Cd,Sn,Sb,W,Pb)的分析方法。以铜粉为导电材质,与镍锌铁氧体粉末混合均匀后压片,考察了样品的制备条件以及辉光放电电... 建立了辉光放电质谱(GD-MS)法测定镍锌铁氧体中22种杂质元素(Li,Be,Na,Mg,Si,P,K,Ca,Ti V,Cr,Mn,Co,Ga,Sr,Mo,Ag,Cd,Sn,Sb,W,Pb)的分析方法。以铜粉为导电材质,与镍锌铁氧体粉末混合均匀后压片,考察了样品的制备条件以及辉光放电电流、放电电压、放电气体流量以及预溅射时间等放电参数对分析信号灵敏度和稳定性的影响,通过同位素的选择、质谱中分辨率模式和高分辨率模式的应用消除了质谱干扰,将Fe,Ni,Zn,O和Cu,5种元素的总信号作归一化处理,利用差减法计算获得镍锌铁氧体中杂质元素的含量。研究结果表明,22种待测元素的检出限在0.001~0.29μg/g之间,相对标准偏差为3.5%~18.6%,样品测定结果与采用ICP-MS法分析的分析结果基本一致,表明本方法具有较好的准确度和精密度。 展开更多
关键词 辉光放电质谱法 镍锌铁氧体 杂质元素 铜粉 归一化
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辉光放电质谱新方法分析颗粒状金属铪 被引量:19
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作者 钱荣 斯琴毕力格 +3 位作者 卓尚军 申如香 盛成 干福熹 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2011年第5期700-704,共5页
采用直流辉光放电质谱方法(dc-GD-MS)分析颗粒状(2 mm×1 mm×1 mm)金属铪中的杂质元素。本方法解决金属铪样品尺寸太小难以直接进行辉光放电质谱分析的问题。采用聚四氟乙烯管(内径2.3 mm×外径3.2 mm)与医用注射器连接并... 采用直流辉光放电质谱方法(dc-GD-MS)分析颗粒状(2 mm×1 mm×1 mm)金属铪中的杂质元素。本方法解决金属铪样品尺寸太小难以直接进行辉光放电质谱分析的问题。采用聚四氟乙烯管(内径2.3 mm×外径3.2 mm)与医用注射器连接并密封接口,再将粒状铪置于管子前端(管长的1/3处),接着将PTFE管水平插入已被加热至熔融态的铟中,迅速抽取铟并确保铟与铪紧密连接,实现金属样品的"嫁接",冷却形成新的样品。优化分析条件后,运用dc-GD-MS对金属铪中75种元素进行分析,均能得到较好的检出限、稳定性和重复性。另外,可以对其中32种元素进行半定量分析,均得到较好的结果。结果表明,此种"嫁接"dc-GD-MS方法不仅操作简单、无污染、绿色环保,而且能够达到较好的检出限、稳定性和重复性,适合微小尺寸金属样品的分析。 展开更多
关键词 辉光放电质谱 半定量分析
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直流辉光放电质谱法测定多晶硅中关键杂质元素的相对灵敏度因子 被引量:14
17
作者 刘洁 钱荣 +2 位作者 斯琴毕力格 卓尚军 何品刚 《分析化学》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2012年第1期66-71,共6页
采用直流辉光放电质谱(dc-GD-MS)测定多晶硅中关键杂质元素的相对灵敏度因子(RSF)。标样制作过程中主要是在连续通入氩气条件下将固定量的非标准多晶硅样品熔化,向硅熔体中均匀掺入浓度范围为1~30μg/g的关键杂质元素(如B和P),采用快... 采用直流辉光放电质谱(dc-GD-MS)测定多晶硅中关键杂质元素的相对灵敏度因子(RSF)。标样制作过程中主要是在连续通入氩气条件下将固定量的非标准多晶硅样品熔化,向硅熔体中均匀掺入浓度范围为1~30μg/g的关键杂质元素(如B和P),采用快速固化法制成标样;再将制成的标准样品加工成一系列适合GD-MS扁平池(Flat Cell)的片状样品(20 mm×20 mm×2 mm)。采用二次离子质谱法(SI-MS)对标准样品中关键掺杂元素进行多次定量测定,取平均值作为关键杂质元素的精确含量。优化一系列质谱条件后,运用GD-MS对标样中关键掺杂元素的离子强度进行多次测定,计算平均结果,得到未校正的表观浓度,利用标准曲线法计算出关键杂质元素的相对灵敏度因子。 展开更多
关键词 直流辉光放电质谱 多晶硅 杂质元素 相对灵敏度因子
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高纯钽的辉光放电质谱多元素分析 被引量:25
18
作者 陈刚 葛爱景 +1 位作者 卓尚军 王佩玲 《质谱学报》 EI CAS CSCD 2007年第1期36-39,共4页
采用辉光放电质谱法(GD-MS)同时测定了高纯钽样品中76种元素,比较了两种不同构造放电池的影响。大多数元素的常规分析检测限在1~5ng·g^-1主要金属杂质含量与采用ICP-MS法定量分析的结果一致,这表明GD-MS对高纯钽样品无需标样... 采用辉光放电质谱法(GD-MS)同时测定了高纯钽样品中76种元素,比较了两种不同构造放电池的影响。大多数元素的常规分析检测限在1~5ng·g^-1主要金属杂质含量与采用ICP-MS法定量分析的结果一致,这表明GD-MS对高纯钽样品无需标样的快速分析有较高的准确度。 展开更多
关键词 辉光放电质谱法(GD-MS) 多元素分析
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铜试金预富集-辉光放电质谱法测定贵金属矿样中痕量铂钯铱金 被引量:14
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作者 陈丁文 李斌 +1 位作者 董守安 普朝光 《岩矿测试》 CAS CSCD 2008年第5期329-332,共4页
对利用铜试金预富集后辉光放电质谱法(GDMS)测定贵金属矿样中痕量Pt、Pd、Ir、Au的方法进行了探索性研究。着重考察了铜试金条件的选择和辉光放电电极的匹配、质谱的测定条件和测定方法等。分析结果表明,痕量(μg级)贵金属元素Pt... 对利用铜试金预富集后辉光放电质谱法(GDMS)测定贵金属矿样中痕量Pt、Pd、Ir、Au的方法进行了探索性研究。着重考察了铜试金条件的选择和辉光放电电极的匹配、质谱的测定条件和测定方法等。分析结果表明,痕量(μg级)贵金属元素Pt的含量在1.99~15.0μg,回收率为92.0%~111.9%;Pd的含量在3.15~29.78μg,回收率为88.4%~113.3%;Ir的含量在0.12~0.60μg,回收率为68.3%~100.0%;Au的含量在10.43~24.08μg,回收率为98.9%~127.0%。方法可应用于矿石、矿物及其他物料中痕量贵金属的分析。 展开更多
关键词 铜试金 辉光放电质谱法 贵金属 矿样
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辉光放电质谱分析技术的应用进展 被引量:14
20
作者 余兴 李小佳 王海舟 《冶金分析》 CAS CSCD 北大核心 2009年第3期28-36,共9页
简单介绍了辉光放电质谱(GDMS)的基本原理。对辉光放电质谱在块状金属、半导体、非导体、溶液、气体和深度分析方面的应用进行了综述。块状金属和半导体的痕量元素分析为GDMS主要的应用,它们的研究报道众多;对非导体材料的分析扩宽了GDM... 简单介绍了辉光放电质谱(GDMS)的基本原理。对辉光放电质谱在块状金属、半导体、非导体、溶液、气体和深度分析方面的应用进行了综述。块状金属和半导体的痕量元素分析为GDMS主要的应用,它们的研究报道众多;对非导体材料的分析扩宽了GDMS的应用范围;同时尝试采用GDMS对溶液和气体样品进行分析;GDMS作为一种重要的深度分析方法,相关的应用迅速增加。最后展望了辉光放电质谱的发展趋势。 展开更多
关键词 辉光放电质谱 应用 进展
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