循环电载荷下大功率LED金引线疲劳断裂寿命预测

随着大功率发光二极管(LED)在照明领域的普及与广泛应用,可靠性逐渐成为研究的重点。大功率LED封装器件中金引线疲劳断裂失效一直是制约其可靠性的重要因素。通过针对大功率LED封装器件中的金引线力学仿真与功率循环试验相结合的方法,首先确定循环电载荷条件下该型LED的主要失效原因为金引线疲劳断裂,其次提出基于电流加速模型的加速因子提取方法和基于应变幅值的Coffin-Manson解析寿命预测方法,最终完成对LED金引线疲劳断裂寿命的预测和试验验证。研究结果表明:所提方法具有较高的寿命预测精度,可以满足大功率LED封装器件可靠性快速、准确评估的要求。

键合金丝断口分析

用扫描电镜和X射线能谱仪分析研究了半导体器件键合用金丝的断口。结果表明,金丝正常断口呈圆锥状,其缺陷断口有:外环层状断口、裂口、气孔、异金属夹杂、非金属夹杂、偏心、菠萝状断口、无塑性平断口等。国产键合金丝生产中拔丝断头过多,主要是由于气体、夹杂和毛坯表面粗糙等造成的。合理调整成份,采取措施切实提高冶金质量(净化金液、降低含气量、提高铸坯和粗丝表面质量等),是提高国产金丝质量和性能的关键。

单轴摆式加速度计输出异常的故障分析

针对某型单轴摆式加速度计在使用过程中出现的电压输出异常典型故障问题进行理论分析,利用故障树综合性分析方法,层层追踪分析,表达出输出电压出现异常故障内在联系,直观指出单元故障与整体故障之间的逻辑关系,切实归纳总结了工程运用中实际遇到的单轴摆式加速度计输出电压异常故障问题。而后对故障原因进行精确细致定位,提出振荡器电路中的D4二极管正极金丝断裂为此型号加速度计故障根本原因,融入电路金丝断裂机理分析法,并通过试验测试与改进措施方式验证了此故障分析的准确性,一定程度上提升了加速度计可靠性。研究成果可以为加速度计可靠性使用提供一定参考。

金丝生产中的断口分析

通过断口分析,讨论金丝在拉制过程中断裂的主要原因,并提出改进生产工艺的有益意见。

金线断口的分析

运用扫描电子显微镜技术，对金线断口观察分析，讨论金线在拉伸过程中断裂时断口形貌及断裂的原因，发现，断裂是由于金锭中的气体和杂质引起的，并提出改进生产工艺的意见。

球焊金丝产生断裂的原因及改善加工性能的途径

对金丝生产中经常出现断头现象进行研究分析，通过扫描电子显微镜在内的检测技术提供三维影响立体图形，探讨微细金丝拉伸中产生断裂的原因，找出减少断头次数提高成材率的冶金因素及方法。